Imię i nazwisko
|
Ćwiczenie nr 07
Pomiar e/k |
||
Kierunek i rok
Fizyka Mag. Uzup. I |
Ocena z odpowiedzi |
Ocena ze sprawozdania |
Ocena końcowa |
Prowadzący ćwiczenia
|
|
|
|
CZĘŚĆ TEORETYCZNA
Półprzewodniki i ich własności elektrofizyczne
Są to ciała stałe o przewodności właściwej mniejszej niż w metalach, a większej niż w izolatorach (10-8 do 108 S/m). Ich przewodnictwo zależy od rodzaju oraz ilości domieszek, od struktury materiału oraz warunków zewnętrznych tj. temperatura, oświetlenie, pole elektryczne i magnetyczne.
Struktura pasmowa półprzewodników:
Półprzewodnik składa się z pasma walencyjnego(pasmo całkowicie zapełnione), które jest oddzielone od pasma przewodnictwa (pasmo całkowicie puste) pasmem wzbronionym, w którym szerokość przerwy energetycznej Eg jest mała.
Wyróżniamy dwa rodzaje półprzewodników:
Półprzewodniki jonowe ( prąd jest przenoszony przez jony materiału, w wyniku, czego skład i struktura przewodnika zmienia się przy przepływie przez niego prądu elektrycznego)
Półprzewodniki elektronowe (prąd jest przenoszony przez elektrony w wyniku, czego nie dochodzi do przenoszenia materiału przy przepływie, co prądu)
Rozróżniamy również:
Półprzewodniki samoistne (przewodnictwo zależy tylko od liczby elektronów przeniesionych z pasma walencyjnego do pasma przewodnictwa)
Półprzewodniki domieszkowe(przewodnictwo zależy od ilości i rodzaju domieszek, które albo dostarczają elektronów do pasma przewodnictwa
-donor albo wychwytują elektrony z pasma walencyjnego-akceptory)
Zjawiska kontaktowe (złącze p-n)
Złącze p-n jest to obszar półprzewodnika utworzony przez dwie graniczące ze sobą warstwy typu p i typu n. Złącze p-n uzyskuje się przez odpowiednie rozmieszczenie domieszek donorowych i akceptorowych. Domieszki wprowadza się w obszar złącza głównie metodą dyfuzyjną. W wyniku dyfuzji powstaje ładunek przestrzenny: po stronie obszaru typu p powstaje ładunek ujemny(odpłynęły dodatnie dziury a przybyły z obszary typu n ujemne elektrony) a po stronie obszaru typu n ładunku dodatnie(odpłynęły elektrony, przybyły dziury)
Obszar ładunku przestrzennego powstającego w strefie przejścia nazywa się warstwą zaporową. Rozwarstwienie ładunku w strefie przejścia powoduje powstawanie pola elektrycznego i tzw. bariery potencjału, która przeciwdziała dyfuzji nośników, wywołując odpowiednie przeciwnie skierowane pole elektryczne.
Elektronowe procesy na powierzchni
Zjawisko fotowoltaiczne.
Jest to powstawanie siły elektromotorycznej w oświetlonych złączach półprzewodnikowych p-n oraz złączach metal-półprzewodnik. SEM z złączach p-n powstaje w wyniku rozsunięcia przez silne pole elektryczne istniejących w złączu p-n par elektron-dziura, które są generowane światłem w obszarze złącza. Nośniki mniejszościowe (dziury w części złącza typu n i elektrony w części typu p) przemieszczają się do obszaru sąsiedniego w złączu na skutek przyciągania przez istniejący w nim ładunek przestrzenny. W wyniku tego procesu ustala się nowy stan równowagi termodynamicznej w złączu, a na jego końcach jest generowane tzw. napięcie fotowoltaiczne. Podobny proces zachodzi w złączu prostującym metal-półprzewodnik, gdzie na skutek absorpcji światła elektrony z metalu przechodzą do półprzewodnika, ładując go ujemnie.
Zjawisko fotoelektryczne.
Fotoelektryczne zjawisko zewnętrzne
W normalnych warunkach elektron nie może opuścić metalu. Musi on pokonać barierę potencjału metal-powietrze, na co potrzebna jest pewna energia. W zjawisku fotoelektrycznym energii tej dostarczają fotony. W zjawisku fotoelektrycznym zewnętrznym uwalniają one elektrony, które nazywamy fotoelektronami. Kwant światła o energii h, padając na metal, oddaje swą energię jednemu tylko elektronowi. Energia ta rozdziela się na pracę wyjścia, niezbędną do pokonania bariery potencjału , oraz energię kinetyczną.
h =
mv2
równanie to nazywamy równaniem Einsteina. Wynika z niego, że istnieje energia progowa i odpowiadająca jej częstość p, dla której energia kwantu jest równa pracy wyjścia hp =
Dla częstości niższych od p zjawisko fotoelektryczne nie występuje. Dla większości metali p leży w nadfiolecie i w świetle widzialnym zjawisko nie zachodzi. Wyjątek stanowią metale alkaiczne.
Fotoelektryczne zjawisko wewnętrzne
W przypadku zjawiska fotoelektrycznego wewnętrznego kwanty światła przenoszą elektrony z pasma walencyjnego do pasma przewodnictwa, w skutek, czego wzrasta przewodnictwo właściwe. Zjawisko to występuje tylko dla częstości wyższych od pewnej granicy p , dla której energia kwantu jest równa szerokości pasma wzbronionego E. Zachodzi również zjawisko przeciwne zwane rekombinacją. W wyniku obydwóch procesów ustala się równowaga dynamiczna, w której liczba dodatkowych nośników zależy tylko od liczby powstających nośników, czyli od oświetlenia.
Wpływ temperatury na przewodnictwo elektryczne półprzewodników
Jednym z najważniejszych czynników decydujących o przewodności półprzewodników jest temperatura. W półprzewodnikach samoistnych w temperaturze zera bezwzględnego nie ma elektronów przewodnictwa. Pojawiają się one w miarę wzrostu temperatury, gdyż niektóre elektrony z pasma walencyjnego otrzymują energię wystarczającą do przejścia przerwy energetycznej Eg. Można wykazać, że półprzewodnik samoistny w temperaturze T K ma przewodność elektryczną właściwą γ zależny wykładniczo od temperatury:
γ = γ e-Eg/2kT
gdzie:
γ to współczynnik o wartości 10 5
k to stała Boltzmana
Dla półprzewodników domieszkowych charakterystyczne są energię aktywacji o wartościach E1 lub (Eg-E2). Wyrażenie na całkowitą przewodność elektryczna γt:
γt = γ e-Eg/2kT + γ e-Eg/2kT
Gdzie składnik pierwszy dotyczy przewodności samoistnej, drugi zaś przewodności domieszkowej. Wraz ze wzrostem temperatury stopniowo coraz większą rolę zaczyna odgrywać przewodnictwo samoistne. Przy pewnej temperaturze kończy się wpływ atomów na zjawisko przewodzenia prądu.
Zasada pomiaru e/k
Korzystamy z zależności IC = I0 exp (eUEB/kT)
IC = I0 e (e U /kT)
ln IC = lnI0 e/k UEB/T
y = b a x
CZĘŚĆ PRAKTYCZNA
W celu wykonania ćwiczenia dokonuje pomiarów zależności prądu kolektora Ic od napięcia emiter-baza w zakresie 0,45-0,70 V co 0,02 V w temperaturach 20o, 30o, 40o, 50o.
Dla każdej temperatury zdejmuje dwukrotną krzywą przy zwiększaniu napięcia emiter-baza i dwukrotnie przy zmniejszaniu tego napięcia. Uzyskane wyniki umieszczam w protokole.
Korzystając z zależności IC = I0 exp (eUEB / kT) wykonuje dla wszystkich temperatur wykres ln IC = f ( UEB/T), korzystając z metody regresji liniowej.
Korzystamy z zależności IC = I0 exp (eUEB/kT)
IC = I0 e (e U /kT)
ln IC = lnI0 (ek/ UEBT)
y = ln IC
x = UEB / T
a = (e/k) lnIo
Korzystam ze wzorów
a = (yixi - nxiyi)/((xi)2 - nxi2)
b = (yi - axi)/n
_____________________________________
Sa = √ n[yi2 - axiyi- byi]/(n-2)[nxi2 - (xi)2]
_____________
Sb = √ (1/n)*Sa2*xi2
T [o] |
X |
Y |
X2 |
Y2 |
xy |
20 |
0,0225 |
1,25 |
0,000506 |
1,562 |
0,0281 |
|
0,0235 |
1,79 |
0,000552 |
3,204 |
0,0420 |
|
0,0245 |
2,56 |
0,0006 |
6,553 |
0,0627 |
|
0,0255 |
3,35 |
0,00065 |
11,222 |
0,0854 |
|
0,0265 |
4,13 |
0,000702 |
17,056 |
0,1094 |
|
0,0275 |
4,93 |
0,000756 |
24,304 |
0,1355 |
|
0,0285 |
5,62 |
0,000812 |
31,584 |
0,1601 |
|
0,0295 |
6,48 |
0,00087 |
41,990 |
0,1911 |
|
0,0305 |
7,21 |
0,00093 |
51,984 |
0,2199 |
|
0,0315 |
8,01 |
0,000992 |
64,160 |
0,2523 |
|
0,27 |
45,33 |
0,0729 |
253,623 |
1,2869 |
30 |
0,015 |
1,252 |
0,000225 |
1,5694 |
0,0187 |
|
0,0156 |
2,079 |
0,000245 |
4,3240 |
0,0325 |
|
0,0163 |
2,890 |
0,000267 |
8,3542 |
0,0472 |
|
0,017 |
3,701 |
0,000289 |
13,699 |
0,0629 |
|
0,0176 |
4,499 |
0,000312 |
20,248 |
0,0794 |
|
0,0183 |
5,323 |
0,000336 |
28,334 |
0,0975 |
|
0,019 |
6,086 |
0,000361 |
37,048 |
0,1156 |
|
0,0196 |
7,130 |
0,000387 |
50,849 |
0,1402 |
|
0,0203 |
7,740 |
0,000413 |
59,917 |
0,1573 |
|
0,159 |
40,705 |
0,0252 |
1656,9 |
6,4721 |
|
0,0112 |
1,945 |
0,000127 |
3,786 |
0,0218 |
|
0,0117 |
2,803 |
0,000138 |
7,858 |
0,0329 |
|
0,0122 |
3,610 |
0,00015 |
13,038 |
0,0442 |
|
0,0127 |
4,424 |
0,000163 |
19,579 |
0,0564 |
|
0,0132 |
5,233 |
0,000176 |
27,392 |
0,0693 |
|
0,0137 |
6,028 |
0,000189 |
36,340 |
0,0828 |
|
0,0142 |
6,956 |
0,000203 |
48,393 |
0,0991 |
|
0,0147 |
7,649 |
0,000218 |
58,517 |
0,1128 |
|
0,104 |
38,653 |
0,0108 |
1494,08 |
4,0199 |
T [o] |
X |
Y |
X2 |
Y2 |
xy |
50 |
0,009 |
3,0204 |
0,000081 |
9,122 |
0,0271 |
|
0,0094 |
3,8177 |
0,000088 |
14,574 |
0,0358 |
|
0,0098 |
4,5798 |
0,000096 |
20,975 |
0,0448 |
|
0,0102 |
5,3351 |
0,000104 |
28,463 |
0,0544 |
|
0,0106 |
6,0867 |
0,000112 |
37,048 |
0,0645 |
|
0,011 |
6,9847 |
0,000121 |
48,786 |
0,0768 |
|
0,0114 |
7,6962 |
0,000129 |
59,231 |
0,0877 |
|
0,0714 |
37,5208 |
0,005097 |
1407,812 |
2,6789 |