SprawkoWMIv2, AGH IMIR MiBM rok IV 4, egzamin logistyka michlowicz

Pobierz cały dokument
sprawkowmiv2.agh.imir.mibm.rok.iv.4.egzamin.doc
Rozmiar 852 KB

Fragment dokumentu:

Sprawozdanie z przedmiotu:

Współczesne materiały inżynierskie

Temat:

Analiza deformacji i pękania cienkich powłok

ceramicznych TiN i wielowarstwowych Ti-TiN.

Opracowali:

Radosław S????k

Rafał Przybytek

Mateusz Wójcikiewicz

Radosław Sz???

Piotr Sułek

Piotr Jarocha

Grzegorz Szczyp??

Piotr Stopich ??

Jarosław Wandas

Grzegorz Ślusarczyk

Gr. 2 rok I (mgr) WIMIR

Studia niestacjonarne

  1. Cel ćwiczenia

Celem ćwiczenia jest porównanie właściwości mikromechanicznych cienkich powłok TiN oraz wielowarstwowych Ti-TiN na drodze wyznaczania krzywych wgłębnikowych i analizy zdjęć odcisków.

  1. Opis stanowiska badawczego

    1. Schemat ogólny stanowiska

0x08 graphic

Rys. 1 Schemat stanowiska badawczego

    1. Zasada działania MCT

0x08 graphic
0x08 graphic
Mikro-Combi-Tester szwajcarskiej firmy CSEM jest precyzyjnym urządzeniem przeznaczonym do wyznaczenia mikromechanicznych właściwości materiałów oraz cienkich warstw. MCT spełnia wymagania norm ASTM dotyczących mikrotwardościomierzy. Jest wyposażony w system zbierania i archiwizacji wyników pomiarowych.

Urządzenie umożliwia m.in.:

  • wyznaczenie twardości i modułu Younga miękkich, twardych, kruchych oraz ciągliwych materiałów,

  • wykonanie scratch-testu - testu zarysowania.

Właściwości mikromechaniczne są wyznaczane na podstawie odkształcenia materiału w wyniku wgłębnikowania próbki wgłębnikiem, do którego przyłożone jest określone obciążenie. Wartość siły obciążającej i głębokości penetracji ostrza wgłębnika są rejestrowane w sposób ciągły w czasie całego cyklu (obciążania i odciążania).
Na podstawie wykreślonej krzywej obciążenia vs. przemieszczenia są wyznaczane takie właściwości jak: twardość, moduł Younga, czas pełzania, odporność na kruche pękanie. Stosując minimalne siły obciążające wgłębnik, możliwe jest wykonanie pomiaru na głębokościach 1-2 μm, co jest szczególnie istotne podczas badania cienkich warstw gdzie należy wyeliminować wpływ podłoża na wyznaczane właściwości.

Parametry urządzenia:

  • rodzaje wgłębników: Vickers - kąt piramidy 136o,

Berkovich - kąt piramidy 65o,

  • zakres nastawy siły obciążającej wgłębnik: 0,02 ÷ 30 [N],

  • dokładność pomiaru głębokości penetracji: 0,3 nm,

  • dokładność pomiaru siły obciążającej wgłębnik: 0,15 mN


    Pobierz cały dokument
    sprawkowmiv2.agh.imir.mibm.rok.iv.4.egzamin.doc
    rozmiar 852 KB
    Wyszukiwarka

    Podobne podstrony:
    T-01-tarcie polimerow, AGH IMIR MiBM rok IV 4, egzamin logistyka michlowicz
    egzamin pnom, AGH - IMIR - IMIM, I ROK, PNOM
    Podstawy nauki o materiałach-egzamin-1, AGH - IMIR - IMIM, I ROK, PNOM
    zagadnienia do egzaminu-prof. Pęcherski, AGH, IMIR, II rok, Wytrzymałość materiałów, Wytrzymałość Ma
    Sprawko B, AGH - IMIR - IMIM, III ROK, Biomateriały, MES
    5 sprawko, AGH IMIR Mechanika i budowa maszyn, II ROK, Metrologia Tyka Haduch, fwdmetrologiaparti
    pnom sprawko, AGH Imir materiały mix, Studia
    Pytania gradkowski, AGH-IMIR, II rok
    Zgniot i rekrystalizacja, AGH IMIR MIBM, Semestr II, PNOM Sprawozdania
    pnom sprawko (1), AGH Imir materiały mix, Studia
    Spr - Wyodrębnianie Kofeiny, AGH - IMIR - IMIM, I ROK, Chemia organiczna
    sprawozdanie matach, AGH-IMIR, II rok
    termocw3sprawko, AGH-IMIR, II rok
    Spr - krystalizacja, AGH - IMIR - IMIM, I ROK, Chemia organiczna
    Maziarz-tabele, AGH IMIR MiBM, PKM

    więcej podobnych podstron

kontakt | polityka prywatności