1

ćw 5. Pomiary współrzędnościowe przy zastosowaniu wysokościomicrza cyfrowego Pojecie wzorca długości Rodzaje i zasada działania wzorców długości Konstrukcja wysokościomicrza a postulat Abbe'go. Kalibracja końcówek pomiarowy ch-do czego służy Zasada działania wysokościomicrza cyfrowego

Zagadnienia do opracowania

wzorce absolutne i przyrostowe (inkrementałne) stosowane we współczesnych przyrządach pomiarowych: rodzaje i zasada działania,

schemat budowy i zasada działania wysokościomicrza cyfrowego, sposoby postępowania przy realizacji zadań pomiarowych ID i 2D

ćw. 6 Nadzorowanie narzędzi pomiarowych

Postulat Abbego. Odmiany konstrukcyjne długościomierzy Odmiany konstrukcyjne mikrometrów. Źródła błędów przy pomiarach mikrometrami. Parametry kontrolowane w mikrometrach. Nadzorowanie narzędzi pomiarowych. Cel i zakres nadzorowania

Zagadnienia do opracowaliia

-    Cel i zakres nadzorowanie narzędzi pomiarowych

-    Postulat Abbego

-    Schemat długościomierza poziomego, w łasności metrologiczne.

-    Błędy podlegające kontroli w mikrometrach

ćw. 7 Pomiary współrzędnościowe parametrów geometrycznych elementów mcchatronicznych

Metody optyczne pomiarów. Pow iększenia stosowane w mikroskopach warsztatowych Zasada działania fotołinijki i kamery CCD. Wady układów optycznych: abcracja sferyczna i chromatyczna, astygmatyzm i dystorsja

Zagadnienia do opracowa n i a Metody optyczne pomiarów

Odmiany konstrukcyjne mikroskopów warsztatowych i ich podstawowe parametry metrologiczne. Wady układów optycznych, aberacja sferyczna i chromatyczna, astygmatyzm i dystorsja.

ćw . 8 Statystyczne sterów unie procesem produkcji (SPC)

Idea kontroli statystycznej Karty kontrolne Shewharta. Typy kart kontrolnych. Zasady pobierania próbek. Charakterystyka przebiegów regulacyjnych na karcie kontrolnej; RUN (passa). TREND (tendencja). MIDDLE THIRD (środkowa 1/3). Metody obliczania kart kontrolnych Wskaźniki zdolności procesów produkcyjnych: cp. cpk. wzory i interpretacja.

Zagadnienia do opracowania

opisać kartę kontrolną dla metody x- R, opisać wskaźniki zdolności procesu cp. cpk. scharakteryzować pojęcia: TREND, RUN. MIDDIE THIRD

ćw. 9 Badanie zdolnością systemów metodą „R&R” (Powtarzalność i Odtw arzalność)

Pojęcie systemu pomiarowego. Dokładność, powtarzalność i odtwarzalność pomiarów Odmiany metody R&R Postępowanie przy realizacji tych odmian, interpretacja wyników. Wskaźniki zdolności przyrządów pomiarowych i systemów pomiarowych.

a

Zadania do opracowania

-    Definicje parametrów zdolności przyrządów C* i i systemów pomiarowych C,_M C,*

-    Podstawowe rodzaje metody R&R (Ford-Typc-1, Ford-Typc-2 w wersji uproszczonej. Ford-Typc2 w wersji pełnej)

-    Definicje dokładności, powtarzalności, odtwarzalności pomiaru i przy rządu pomiarowego

UWAGA ! Podany zakres nie jest zbiorem pytań. Pozwala na bliższe określenie tematyki zawartej w nazw ie ćw iczenia i ma za cel ułatw ienie zbierania informacji wymaganych do zaliczenia ćwiczenia.