img014

14!

Ponieważ pędzący olektron Jest taatnowauy w różnym scopniu na onouzio otrzymano widno pronioniowania r.a charakter ciągły. Wartość długości fali oki*eślona zależnością (C) jest minimalna długością fali przy danym napięciu przyspieszajacyn. Intensywność promieniowania ologłeco Jest proporcjonalna do liczby* atomowej pierwiastka i z- togo względu korzystni? Jest wykonywanie anody z metali ciężkich, np. wolframu.

Sprawność lampy rentgenowskiej Jest niewielka i wynosi 1 do 2',». Pozostała część energii zamienia się na ciopło i wskutek tego zachodzi konieczność chłodzenia anody lampy. V skład aparatury służącej do wytwarzania promieni X, oprócz lampy rentgenowskiej wohodzl blok wysokiego napięcia, zapowninjocy napięeio robocze w granicach tOO do 500 kV.

W defektoskopii rentgonowskioj wykorzystuje się najczęścioj promio-niowunie o długości fali 0,1 do 0,05 X.

Do badania motali za pomocą promieni X wykorzystujo się następująco ich właściwości!

a)    promienie X przenikają przez materię zależnie od rodzaju materii i długości promieniowania,

b)    wywołują zjawiska fotochemiczno, powodujaoe zaczernienie kliszy fotograficznoj.

Podczas przenikania promieni X przez mntorię następuje osłabienie intensywności togo promieniowania. Zależność tę można wyrazić wzorem:

^Jx =

rt^-.Lc: J - natężenie promieniowania po przejściu przoz materiał o gxn»-bości x,

J_Q - początkowe natężenio promieniowania, x - grubość przedmiotu przoświotlanogo, p - liniowy współozynnil. absorboji, e - podstawa logarytoów naturalnych.

Liniowy współczynnik absorboji oharakteryzuje właściwości prześwietlanego materiału i można go wyrazić wzorem:

p = k.p.Z³.*³    (8)

gdzie: k - stała,

Q - gęstość materiału,

Z - llozba atomowa,

X - długość fali promieniowania X.

Jak widać z powyższogo, osłabienie promieni X przy przojśeiu przez materiał jest tym większe, im większa Jost gęstość badanego materiału, im wyższa liozba atomowa oraz im większa jost długość fali promieniowania.