IMGW05

14

14

liii

(2.3)

K_y - miara blokowania dyslokacji przez granice ziaren, d - rozmiar ziarna.

Charakteryzując proszki, a w szczególności materiały nanokiystaliczne, należy cić uwagę na techniki pomiarowe umożliwiające ocenę wielkości ziaren Niestosowane do pomiaru wielkości ziaren powyżej OJ pm (metoda sitowa, e-scdymcntacyjna) nie znajdują w tym przypadku zastosowania 113, 14) Wici-krystalitów można określić techniką dyfrakcji promieni X są to metody Scherrcra i Halla (1] oraz techniką transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM)[9j.

Zależność Scherrcra jest następująca (rys. 2 5) [l|:

dcOS0„

gdzie:    d - średnica cząstki krystalicznej.

B - poszerzenie linii dyfrakcyjnej mierzone w połowie jej maksymalnego natężenia (w radianach),

X - długość fali promieniowania rentgenowskiego.

20. _ kąt ugięcia wiązki promieniowania odpowiadający maksimum braggowskiemu.

’ róv

I B < zni ^: wit

ele nie ^r roz pró

sta

2©h    20*

R>v 2 5. Zasada określania wielkości krola* litów metodą Scherrcra

13.

Natomiast metoda Halla uwzględnia rozdzielenie poszerzenia fizycznego linii dyfrakcyjnej B. na składowe B* i B., zależne odpowiednio od wielkości krystalitów i od zniekształceń sieciowych Zakłada ona, ze:

i kor no\ Za ^r: fot( 5 cją * tyci dłu

	(2.4)
r< hć II cc	05)
D^cosB,
^b*^=(t)^4,80b‘	06)

gdzie: B* - szerokość refleksu, zależna od wielkości krystalitów.