d) elektroda zapewni taka sama wartość SEM prz> 1000 krotnic mniejszym stężeniu
jonów przeszkadzający ch B w stosunku do jonów oznaczanych A 10. Współczynnik nachylenia krzywej kalibracyjoej E = E# ± S log |AJ
1. granica wykrywalności elektrody jonoselektywnej
2. miara selektywności elektrody jonoselektywnej
3. czułość elektrody jonoselektywnej
4. miara odchylenia punktów od prostoliniowego przebiegu krzywe: kalibracyjncj U. Zależnołć potencjału elektrod) jonoselektywnej A od aktywności jonu a, jest opisana
równaniem E lmV| * 220 -59lo*(a. - 10\ rai dla tetrody B równaniem F.|mV| - 330 * 29.5lotfa - 10*). Wskaż /danie prawdziwe:
a) elektroda A ma większa czułość i wyższy limit detekcji
b) elektroda A ma większa czułość i niższy limit detekcji I
c) elektroda A ma mniejsza czułość i wyższy limit detekcji
d) elektroda A ma mniejszą czułość i mZszy limit detekcji y
12. Wynikiem anali/\ wnltampcrometrycznej jest rcjotrowans w postaci fali lub
piku woltampcro^ram. Jest to:
a i /alcznosć micrznocgo prądu dyfuzyjnego od stężenia jj||||
c) zale/noiC potencjału elektrody wsi amft owej (siły elektr
d) zależność przewodnictwa elektrycznego od stężenia
od stężenia
h) /alc/nosc mierzonego prądu dyfuzyjnego od napięcia polaryzującego 'J
>\iU»nal ..M. . ' analizy
»..lumpcr.v-x..-; i .- ...-j- wr .. . :c -> y IV, < ml hurfmyj