16

0

Statystyczne sterowanie procesami

<?ł‘

•¹ \ \    i_x;, •«*

Na karcie tej prowadzi się (wykreśla) dwa wykresy. Pierwszy z nich prezentuje wartości średnie w poszczególnych próbkach pobranych do badania. Położenie każdego wykreślanego punktu wynika z obliczonej

^    " 'i f-

wartości średniej w próbce. Drugi wykres pokazuje rozproszenie w poszczególnych próbkach, wyrażane obliczaną wartością rozstępu. Karta ta uwzględnia więc obie istotne miary położenia rozkładu normalnego danych: miarę położenia i zmienności.

i •    *    y ■    ,    •    . •

*

Wzory, które są wykorzystywane przy prowadzeniu karty X - R, przedstawiono na rysunku 5.1.

Górna granica kontrolna

UCL = X + A,R

Punkt

m

X

IX

_v_I*

CL = X =

n

Dolna granica kontrolna

LCL = X-A„R

Górna granica kontrolna

UCL = D, R

Punkt

R

-_B-X5

R = X -X

max

CL=R =

LCL=D,R

Dolna granica kontrolna

Rys. 5.1. Wzory dla karty kontrolnej X -R

9    • • '

Objaśnienia do wzorów:

X

n

X

k

^2» D3> &4

R

R

X_f X

max

min

-    wartość średnia,

-    liczność próbki,

-    wartość średnia z wartości średnich,

-    liczba próbek,

-    współczynniki statystyczne (dobierane z tablicy IV),

-    rozstęp,

-    wartość średnia z rozstępów w próbkach,

V /    ™    '    •    ./,!    .«    *    , . ,    ...

-    wynik największy w próbce,

-    wynik najmniejszy w próbce.

Na karcie X - R (jak już napisano) rysuje się dwa wykresy, które zostaną opisane poniżej.

90