16

Statystyczne sterowanie procesami

mm

Histogram średnich

ŚREDNIA BI

X-śr. śred:15,0038 (15,0038) Sigma proc.:,028312 C026312) n:9

15.0321 15,0038 14.9755

Próbki

Licznosc

Histogram odch. std

O.06O p—

O.O50 jg........i..........4-

0,040

IZMgm

0.010    i.

0.000 ta ...... ■

Odch.std. Śred.,027443 C027443) Sigma:,006960 C006960) n:9

.027443

.008563

Próbki

Licznosc

Rys. 5.22. Karta X -S - pakiet STATISTICA

5.4. Karta kontrolna IX-MR

Większość kart kontrolnych zakłada, że do badania pobierana jest

•    •*    v;.. ' -    '    •■*'•    <    ,*• ••■    •:■■■■    •' .    V ,    ••    •    . s •_    -•••    * r‘    '•    ;    •    ^!    ■    *

pewna kilkuelementowa próbka. Niestety nie zawsze jest to technicznie lub ekonomicznie uzasadnione. Czasami, z uwagi na to, że badanie jest czasochłonne lub kosztowne (np. przy badaniach niszczących), nie można sobie pozwolić na skontrolowanie więcej niż jednego wyrobu. -    - —    --------

Stosowanie pojedynczych pomiarów ma jeszcze jedno uzasadnienie. Otóż karty kontrolne X-R, X-S i inne tego typu zakładają, że właściwości wyrobów w próbce nie są ze sobą skorelowane. Oznacza to, że jeżeli mamy w próbce np. pięć wyrobów, to ich parametry nie mają na siebie wpływu i żaden z nich nie wynika z innych. Taki warunek nie jest spełniony przy sterowaniu m.in. procesami ciągłymi. Monitorując np. zmiany temperatury w piecu hutniczym, nie można pobierać kilkuelementowej próbki (tzn. mierzyć temperatury w kilku miejscach) i kontrolować zachowanie się wartości średniej na karcie X-/?. Temperatura w różnych miejscach pieca będzie do siebie bardzo podobna, a co ważniejsze - temperatury te będą ze sobą skorelowane (będą od siebie zależne). W związku z tym bardzo małe będą rozstępy w poszczególnych próbkach, co znacznie zawęzi granice kontrolne na karcie wartości średnich, a w związku z tym