15

SScs*

plillpg

Statystyczne sterowanie procesami

Wykreślane

próbkach.

są wartościami

średnimi

w poszczególnych

Linia centralna

0,708

0,028

Górna granica kontrolna

1,716 0,028

0,048

Dolna granica kontrolna

0,008

LCL = B, S = 0,284 • 0,028

Wykreślane punI próbkach.

Karta kontrolna

są odchyleniami standardowymi w kolejnych

Po obliczeniu położenia granic kontrolnych i linii centralnych oraz sprawdzeniu normalności rozkładu zebranych wyników można wykreślić kartę kontrolną (rys. 5.20).

Wartości średnie

15,024 14,997 14.969

8    9    10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

Numer próbki

Odchylenia standardowe

2    3    4    5    6    7    8    9 10 11 12 13 14 15

Numer próbki

/s. 5.20. Karta kontrolna X-S dla procesu produkcji nakrętek

Jak wynika z pobieżnej analizy otrzymanych wykresów, proces możemy uznać za statystycznie uregulowany. Żaden z wykreślonych punktów nie wykracza poza granice kontrolne, nie widać też żadnych