S& UiA* * •/»*•
,Q
r
,<»•
11
s2
r
Statystyczne sterowanie procesami
Karta X-S ma oczywiście także a raczej niedogodności.
Pierwszą z nich jest konieczność stosowania dużych próbek. Może to być w niektórych przypadkach kosztowne - kosztują przecież pomiary, a dokładniej czas zużyty na zmierzenie większej liczby wyrobów. Poważną barierą w stosowaniu tego typu kart kontrolnych są również stosunkowo skomplikowane --obliczenia. Bez wykorzystania komputera lub chociaż dobrego kalkulatora trudno będzie mówić o sprawnym prowadzeniu wykresu odchylenia standardowego. Ponieważ jednak komputeryzacja coraz szybciej wkracza do polskich przedsiębiorstw, omawiana karta może mieć coraz większe zastosowanie przy sterowaniu procesami.
Przy stosowaniu karty X - S trzeba pamiętać o spełnieniu kilku warunków:
• dane muszą mieć rozkład normalny,
• za pomocą jednej karty może być nadzorowany tylko jeden
parametr, chcąc mierzyć i monitorować kilka właściwości wyrobu, należy prowadzić kilka kart kontrolnych,
• należy zmierzyć co najmniej 20-25 próbek, zanim obliczy się
i wykreśli granice kontrolne i linię środkową,
• próbki muszą mieć stałą i dużą liczność.
TF
lit
I
108
•• • . 2■■■ > ■ t‘.v< ■ - ' Iat!
• % Wm
Przykład 5.8
# ,, •. t
. . f: V 2 2 .2• - 2 V •. >:;2 2 •• >
W przedsiębiorstwie produkującym nakrętki do śrub zdecydowano się na wykorzystanie karty kontrolnej Y-S do monitorowania parametru, którym jest zewnętrzna szerokość nakrętki. Jest to parametr bardzo istotny, gdyż zbyt szerokie nakrętki nie będą
*•'».• e • 2 —
pasowały do klucza, zbyt wąskie będą miały luz i szybciej się zniszczą. W sterowanym procesie zakładana (idealna) szerokość sześciokątnej nakrętki powinna wynosić 15 mm. Ponieważ kontrola jest bardzo prosta, tania i szybka (dysponujemy suwmiarką elektroniczną) zdecydowano się właśnie na kartę Y-S i na pobieranie próbek o liczności 10 sztuk każda. Wyniki pomiarów przedstawiono w tabeli 5.2.