13

13



S& UiA* * •/»*•

,Q


r


,<»•


$51 2'


11


s2

r


Statystyczne sterowanie procesami

Karta X-S ma oczywiście także    a raczej niedogodności.

Pierwszą z nich jest konieczność stosowania dużych próbek. Może to być w niektórych przypadkach kosztowne - kosztują przecież pomiary, a dokładniej czas zużyty na zmierzenie większej liczby wyrobów. Poważną barierą w stosowaniu tego typu kart kontrolnych są również stosunkowo skomplikowane --obliczenia. Bez wykorzystania komputera lub chociaż dobrego kalkulatora trudno będzie mówić o sprawnym prowadzeniu wykresu odchylenia standardowego. Ponieważ jednak komputeryzacja coraz szybciej wkracza do polskich przedsiębiorstw, omawiana karta może mieć coraz większe zastosowanie przy sterowaniu procesami.

Przy stosowaniu karty X - S trzeba pamiętać o spełnieniu kilku warunków:

•    dane muszą mieć rozkład normalny,

•    za pomocą jednej karty może być nadzorowany tylko jeden

parametr, chcąc mierzyć i monitorować kilka właściwości wyrobu, należy prowadzić kilka kart kontrolnych,

•    należy zmierzyć co najmniej 20-25 próbek, zanim obliczy się

i wykreśli granice kontrolne i linię środkową,

•    próbki muszą mieć stałą i dużą liczność.


■SR-':.'. • • • "/.•>.2'•• ••.—

... ^ <; ■••>■■■ . <■• , i?    - i-.V: V2■; • '

'    'v'_...

t2;24

I


TF


lit


I


108


•• • . 2■■■ > ■ t‘.v<    ■    -    ' Iat!


% Wm


1

Przykład 5.8

2

   #    ,,    •.    t

. . f: V 2    2 .2•    -    2 V •. >:;2    2    •• >

W przedsiębiorstwie produkującym nakrętki do śrub zdecydowano się na wykorzystanie karty kontrolnej Y-S do monitorowania parametru, którym jest zewnętrzna szerokość nakrętki. Jest to parametr bardzo istotny, gdyż zbyt szerokie nakrętki nie będą

*•'».•    e    • 2    —

pasowały do klucza, zbyt wąskie będą miały luz i szybciej się zniszczą. W sterowanym procesie zakładana (idealna) szerokość sześciokątnej nakrętki powinna wynosić 15 mm. Ponieważ kontrola jest bardzo prosta, tania i szybka (dysponujemy suwmiarką elektroniczną) zdecydowano się właśnie na kartę Y-S i na pobieranie próbek o liczności 10 sztuk każda. Wyniki pomiarów przedstawiono w tabeli 5.2.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
10 4 Statystyczne sterowanie procesami Statystyczne sterowanie procesami i Wariancja Wariancja jest
15 3 Statystyczne sterowanie procesami Takie informacje pomogą w archiwizowaniu kart, a później uła
17 Statystyczne sterowanie procesami Rys. 4.4. Rozkład całej populacji i rozkład wartości
12 I Statystyczne sterowanie procesami z uwzględnieniem prawdziwego zachowania się procesu. Przy
14 4 Statystyczne sterowanie procesami Są to fragmenty wykresów, które nie powinny wystąpić przy
16 0 Statystyczne sterowanie procesami <?ł‘ •1     ix;, •«* Na karcie
18 Statystyczne sterowanie procesami Rys. 5.2. Arkusz karty kontrolnej X -R Przykład 5.6 Monitoruje
10 Statystyczne sterowanie procesami Dolna granica kontrolna: LCL = D3R = 0- 0,098 = 0 Wykreślane p
15 SScs* plillpg Statystyczne sterowanie procesami Wykreślane próbkach. są
16 Statystyczne sterowanie procesamimm Histogram średnich ŚREDNIA BI X-śr. śred:15,0038 (15,0038) S
18 Statystyczne sterowanie procesami próbki nie ma ruchomego rozstępu, nie można go jeszcze obliczy
akademiajakosci.com STATYSTYKA- wstęp do statystycznego sterowania procesem
skanuj0012 STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM PRODUKCJI (SPC) MATERIAŁY POMOCNICZE
Podstawy zarządzania jakością, 2012/2013 Statystyczne sterowanie procesami Idea metody
Izabela Kuna-Bronlowska Urszula Bronowlcka-Mielnlczuk STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEMWykłady i
Statystyczne sterowanie procesem SPC (ang. Statistical Process Control) Trzy filary SPC: 1.
Kontrola odbiorcza Statystyczne sterowanie procesem _I_ Cel: _ł_ Cel: Usunięcie

więcej podobnych podstron