P100513 41

MECHATRONIKA „W” - ROK I mgr

semestr letni 2013

Wykaz pytań do sprawdzianu z zajęć „Metrologia w Systemach przedmiot Zintegrowane Systemy Wytwarzania._

1.    Odpowiedz na pytania: co to jest niepewność pomiaru, jakie są

Hsjlpdstawowe miary niepewności, jaka powinna być i dlaczego

fc;.powinna być oszacowana.

2.    Podaj zasadę doboru wyposażenia pomiarowego w SPC.

3.    Co wyraża zdolność przyrządu pomiarowego, jak ją wyznaczamy.

4.    Co oznacza akronim MSA w kontroli jakości, na czym polega?

5.    WymięńKójęcia i miary, które pozwalają określić dokładność systemu pomiarowego.

6.    Jak formułuje się wymagania dotyczące procesu pomiarowego w systemach wytwarzania?

7.    Wymień metody doskonaleniajakpści systemu pomiarowego.

8.    Wymień narzędzia diagnostyczne do mierzenia jakości systemów pomiarowych.

9.    Objaśnij pojęcia powtarzalności i odtwarzalności. Jakie praktyczne zastosowania znajdują te pojęcia. Na czym polega zasada

^^Kspe^mentalneg^^wyznerczeniE^^ycr^^Darametro^^systemij

pomiarowego.

10. Wyjaśnij, na czym polega analiza R&R? O czym świadczy otrzymana w obliczeniach wielkość %R&R?

11.    Zastosuj i naszkicuj diagram Ishikawy w przykładowej analizie błędnych wskazań przyrządu pomiarowego.

12. Na czym polega; obowiązek legalizacji, w zarządzaniu wyposażeniem pomiarowym.

13.    Jakich wymagań dotyczy „nadzorowanie wyposażenia do monitorowania i pomiarów”.

14.    Wymień i scharakteryzuj najważniejsze formy potwierdzenia metrologicznego.

15.    Co to jest i do czego może być wykorzystany histogram?

LITERATURA

1.    Jakubiec W., Malinowski J.: Metrologia wielkości geometrycznych (wydanie S\ Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 2006.

2.    Sałaciński T.: Statystyczne sterowanie procesami produkcji. OWPW, 2009

3.    Adamczak S-, Makieta W.: Metrologia w budowie maszyn. WNT, Warszawa 2004.

4.    Dietrich E., Shulze A.: Metody statystyczne w kwalifikacji środków pomiarowych, maszyn i procesów produkcyjnych. Notika System, 2000.

5.    Arendarski J. : Niepewność pomiaru. Wyd. Politechniki Warszawskiej Warszawa 2003