024 bmp

024 bmp



Opracowanie wyników    1

Wykreślić charakterystyki statyczne: U ~ S- a (wzór (3.16)) przetwornika idealnego wykorzystując dane katalogowe z podrozdziału 3.4.1 i URo = /(«) przetwornika rzeczywistego na podstawie wyników ujętych w tabeli 3.1. Charakterystyki należy sporządzić w jednym układzie współrzędnych.

3.4.3. Wyznaczanie statycznej charakterystyki przetwarzania przetwornika obciążonego rezystancją

Dla przeprowadzenia pomiarów należy połączyć układ jak na rysunku 3.8. Wartość rezystancji obciążenia powinna spełniać nierówność: R2 > Rnw. Pomiary należy przeprowadzić identycznie jak w podrozdziale 3.4.2, a ich wyniki ująć w tabeli 3.2, gdzie oznaczono TURz, 1 URz ~ napięcia na wyjściu przetwornika obciążonego rezystancją Rz-

Rys. 3.8. Układ do wyznaczania charakterystyki statycznej przetwornika potencjometrycznego obciążonego rezystancją Rz

Tabela 3.2

Lp.

«n

iuRZ[V]

(J __ RZ UKZ ^

U = S- a

------

fi 100%

1.

0

.

2.

10

3.

20

Opracowanie wyników pomiarów

-    korzystając z tabeli 3.2 sporządzić wykres nieliniowej charakterystyki URZ (a) przetwornika obciążonego rezystancją Rz,

-    wyznaczyć analitycznie statyczną funkcję przetwarzania URZA ~ata + a0 (UHZAnapięcie; a - kąt; a0 i &\ ~ współczynniki, których wartości należy wyznaczyć z zależności (3.12) i (3,13) wykorzystując wyniki ujęte w tabeli 3.2) aproksymującą nieliniową charakterystykę URZ (ot),

-    wykresy charakterystyk: przetwornika idealnego U = S -a, przetwornika rzeczywistego URZ(a) i aproksymującą Urza(cl) sporządzić w jednym układzie współrzędnych,

-    wykorzystując wyniki pomiarów (tabela 3.2) wyznaczyć maksymalną wartość błędu względnego 5 przetwornika z zależności

5


Pxz-V\

---U2SL-1 00%,

podać również wartość kąta a, przy której występuje 8nm,

- wykorzystując wykresy charakterystyk L^z(cc) i URZa(ot) wyznaczyć maksymalną wartość względnego błędu


wynikającego z aproksymacji nieliniowej charakterystyki przetwornika odcinkiem linii prostej,

-    z zależności (3.21) wyznaczyć: wartość kąta a, dla której błąd względny 8[ osiągnie maksymalną wartość w całym zakresie pomiarowym oraz dopuszczalną wartość rezystancji Rz, którą można obciążyć przetwornik, aby błąd nieliniowości był nie większy od 1,5%. Z zależności (3-21) przyjąć założenie że: r ■ £(1 - k)« 1,

-    z zależności (3.21) wyznaczyć analitycznie przebieg 8) =j{k) dla dwóch podanych wartości r.

Literatura

[1]    Jaworski J.: Matematyczne podstawy metrologii. Warszawa, WNT 1979

[2]    Piotrowski J.: Podstawy metrologii. Warszawa, PWN 1977

[3]    Metrologia przemysłowa. Praca zbiorowa pod red. M. Wołka. Katowice, Wydawnictwo Uniwersytetu Śląskiego 1973


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Opracowanie wyników    9 Wykreślić charakterystyki statyczne: U = S- a (wzór (3.16))
skanuj0123 2443. Opracowanie wyników a. Wykreślić charakterystykę prądowo-napięciową fotokomórki. Na
OPTOELEKTRONIKA Opracowanie wyników: 1.    Wykreślić ciemną charakterystykę I-U
Skan6 bmp Opracowanie wyników 1. Wyznaczyć stałą naczynka konduktometrycznego 0 (w cm" !),
3. Opracowanie wyników Wykres 1. Pomiar temperatury przy zmianie natężenia
22 (457) 168 Opracowanie wyników A. Badanie charakterystyki lampy neonowej A5. Obliczyć wartości śre
DSCF6613 182 10. Opracowanie Na podstawie otrzymanych wyników należy wykreślić charakterystykę
ćw ! (II) Opracowanie wyników Na papierze milimetrowym sporządzić wykres zależności log v (oś rzędny
PC170311 4.2. Opracowanie wyników pomiarów Wykres zależności przemieszczenia górnej połówki matrycy
rezonans0021 -66- 4. OPRACOWANIE WYNIKÓW 4.1. Na podstawie pomiarów przeprowadzonych w p. 3.1.1 wykr
100 Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki11.4. Opracowanie wyników pomiarów Wykreślić doświadczalną
Str (7) 318 - Tablica 24.3. 318 - Korzystając z wyników pomiarów 1 obliczań, należy wykreślić charak
wymagania0 bmp 292 METODY OPARTE NA WIDMACH MOLEKULARNYCH Opracowanie wyników. Wyznaczyć z krzywej w
Bez nazwy 1 kopia D jpg 3wr.iosk: korcowe. Na podstawie wyników symulacji wykreślić charakterystyki:

więcej podobnych podstron