3
Rys. 8.15. Schemat optyczny spektrografu o średniej dyspersji: 1 — szczelina, 2 — kolimator, 3, 4, 5 — monochromator, 6 — płyta fotograficzna
zachodzi reakcja fotochemiczna, w wyniku której w miejscu naświetlonym, po obróbce fotograficznej (wywołanie, utrwalenie płyty), wydziela się metaliczne srebro, powodujące zaczernienie płyty. Zaczernienie jest proporcjonalne do ilości promieniowania padającego na płytę w danym miejscu. Obserwację płyt prowadzimy za pomocą urządzeń zwanych spektroprojektorami, a pomiar zaczernień linii spektralnych wykonuje się za pomocą mikrofotometrów.
Metoda spektrograficzna umożliwia bezpośrednią analizę substancji w różnych stanach skupienia. Bezpośrednio można analizować: metale i stopy w postaci litej, proszki, roztwory i gazy.
Analiza jakościowa
Spektrograficzna analiza jakościowa opiera się na wykrywaniu obecności pierwiastków na podstawie długości fali linii emitowanych przez badaną próbkę. Linie analityczne oznaczanych pierwiastków winny znajdować się w zakresie widma o długości fali od 200 — 1000 nm. W zakresie tym można znaleźć linie spektralne wszystkich pierwiastków metalicznych oraz wielu niemetali, a m.in. Se, Te, Si, B, C, S, P i fluorowców.
W analizie jakościowej najczęściej stawiamy sobie dwa następujące pytania:
a) Czy w analizowanej próbce znajduje się dany pierwiastek lub pierwiastki ?
b) Jakie pierwiastki znajdują się w badanej próbce ?
Ad a). Na pytanie to spektrografia odpowiada w sposób prosty. Dogodną metodą jest sfotografowanie obok widma badanej próbki widma poszukiwanego pierwiastka lub pierwiastków. Następnie należy stwierdzić, czy w wi-
162