spektroskopia060

spektroskopia060



120

Rys. 74. Fotoluminescenga InP w temperaturze 6 K [39]

Rys. 75. Widma fotoluminescencji GaP w temperaturze 1,6 K przedstawiające izolowane linie par oraz szerokie pasmo dla przejść donor-akceptor S —Si oraz Te —Si. Podano numery niektórych par [40]

Energia rekombinacji par donor-akceptor wyraża się zależnością

dap = Eg-(EA + ED)+ę,    (11.16)

gdzie: EA, ED — energia jonizaq'i akceptora i donora, r — odległość między donorem i akceptorem, e — stała dielektryczna.

Rysunek 75 ilustruje widma fotoluminescencyjne w zakresie przejść rekombinacyjnych donor-akceptor. W obu przypadkach akceptorem jest krzem na miejscu fosforu, a donorem siarka — dla górnej i tellur — dla dolnej krzywej.

Szerokie maksimum energii odpowiada odległościom między domieszkami rządu 50 A. Zanik fotoluminescencji odpwiada odległościom rzędu 200 A.

Pobudzenie defektu, np. domieszki, wiąże się ze zmianą jego stanu elektronowego. W wielu przypadkach, zwłaszcza dla głębokich defektów, energia defektu silnie zależy od lokalnej deformacji sieci krystali-znej. Silna lokalizacja funkcji falowej elektronu powoduje, że niewielkie nawet przesunięcia atomów zmieniają energię układu. Ilustruje to

f

AEt

Rys. 76. Diagram konfiguracyjny; hwa energia fotonu absorbowanego, hcot — energia fotonu emitowanego, AQ — deformacja sieci związana ze wzbudzeniem defektu, AE— energia niezbędna do wzbudzenia defektu na drodze termicznej


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
spektroskopia060 120 Rys. 74. Fotoluminescenga InP w temperaturze 6 K [39] Rys. 75. Widma fotolumine
spektroskopia063 126 Rys. 80. Widma absorpcji dla studni GaAs/AIGaAs o różnych grubościach zmierzone
39097 spektroskopia063 126 Rys. 80. Widma absorpcji dla studni GaAs/AIGaAs o różnych grubościach zmi
spektroskopia023 46 Rys. 20. Widmo absorpcji GaP typu n (n = 1018 cm-1) (a); maksimum współczynnika
23986 spektroskopia034 68 Rys. 35. Widma odbicia sieciowego dla niektórych związków HI —V. Linia cią
57150 spektroskopia030 60 Rys. 29. Absorpq a związana z fotojonizaq ą defektów w GaAs w temperaturze
11342 PrepOrg cz I0 - 120 -c) Rys. IV.6. Aparaty do oznaczania temperatury topnienia metodą kapilar
31268 spektroskopia017 34 Rys. 12. Krawędź absorpcji w obszarze przejść skośnych dla kilku różnych t
Laboratorium Elektroniki cz I 2 120 Rys. 6.7. Zależność prądu fotoelektrycznego fotodiody lF od na
spektroskopia008 16 Rys. 3. Schemat standardowego układu do pomiarów widm transmisji i odbicia z mon
spektroskopia042 84 Rys. 46. Schemat elipsometru z modulatorem fotoelektrycznym (a). Zastosowanie św
spektroskopia051 102 A<j [cm 1] Rys. 60. Widma rozpraszania Ramana dla GaAs o orientami (100) ora

więcej podobnych podstron