14723 skanuj0004 (316)

14723 skanuj0004 (316)




drucik czujnika w czasie rozciągania (rys. 7.1) znajduje się w jednokierunkowym stanie naprężenia, odkształcenia jednostkowe w kierunkach osi x, y i z (rys. 7.2) wynoszą odpowiednio:

ex m s,


ey


- vex =

£. = - vex =


(7.5)


Wydzielmy z przekroju poprzecznego drutu kwadrat ADCD (rys. 7.2). Niech długości boków tego kwadratu przed przyłożeniem obciążenia będą równe jednostce. Po przyłożeniu obciążenia długości boków ulegną zmianie. Wynoszą one (1 + ej oraz (1 + ej. W związku z tym pole przekroju wynoszące początkowo FADClj =1*1 = 1 wyniesie teraz

Fabcd = (1 + |P + £*)•

Względny przyrost pola powierzchni będzie równy

AF _ Fabcd — Fabcd _ (1 + ey)(l + cj 1 _ _ ż i' „ r ------:    - £y +    + W#

1    rABCD    1

Po pominięciu iloczynu e.yet jako wielkości małej wyższego rzędu — w porównaniu z e, i c, — oraz wykorzystaniu zależności (7.5) otrzymujemy ostatecznie

to wyrażenie do związku (7.4), otrzymujemy wzór na względny ■■ wyrost oporu w postaci:

A R _ / A filp ~R V «


+ 1 + 2v |c.


(7.6)


::;«ztałccnie względne e jest więc równe

m


1 + 2v +


Ap/p\ R


(7.7)


kazuje sję, że wartość wyrażenia

K = 1 + 2v +


Ap/p


(7.8)


do pewnej wartości odkształcenia względnego e jest wielkością stalą. Wielkość K nosi nazwę stałej czujnika. Ostateczny związek między odkształceniem r. a względnym przyrostem AR/R jest następujący:

£


K


(7.9)


Odkształcenie względne e jest więc wprost proporcjonalne do względnego f'i-zy"ostu oporu AR/R:

itała K zależy od materiału, z jakiego wykonany jest drut pomiarowy dla czujników wykonanych na przykład z konstantanu (stop o wartości Cu i 40?/ Ńi) K = 2,1    2,4.

Wartość stałej K określa się doświadczalnie. Z dużej partii jednakowo '-.■■•nuuych czujników wybiera się losowo pewną ich liczbę do badań, nalepia ::.:óbki wzorcowe, które następnie doznają ściśle określonych od-i Pa tej podstawie określa się statystycznie stałą K dla całej partii

•'.uiniki raz naklejone nie nadają się już do ponownego użytkowania na } "■•óhkaoh.    1

«J$if POMIARU ODKSZTAŁCEŃ METODĄ TENSOMETRII OPOROWEJ    \    /

(METODA ZEROWA)    \ ]/

Zasadę pomiaru metodą zerową ilustruje rys. 7.3. Dla zmierzenia odkształceń -'kf / (zachodzących w kierunku działania sił P) nakleja się na próbkę


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
skanuj0090 Rys. 7.2 y drucik czujnika w czasie rozciągania (rys. 7.1) znajduje się w jednokierunkowy
skanuj0090 z Rys. 7.2 y drucik czujnika w czasie rozciągania (rys. 7.1) znajduje się w jednokierunko
skanuj0012 (350) tecznie utrata przytomności. Skóra pacjenta znajdującego się w stanie wstrząsu jest
skanuj0004(1) 3 1. Lizosomy są organellami komórek ... .^.. Wewnątrz lizosomów znajdują się liyaroia
skanuj0209 ROZDZIAŁ SIÓDMY: Kompozycja i inscenizacja 209 poniżej znajduje się kilka sugestii dotycz
20320 skanuj0005 (436) INTfcRNft TEST 2 2006 fWERSJA E 1. U chorego znajdującego się w stanie nieprz
skanuj0004 6. Podaj nazwy kilku produktów spożywczych, w których znajduje się błonnik i określ jego
10719498909365345241278209159 n elektroliza Wyznaczanie równoważnika elektrochemicznego miedzi W n
72854 skanuj0005 (527) Grafika menedżerska i prezentacyjna mienionych elementów znajdują się w progr
• w podpisie pod rys. 2 znajduje się odniesienie do pozycji literatury [31], a w tekście poniżej, ry

więcej podobnych podstron