P1100187

zewnętrznych elektro' tuje sic je do celów ia-

wzbudzenia

Ipromicm owa nie rent-p rzy pad ku wzbudzatu

promieniowania jesi

mięilzy połowieni Krałiidłusoś<ci fal » widmami. ki6re są «r>7ł-.eh w aujrtiic obudzonym : a) no absorpcji promienlowania o gnfucrccj ^nitowane promieniowania, którego tlłtigroiści fali a<| większe nlt fęruańczii ^;fio ssnae^o atomu; t>> przed«tAwiono połoionla linii odpowlatiających srsalcd/n

ugościom fal /.• do X.m

^w ^ołrscj cxęior rysunków ramac^ono widmo zo względmymi inietutywnolciami

więc możliwe tylko wskutek przeskoku ‘go atomu zgodnie id regułami wyboru.

widmo zależy od składu próbki i i ilościowycłi -

pierwotnego i wtórnego

eutem elektronów określa się jako wychudzenie pier~ eniowaniuzn rentocnowskim nazywa się wzbudzę-

W/bud/eaic atomu :

a wzbudzenie atomu nfiawa ••/d/Tąym.

lc większa niż intensywność

Wzbudzenie wtórne daje tylko widmo liniowe, ponil genow^kie nie może traotć energii w sposób ciągły, jak pierwotnego.

Intensywność p romieniowauia pierwotnego jest o wi|-—

iego. J«*« to związane 2 tym, że «y'^ko maln cz^ promienie-

yli nuorescęncyjr^,

...- _    __,_u,_f ___    «_______promieniowani

Przy wzbudzetuu wtórnym większy role odgrywa    ^{1 J} .    _ _    , .

l^omieniowanic wtórne w porównaniu z promieniowaniem

Przenikania głębiej do próbki, gdzie cz^śó powstającego

pierwotnego wzbudzenia ^w■^r'*^ł-----i_Ł-,,_Wr>w-'«ć następująco, lepsza .erf

granica wykrywalnoica, szczególnie dla

wzbudzenia, oraz mniejszy wpływ abs

Do wad pierwotnego wzbudzania zalicza się duł* tło, które powoduje głównie Ciągła część widma rentgenowskiego, konieczność pracy w większej próbni (absorpcja elektronów w gazach), konieczność obróbki powierzchni (musi być pr/ewodzącu I równa) oraz duże rozgrzanie próbki.

Trzeba zaznaczyć. że potencjał wzbudzenia V i krytyczna długość fali są wielkościami wzajemnie zc sobą związanymi. Obie są miarą energii, która jest potrzebna do przejścia elektronu z określonego orbitalu elektronowego danego pierwiastka. Zależność między nimi wiąże się z przeliczeniem elektronowoitów nn nanometry i jest określona równaniem

1240

(19.10)

1933. Analiza jakgśćowa

Na rysunku 19.6 jest pokazany schemat pomiaru przy pomocy fluorescencyjnej rentgenowskiej analizy spektrometrycznej. Metoda ta nadaje się do analizy jakościowej i pólilościowej. Widmo liniowe zalety od rodzaju nuklidów, na których zaszły przejścia fotonów oraz od ich stężeniu w próbce. Podstawą analizy jakościowej są długości emitowanego widma i ich względna intensywność. Pierwiastki w próbkach oznacza się na podstawie intensywność odpowiednio wybranej linii.

Rys. 19.6. Schemat fluorescencyjnego spektrometru rentgenowskiego. Promieniowanie rentgenowskie po wydzieleniu równoległej wiązki za pomocą przesłon pada na

róbkę; promieniowanie emitowane przez próbkę rozkłada analizator A, widmo po detekcji wzmocnieniu rejestruje rejestrator: absorpcję emitowanego promieniowania zmniejsza się przez zastosowanie próżni łub atmosfery bełu

i — źródło prądu, 2 — próbka, 3 — przed wzmacniacz, 4 — wzmacniacz, 5 — rejestrator,

6 — analizator

245