DSCF0788 (2)

DSCF0788 (2)



4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne 163

diod napięcie maksymalne pomiędzy bramką i kanałem jest ograniczane do poziomu ok. ±10 V. Wprowadzenie diod zabezpieczających zwiększa pojemność pomiędzy bramką i kanałem. W rezultacie obniżeniu ulega górna częstotliwość graniczna tranzystora. Obniżeniu ulega również rezystancja wejściowa tranzystora ze względu na bocznikujące działanie zastosowanych diod zabezpieczających. Ponieważ rezystancja diod jest znacznie niższa od rezystancji bramka-źródło tranzystora, rezystancja wejściowa tranzystora ma niemal identyczną wartość jak spolaryzowanej zaporowo diody zabezpieczającej.

Jeżeli bramka tranzystora polowego ze zubażanym kanałem typu N zostanie spolaryzowana dodatnio względem źródła, to na skutek wytworzonego pola elektrycznego zostaną stworzone warunki do migracji swobodnych elektronów z materiału podłożowego do kanału. Kanał zostanie zatem wzbogacony o ładunki prądu elektrycznego. Jeżeli bramka tranzystora polowego ze zubażanym kanałem typu N zostanie spolaryzowana ujemnie względem źródła, to nastąpi zjawisko odwrotne, tzn. migracji swobodnych elektronów z kanału do materiału podłożowego. W tym przypadku kanał zostanie zubożony w ładunki elektryczne. W obu przypadkach ulegnie zmianie rezystancja kanału; będzie ona malała przy wzbogacaniu kanału i rosła przy jego zubażaniu. Jeśli kanał zostanie spolaryzowany w taki sposób, że napięcie UDS będzie dodatnie i stałe, to popłynie prąd drenu /D o wartości odwrotnie proporcjonalnej do rezystancji kanału. Zatem możliwe jest sterowanie prądu drenu /D przez zmianę napięcia bramka-źródło l/GS (rys. 3 na poprzedniej stronie). W analogiczny sposób działa tranzystor połowy ze zubażanym kanałem typu R W przeciwieństwie do swojego odpowiednika z kanałem typu N wymaga on sterowania przeciwnie spolaryzowanym napięciem, tzn. ujemną wartością napięcia bramka-źródło UqS.

Sterowanie prądem wyjściowym tranzystora polowego z izolowaną bramką polega na wytworzeniu odpowiedniego pola elektrycznego pomiędzy bramką i podłożem. Polaryzacja tego napięcia może być zarówno dodatnia, jak i ujemna. Zatem w układach wzmacniających prądu przemiennego możliwe jest wyeliminowanie kondensatorów sprzęgających, eliminujących składową stałą sygnału pomiędzy kolejnymi stopniami wzmacniającymi.

Tranzystory połowę z izolowaną bramką i kanałem zubażanym mogą być sterowane w zakresie zarówno dodatnich, jak i ujemnych napięć sterujących l/GS.

Punkt pracy normalnie włączonego tranzystora polowego z izolowaną bramką i zubażanym kanałem, jak również tranzystora polowego złączowego może być ustalony przez spolaryzowanie bramki względem źródła przez zastosowanie odpowiedniego rezystora. Rezystor ten włączany jest szeregowo w obwód źródła, analogicznie jak rezystor emiterowy w tranzystorach bipolarnych.

W przypadku tranzystorów polowych z izolowaną bramką, normalnie wyłączonych z kanałem wzbogacanym punkt pracy ustalany jest zwykle za pomocą rezystorowego dzielnika napięcia, a więc również w podobny sposób, jak dla tranzystorów bipolarnych. W tym przypadku jednak dzielnik napięcia jest praktycznie nieob-ciążony ze względu na bardzo dużą rezystancję wejściową tranzystora.


Dwubramkowy tranzystor połowy z izolowaną bramką

Dwubramkowe tranzystory połowę z izolowaną bramką DG FET1 zawierają dwie niezależne i izolowane względem siebie bramki (rys. 2 na poprzedniej stronie) sterujące przepływem prądu drenu we wspólnym kanale. Zatem każda bramka może niezależnie sterować wartością prądu kanału. Tranzystory tego typu znajdują zastosowania w układach modulatorów i mieszaczy częstotliwości.

Para komplementarna FET

Para komplementarna2 FET złożona jest z dwóch szeregowo połączonych tranzystorów o różnych ty-

1 ang Dual Gate Field Ełfect Transistor; 3 lac. complementum = uzupełnienie


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
DSCF0772 147 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne niewielka zmiana napięcia polaryzu
DSCF0770 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Efekt Zenera jest wykorzystywany w pra
DSCF0778 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Rys. 1. Schemat rozpływu prądów w tran
DSCF0780 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne 155 4.2 Półprzewodnikowe elementy i uk
DSCF0782 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne 157 Pole obszaru pracy jest zależne od
DSCF0786 (2) 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne 161 4.2 Półprzewodnikowe elementy
DSCF0790 (2) 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Jeśli złącze bramka-źródło nie jes
DSCF0792 (2) 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne 167 Zakres liniowej pracy tranzyst
DSCF0794 (2) 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne 169 Wzmacniacze te są przeznaczone
DSCF0771 146 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Diody mocy Do konstrukcji diod
DSCF0761 (2) 136 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczny Rozróżnienie układów o stałym
DSCF0762 (2) WĘ 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne nym wprowadzeniu (domieszkowani
DSCF0763 (2) 138 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektrony dla uproszczenia atomy przedstawio
DSCF0764 139 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne lencyjnego) do pasma przewodzenia
DSCF0765 140 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne krzem o przewodnictwie typu N elek
DSCF0768 (2) 14; 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne nego wynika ze zjawiska przewo
DSCF0773 148 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne niem termicznym diody. Najprostszy
DSCF0774 149 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Janoda Si02 —.warstwa zaporowa Rys
DSCF0775 150 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Tab. 1. Półprzewodnikowe diody

więcej podobnych podstron