3582418202

M-T 1

Podstawy Metrologii M-T sem. VII, 2008/2009

Prot. Jan Zakrzewski Instytut Metrologii, Elektroniki i Automatyki Akademicka 10 (Bud. Prof. Fryzego), pok.23

Lit: Zakrzewski J.: Podstawy miernictwa dla kierunku mechanicznego. Wyd. Pol.ŚI. Gliwice 2004

Wykłady:

1.10.    Modele pomiaru, pojęcia podstawowe

8.10    Systemy pomiarowe, struktury i interfejsy.

15.10    Niepewność pomiaru

22.10    (SPR) Czujniki ciśnień, technologie mikroelektroniczne

29.10    Pomiary strumienia masy i objętości

5.11.    Pomiary przemieszczeń i parametrów ruchu

12.11.    (SPR) Pomiary temperatur, dynamika pomiarów