53669

równa liczbowo długości odcinka elementarnego /.

Profilogram tego samego odcinka pomiarowego przy różnych długościach _fali odfiltrowanej._

W głowicach pomiarowych stosuje się przetworniki piezoelektryczne, fotoelektryczne, indukcyjne oraz interferometryczne posiadające dużą czułość. Dolna granica zakresu pomiarowego jest ograniczona wymiarem promienia zaokrąglenia wierzchołka ostrza odwzorowującego końcówki diamentowej. Wartości nominalne promienia zaokrąglenia w profilome trach powinny wynosić: 2 pin, 5pm lub lOpm. Stosując dokładny pomiar przemieszczenia głowicy oraz przetwarzanie mierzonych wartości wysokości chropowatości powierzchni i przemieszczenia w postać cyfrową istnieje możliwość mikroprocesorowego wyznaczania szerokiej gamy parametrów chropowatości powierzchni, które szerzej opisują stan geometrii powierzclini.

•    Profilometr SURTRONIC

•

Profilometr Surtronic produkowany w Dani na licencji brytyjskiej firmy THE RANK ORGANIZATION zbudowany jest w oparciu o przetwornik piezoelektryczny, w którym pod wpływem liniowych przemieszczeń igły czujnika zmienia się nacisk na kryształ piezokwarcu powodując powstawanie zmiennych ładunków elektrycznych, niosących informację o zmianach wysokości chropowatości powierzclini. Po odpowiednim wzmocnieniu zmiennego sygnału elektrycznego, profilometr daje możliwość jego całkowania na określonej długości przemieszczenia głowicy pomiarowej związanej z zadanym odcinkiem elementarnym / (cut off). W skład profilometru wchodzą czujniki z przetwornikiem, przystawka napędowa oraz układ elektroniczny z panelem czołowym. Pomiar wykonuje się na regulowanym odcinku pomiarowym /„ , zawierającym n odcinków' elementarnych /. Wynik pomiaru otrzymujemy na podzialce urządzenia. Regulacja odcinka pomiarowego odbywa się przemieszczeniem tarczy oporowej na ruchomych ramionach przystawki napędowej w których mocuje się czujnik. Dla zapewnienia równoległości ustawienia czujnika względem powierzclini mierzonej układ mocow^rania posiada