I PRACOWNIA FIZYCZNA
ĆWICZENIE: 80
Badanie charakterystyki widmowej fotorezystora.
Goncerz Rafał
1. WSTĘP TEORETYCZNY
Fotorezystorami nazywamy półprzewodniki, których opór zmienia się pod wpływem strumienia świetlnego. Do wykonywania fotorezystorów wykorzystuje się związki siarczku kadmu, bizmutu i inne, które wykazują własności półprzewodników. W półprzewodnikach czystych ( bez pierwiastków domieszkowych ) nośnikami prądu są: swobodne elektrony ( o ładunku ujemnym ), zwane również elektronami przewodnictwa, które oderwały się od wiązania walencyjnego atomów sieci przestrzennej oraz tzw. „dziury” ( o ładunku dodatnim ), które są pustymi miejscami po wiązaniach walencyjnych, powstałymi po oswobodzonych elektronach.
Ruch elektronów i dziur pod wpływem pola elektrycznego odbywa się w kierunkach przeciwnych, a nateżenie płynącego prądu zgodnie z równaniem transportu ładunków wyraża równanie:
( 1 )
gdzie: n - liczba swobodnych elektronów ( równa liczbie dziur ) w jedno-
-stce objętości ( koncentracja elektronów )
S - przekrój poprzeczny przewodnika
e - ładunek elektronu ( równy - co do wartości - ładunkowi dziury )
v+ i v- - odpwiednio prędkości dziur i elektronów w sieci prze-
-strzennej półprzewodnika
Prędkości dziur i elektronów zależą od natężenia przyłożonego pola E, przy czym istnieje proporcjonalna zależność między tymi wielkościami:
,
( 2 )
gdzie: k1 , k2 - ruchliwość obu rodzajów nośników ( równa prędkości noś-
-ników przy jednostkowej wartości natężenia pola E )
Gdy światło pada na powierzchnię półprzewodnika i wnika na pewną odległość w jego głąb, wówczas energia fotonów jest przekazywana elektronom walencyjnym, które dzięki temu odrywają się od atomów i powiększają liczbę elektronów swobodnych o wielkość n, proporcjonalną do padającego strumienia świetlnego . O tę samą wartość wzrośnie liczba dziur. W związku z tym nastąpi zwiększenie natężenia prądu o:
( 3 )
w stosunku do natężenia prądu Ic ( nazywanego prązem „ciemnym” ), płynącego w półprzewodniku bez naświetlania. W czasie naświetlania płynie prąd Ij ( zwany „jasnym” ):
( 4 )
Zasada działania fotorezystora jest oparta wobec tego na powstawaniu dodatkowej liczby nośników ładunku w wyniku pochłaniania energii promienistej, co przejawia się zwiększeniem przewodnictwa półprzewodnika.
rys. 1
|
Badanie właściwości elektrycznych fotorezystora wymaga włączenia go do obwodu przedstawionego na rys. 1. Zmieniając napięcie żródła U od zera wzwyż stwierdzić można liniowy wzrost natężenia prądu fotorezystora If, zgodny z prawem Ohma i z podanym wyżej równaniem transportu ładunków, aż do granicy wtrzymałości na ogrzewanie wskutek wydzielającego się ciepła Joule'a ( rys. 2 ). Zależność prądu fotorezystora If od przyło- |
żonego napięcia przy ustalonym nazywana jest charakterystyką prądowo-napięciową. Jest ona zależna od strumienia światła padającego na fotorezystor.
Charakterystyka świetlna fotorezystora przedstawia natomiast zależność natężenia prądu fotorezystora od padającego nań strumienia przy stałej wartości napięcia U ( rys. 3 ). Charakterystyki te są zwykle nieliniowe, że przyrost n liczby nośników ładunku nie jest ściśle proporcjonalny do strumienia świetlnego . Z wykresu odczytać można wartość prądu ciemnego Ic dla = 0.
Znając wartość prądu ciemnego Ic, jasnego Ij oraz wartość strumienia świetlnego padającego na fotorezystor przy nominalnej wartości napięcia U możemy wyznaczyć całkowitą czułość fotorezystora k:
( 5 )
gdzie:
- przyrost prądu.
If (mA) 2 1 If (mA)
rys. 2
|
2>1
=0
Ic |
(lm) rys.3
|
2. POMIARY
3. OPRACOWANIE WYNIKÓW
Cechowanie monochromatora
Wartości tablicowe długości fali lampy rtęciowej :
Kolor linii Widmowych |
Długość fali w [nm] |
Fiolet |
404.5 |
Niebieski |
435.8 |
Zieleń |
546.1 |
Żółty |
579.1 |
Czerwień |
612.3 |
Obliczenie średnich wartości położeń bębna monochromatora x, dla poszczególnych lini widmowych.
Wzory:
Wartość średnia:
Odchylenie standardowe:
Niepewność pomiarowa:
gdzie:
xi - kolejne położenie bębna monochromatora
Δ'x =
0,01 - dokładność pomiaru
Kolor linii Widmowych |
Wartość średnia x [działka] |
Sx [działka] |
Δx [działka] |
Bw |
Fiolet |
15.965 |
0.035355 |
0.036742 |
0.230143 % |
Niebieski |
15.03 |
0.042426 |
0.043589 |
0.290013 % |
Zieleń |
14.11 |
0.014142 |
0.017321 |
0122753 % |
Żółty |
13.83 |
0.014142 |
0.017321 |
0.125239 % |
Czerwień |
13.3 |
0 |
0.01 |
0.075188 % |
gdzie: Bw - błąd względny, obliczany według wzoru ogólnego:
x - wartość średnia
Δx - niepewność pomiarowa wartości średniej
Krzywa cechowania monochromatora - wykres 1
Charakterystyka widmowa fotorezystora
Położenie bębna |
Długość fali [nm] |
Natężenie fotoprądu I [μA] |
Położenie bębna |
Długość fali [nm] |
Natężenie fotoprądu I [μA] |
||||
|
|
10 V |
6 V |
2 V |
|
|
10 V |
6 V |
2 V |
13.8 |
565 |
15 |
10 |
3 |
12,25 |
765 |
465 |
245 |
70 |
13.7 |
580 |
20 |
15 |
4 |
12,2 |
777 |
475 |
255 |
71 |
13.6 |
590 |
30 |
20 |
6 |
12,15 |
780 |
480 |
255 |
71 |
13.5 |
600 |
55 |
30 |
9 |
12,1 |
790 |
480 |
255 |
70 |
13.4 |
615 |
80 |
45 |
13 |
12,05 |
797 |
470 |
250 |
68 |
13.3 |
625 |
105 |
55 |
15 |
12 |
805 |
460 |
245 |
66 |
13.2 |
635 |
130 |
70 |
20 |
11,95 |
810 |
440 |
235 |
62 |
13.1 |
650 |
150 |
80 |
24 |
11,9 |
820 |
415 |
220 |
58 |
13.0 |
660 |
180 |
95 |
28 |
11,85 |
827 |
385 |
205 |
53 |
12.9 |
675 |
205 |
110 |
32 |
11,8 |
835 |
350 |
180 |
47 |
12.8 |
690 |
240 |
130 |
37 |
11,75 |
840 |
310 |
170 |
41 |
12.7 |
700 |
280 |
145 |
43 |
11,7 |
850 |
270 |
150 |
35 |
12.6 |
715 |
320 |
170 |
49 |
11,65 |
860 |
230 |
130 |
29 |
12.55 |
720 |
345 |
180 |
52 |
11,6 |
865 |
170 |
105 |
23 |
12.5 |
730 |
365 |
190 |
56 |
11,5 |
885 |
120 |
75 |
13 |
12.45 |
735 |
385 |
205 |
60 |
11,4 |
900 |
65 |
35 |
7 |
12.4 |
745 |
410 |
215 |
63 |
11,3 |
915 |
30 |
20 |
4 |
12.35 |
750 |
435 |
225 |
66 |
11,2 |
935 |
15 |
10 |
2 |
12.3 |
757 |
455 |
240 |
68 |
|
|
|
|
|
Wykres zależności fotoprądu I = f ( α ) od długości fali światła dla rożnych napięć - wykres 2
Wyznaczenie energi E odpowiadającej długości fali m, dla której fotoprąd I osiąga maksimum.
Fotoprąd osiąga maksimum dla położenia bębna x = 12,15 [działki], któremu odpowiada długość fali m = 780 [nm]
10 [nm].
Obliczenie częstotliwości fali m.
Wzory:
Częstotliwość fali
Niepewność pomiarowa ( metoda różniczki zupełnej )
gdzie: c = 299 792 458 [m/s] - prędkość światła w próżni
m |
m |
Bw |
3,8435 * 10 ^14 s |
4,9276* 10 ^12 s |
1,28 % |
Obliczenie energii E.
Wzory:
Energia
Niepewność pomiarowa ( metoda różniczki zupełnej )
gdzie:
[J
s] - stała Plancka
|
|
Bw = 1,28 % |
Przy czym 1 [eV]
1,602
10-19 [J], wobec tego:
E = 2,05 [eV] |
E = |
Bw = 1,28 % |
4. WNIOSKI
Obliczona energia, odpowiadająca długości fali światła, dla której fotoprąd osiąga maksimum (E=2,05[eV] ) jest mniejsza od przerwy energetycznej dla półprzewodników CdS ( która wynosi: Eg = 2,53 [ eV ] ).Pewne nieścisłości mogą być związane z odczytem długości fali świetlnej dla poszczególnych położeń bębna monochromatora