3418915919

74

refleksy pierwszego rzędu. Stosunek natęzen refleksów kolejnych rzędów not-na wyrazić następująco: 100:20:7:3:1, gdzie 100 odpowiada natężeniu refleksu pierwszego rzędu

Z równania Bragga-Wulfa można wywnioskować. 2c dyfrakcja zachód/, jedynie wtedy, kiedy długość fali jest lego samego rzędu co odległości miedzy płaszczyznami sieciowymi. Ponieważ smO nie moZc być większe od jedności, przeto *X S 2d. JeZeh długość fali jest większa od podwojonej odległości mię. dzy płaszczyznami sieciowymi (n«. - I). to warunek Bragga-Wulfa nic mor* być spełniony - układ płaszczyzn sieciowych me daje wzmocnienia promieni odbitych.

2.2. Dyfrakcyjne metody badania kryształów

Metody rentgenograficzne można podzielić na dw ie grupy

•    stosowane do badania monokry ształów (np metoda Lanego, metoda obracanego kryształu).

•    stosowane do badania poi ikry ształów (np. metoda proszkowa • Dcbye'a--Scherrera).

2.2.1. Metoda Lauego

Metoda Laucgo jest stosowana do określenia orientacji i symetrii kryształu Orientowanie kryształu polega na określeniu kierunku |uvh] w krysztale względem wybranego układu odniesienia, np. wiązki promieniowania rentgenowskiego. lane gramy są teZ źródłem informacji o jakości monokryształu: istniejących w nim naprężeniach, /bliźniaczemu itp

Skierowanie na nieruchomy kryształ wiązki promieni o widmie ciągły* stwar/a możliwość dyfrakcji, ze względu na mnogość płaszczyzn krystalogrs-flc/nych. które przy określonych kątach 8 spełniają równanie Bragga-Wulfa Promienie ugięte rejestruje się na kliszy umieszczonej prostopadle do wiąri> promieni padających za badanym preparatem (metoda promieni przechodzących) lub przed nim (metoda promieni zwrotnych) (rys. 3).

Spójnemu odbiciu od poszczególnych serii równoległych płaszczyzn sieciowych ulega promieniowanie rentgenowskie o długości fali X, spełniające) równanie Bragga-Wulfa (2d sinO - nk) Ponieważ płaszczyzny krysulograflca* o różnych odległościach d uginają promienie pod różnymi kątami 0, na zdjęć* dyfrakcyjnym uzyskujemy układ refleksów. Jeżeli od |uw] jest równoległa & wiązki pierwotnej i jeżeli jest to oś symdrii kryształu, to ro/kład refleksów n* rentgen ogram ie obrazuje symetrię osi, tzn. symetria refleksów na zdjęciu je* tego samego rzędu co symetria kryształu (rys. 4).

Rył « Rmigenoęram Lnszliłu KO o «¹rwk-turze regularnej i schemat)

Jeśli kryszuł jest ustawiony dowolnie względem wiązki pierwotnej, to równie! refleks) nie są ułożone symetrycznie, ale ich układ nie jest chaotyczny Płaszczyzny krystalograficzne należące do jednego pasa krystalograficznego' dają refleksy układające się na zdjęciu wzdłuż krzywych stożkowych: na elipsie hib paraboli w metodzie promieni przechodzących oraz na hiperboli w metodzie promieni zwrotnych (rys. Sj Wyznaczenie orientacji monokryształu na podsunie lauegramu przeprow adza się metodą Grcningera

Duży wpływ na kształt refleksów dyfrakcyjnych wywiera doskonałość kryształu Jeśli kryształ ma budowę doskonałą, refleksy są ostre i jednolite Ze wzrostem liczby defektów i naprę Zen w krysztale refleksy na lauegramie ulegają rozmyciu

jedDq prosie) taeaowe) (om pasa)

Rył J Metoda lanego a) metoda prooueiu pr«chodz*ych. b) metoda zwrotnych. A • kolimtBf. K • krywtaJ. B - uchwyt F • klina fotograficzna

1

Fneni hrywałopaftc/nym nazywa »¹ r płaazczv» kiywafograficCTych fOwwołeitbiełi do