3443175365

3443175365




Politechnika Warszawska

Instytut Automatyki i Robotyki



I. WSTĘP

1. Ogólne informacje dotyczące sposobu pomiaru

Wykorzystanie promieniowania jonizującego w miernictwie przemysłowym jest możliwe poprzez zastosowanie odpowiednich narzędzi pomiarowych. Rolę tę spełniają izotopowe urządzenia kontrolno-pomiarowe, które zgodnie z Polska Normą Pr PN-IEC 60050-394 są zdefiniowane jako urządzenia pomiarowe zawierające źródło promieniowania jonizującego, miernik promieniowania i niezbędne zespoły mechaniczne, przeznaczone do przemysłowych nieniszczących pomiarów wielkości nieelektrycznych [1].



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
oWydziałInżynierii Produkcji POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ OŚĆ Automatyzacja i Robotyzacja Procesów
Politechnika Warszawska /TDl Instytut Automatyki i Robotyki /i Jan Maciej Kościelny, Michał
INSTYTUT AUTOMATYKI I ROBOTYKI POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJKURSY SPECJALISTYCZNE z
Materiały pomocnicze do ćwiczeń z Podstaw Robotyki, Politechnika Łódzka, Instytut Automatyki, autor:
Materiały pomocnicze do ćwiczeń z Podstaw Robotyki, Politechnika Łódzka, Instytut Automatyki, autor:
Materiały pomocnicze do ćwiczeń z Podstaw Robotyki. Politechnika Łódzka. Instytut Automatyki, autor:
Materiały pomocnicze do ćwiczeń z Podstaw Robotyki, Politechnika Łódzka, Instytut Automatyki, autor:
Materiały pomocnicze do ćwiczeń z Podstaw Robotyki, Politechnika Łódzka, Instytut Automatyki, autor:
Materiały pomocnicze do ćwiczeń z Podstaw Robotyki, Politechnika Łódzka, Instytut Automatyki, autor:
Materiały pomocnicze do ćwiczeń z Podstaw Robotyki, Politechnika Łódzka, Instytut Automatyki, autor:
29272 P1050574 LABORA TOR* STAW AUTC Politechnika Warszawska u Instytut Technik W)^twar2ania Zakład
POLITECHNIKA OPOLSKA INSTYTUT AUTOMATYKI I INFORMATYKILABORATORIUM METROLOGII ELEKTRONICZNEJ 8. POMI
P1050564 (2) Politechnika Warszawska Instytut Technik Wytwarzania Zakfed Automatyzacji, Obrabiarek i
P1050616 Politechnika Warszawska Instytut Technik Wytwarzania Zakład Automatyzacji, Obrabiarek I Obr

więcej podobnych podstron