5755074060

strona: 8

Lp	Opis	st.	nst.
1	Statystyczna teoria niezawodności oraz fizyka uszkodzeń	0	3
2	Jakość i niezawodność systemów w pełnym cyklu życia	0	2
3	Planowanie badań niezawodnościowych	0	2
4	Modele uszkodzeń w układach elektronicznych	0	3
5	Testowanie funkcjonalne zorientowane na uszkodzenia	0	2
6	Zastosowanie sieci neuronowych w diagnostyce	0	2
7	Systemy norm unijnych	0	2
8	Przygotowanie opracowania pisemnego (prezentacji) na temat z zakresu diagnostyki i niezawodności wybrany przez prowadzącego zajęcia	0	5
9	Techniki testowania monolitycznych układów scalonych, cyfrowych układów programowalnych, pamięci i mikroprocesorów	0	4
10	Diagnostyka wewnątrzobwodowa pakietów elektronicznych	0	2
Razem godziny		0	27

15.    Zalecana lista lektur podstawowych:

[1]    Bogusz J., Lokalne interfejsy szeregowe w systemach cyfrowych, BTC. Warszawa, 2004.

[2]    Bogusz J., Moduły GSM w systemach mikroprocesorowych, BTC, Warszawa, 2007.

[3]    Grubbs H., GPS - poradnik użytkownika, RM, Warszawa, 2009.

[4]    Merisz J., Mazurek S., Pokładowe systemy diagnostyczne pojazdów samochodowych, WKŁ, Warszawa, 2004.

[5]    Wojtuszkiewicz K., Urządzenia techniki komputerowej, PWN, Warszawa, 2007.

16.    Zalecana lista lektur uzupełniających:

Lp	Kryteria oceniania: składowe	Próg zaliczeniowy [%]	Procent składowej oceny końcowej
1	Egzamin końcowy	50	60
2	Kolokwia w czasie semestru	50	20
3	Projekt	80	10
4	Uczestnictwo w zajęciach	75	10

19.    Język wykładowy:    polski

20.    Praktyki w ramach przedmiotu: Brak

21.    Kryteria kwalifikacji na zajęcia: Brak

17. Metody nauczania:

Studia niestacjonarne
W	Ć	L	P	S	I	Razem
15	7	0	5	0	0	27

18. Metody i kryteria oceniania: