1933501533

2 CEL PRACY, TEZA I ZAKRES PRACY

Znaczne rozpowszechnienie cyfrowych multimetrów obserwowane w ostatnich latach o coraz większej liczbie zakresów i wzrastającej dokładności, wymaga stosowania ekonomicznych cenowo i wydajnych systemów testujących. Zwiększanie wydajności systemów do sprawdzania multimetrów (rys. 1.3 i 1.6) przebiega w następujących kierunkach:

•    zastosowanie programowanych cyfrowo nowoczesnych źródeł sygnałów wzorcowych w postaci uniwersalnych kalibratorów napięć i prądów stałych i przemiennych o krótkich czasach odpowiedzi [46, 47, 48, 49],

•    zastosowanie komputerów wyposażonych w specjalizowane aplikacje programowe i budowa komputerowych systemów testujących [50, 51, 52, 53],

•    automatyzacja odczytów wskazań sprawdzanych mierników z zastosowaniem magistrali interfejsowej lub systemu optycznego rozpoznawania obrazów [54, 55, 56, 57],

Dlatego większość prac poświęconych zwiększaniu wydajności systemów do sprawdzania multimetrów jest skierowana na:

•    poprawę właściwości dynamicznych kalibratorów, w szczególności skrócenie czasu odpowiedzi [7, 58, 59, 60, 61],

•    wyposażenie kalibratorów w funkcje programowe usprawniające ich stosowanie [62, 63, 64, 65],

•    opracowanie nowych algorytmów i metod testowania [66, 67],

Zastosowanie kalibratorów o krótkich czasach odpowiedzi i sterowników komputerowych wyposażonych w specjalizowane aplikacje programowe w systemach do sprawdzania multimetrów z zastosowaniem metody kalibratora kontrolnego (rys. 1.3), skróciło czas sprawdzania multimetru do tego stopnia, że w wielu przypadkach, ograniczeniem dalszego zwiększania wydajności procesu sprawdzania są właściwości dynamiczne sprawdzanego multimetru. Jednocześnie, głównie ze względu na wysoką cenę kalibratorów wysokich klas dokładności, do sprawdzania multimetrów są stosowane zdecydowanie mniej wydajne systemy z zastosowaniem miernika kontrolnego (rys. 1.6). Znane aplikacje programowe dostarczane z kalibratorami, są głównie przydatne przy stosowaniu metody kalibratora kontrolnego i praktycznie nie uwzględniają potrzeby systemów z miernikiem kontrolnym.

16