4.2.5 Pomiar profilu defektów z wykorzystaniem profilu implantacji pozytonów...........63
5. Badania warstwy wierzchniej w aluminium i jego stopach za pomocą anihilacji pozytonów
5.3 Profil defektów powstający w wyniku wciskania w powierzchnię kulistego wgłębnika
5.3.1 Rozkład naprężeń Hertza w materiale pod kulistym wgłębnikiem..........................76
5.5 Pomiary za pomocą koincydencyjnego spektrometru poszerzenia dopplerowskiego .. 120
5.6 Pomiary za pomocą wiązki powolnych pozytonów i dyfrakcji promieniowania X.....125