3725451507

3725451507



4.2.5    Pomiar profilu defektów z wykorzystaniem profilu implantacji pozytonów...........63

4.2.6    Wiązki powolnych pozytonów.................................................................................66

5.    Badania warstwy wierzchniej w aluminium i jego stopach za pomocą anihilacji pozytonów

i metod komplementarnych............................................................................................69

5.1    Klasyfikacja stopów aluminium.....................................................................................69

5.2    Anihilacja pozytonów w aluminium i jego stopach........................................................73

5.3    Profil defektów powstający w wyniku wciskania w powierzchnię kulistego wgłębnika

i piaskowania..............................................................................................................76

5.3.1    Rozkład naprężeń Hertza w materiale pod kulistym wgłębnikiem..........................76

5.3.3 Przygotowanie próbek i procedura pomiarowa........................................................80

5.3.2    Czyste aluminium.....................................................................................................82

5.3.3    Stop aluminium 6082 (AlMgSilMn).......................................................................87

5.4    Profil defektów powstający w wyniku tarcia suchego i ściskania..................................91

5.4.1    Czyste aluminium.....................................................................................................91

5.4.2    Stopy do przeróbki plastycznej.................................................................................97

5.4.3    Stopy odlewnicze i kompozyty...............................................................................109

5.5    Pomiary za pomocą koincydencyjnego spektrometru poszerzenia dopplerowskiego .. 120

5.6    Pomiary za pomocą wiązki powolnych pozytonów i dyfrakcji promieniowania X.....125

6.    Podsumowanie...................................................................................................................131

7.    Literatura............................................................................................................................135



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
§g Jkurnao ■fi A Węzeł lubelska 2019-04-06 v POMIARY ) ^ Profile 30 Eksportuj GeoJSON profil 1
2012 05 25 28 55 Rys* 4. Schemat pomiaru profilu metodą przekroju świetlnego: a/ bieg promieni, b/
freakpp054 106 I Procedura pomiaru profilu powierzchni naftalenu zależy od kształtu modelu oraz oprz
2. Pomiar parametrów R i L dławika z wykorzystaniem watomierza, amperomierza i woltomierza: a) układ
2. Pomiar parametrów R i L dławika z wykorzystaniem watomierza, amperomierza i woltomierza: Schemat
5.4.1 Higrometry i termohigrometry W pomiarach środowiskowych najczęściej wykorzystywane są higromet
/ Pomiar parametrów R i L uzwojenia z wykorzystaniem watomierza, amperomierza i woltomierza: 1 L = -
wymienia i opisuje narzędzia oraz metody pomiaru kompetencji zawodowych wykorzystywane w obszarze re
13.Pomiary bezlustrowe i skaning laserowy pomiarach inwentaryzacyjnych zabytków. Wykorzystanie
Wykonanie pomiarów Badanie przeprowadzam wykorzystując wahadło Oberbecka. 1.
(tzw. pomiar w przekroju osiowym), •    z wykorzystaniem prążków interferencyjnych,
39.    Omów istotę pomiaru temperatury przy wykorzystaniu termoelementów
3.    Pomiar stałej dielektrycznej - wykorzystuje istniejącą zależność pomiędzy
DSCF6563 82 2. Zasada pomiaru Pomiar oparty jest o wykorzystanie własności drgań skrętnych. Moment s
kompensatorów. W pracy wykorzystano profil, który charakteryzował się czasem pomiaru 9:06 min (potoc

więcej podobnych podstron