C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, Lab C e, Laboratorium miernictwa elektronicznego


Laboratorium miernictwa elektronicznego

Statystyczna analiza wyników pomiaru.

Maciej Woźnica , Wydział Elektroniki, 6 kwietnia 1998

Celem ćwiczenia było zapoznanie się ze statystyczną analizą wyników pomiarów, a szczególnie ze sposobami znajdowania i eliminowania pomiarów obarczonych błędami „grubymi”. Należało się też zaznajomić ze sposobami wyznaczania i analizy składowej przypadkowej oraz składowej systematycznej błędów pomiarów.

  1. zapoznanie się z obsługą suwmiarki.

  2. pomiar wymiarów a, b, c i ha, hb, hc trójkąta oraz zapisanie ich w komputerze.

  3. pomiary wykonywano dla wszystkich 12 trójkątów.

Po zebraniu pomiarów od wszystkich studentów, odpowiedni program komputerowy umożliwił zebranie ich w jedną całość, obliczenie automatyczne średnich i odchyleń dla każdego boku, wysokości i pola powierzchni.

Dla trójkąta nr. 5 uzyskane wyniki nie zawierają błędów grubych, dzięki czemu wszystkie odchylenia mieszczą się w spodziewanych przedziałach. Poniższa tabela zawiera zestawienie wyników uzyskanych, obarczonych błędem przypadkowym użytkownika oraz wyników jakie uzyskano by gdyby błąd wprowadzało tylko narzędzie pomiarowe.

Wynik z błędem przypadkowym

Wynik tylko z błędem systematycznym

a±Δa

95,22±0,15 [mm]

95,22±0,03 [mm]

b±Δb

86,57±0,21 [mm]

86,57±0,03 [mm]

c±Δc

76,10±0,02 [mm]

76,10±0,03 [mm]

ha±Δha

65,66±0,12 [mm]

65,66±0,03 [mm]

hb±Δhb

72,27±0,13 [mm]

72,27±0,03 [mm]

hc±Δhc

82,26±0,05 [mm]

82,26±0,03 [mm]

Pa±ΔPa

3125,8±3,0 [mm2]

3125,8±2,4 [mm2]

Pb±ΔPb

3128,2±6,9 [mm2]

3128,2±2,4 [mm2]

Pc±ΔPc

3130,0±2,2 [mm2]

3130,0±2,4 [mm2]

Ph±ΔPh

3120,4±4,6 [mm2]

3120,4±2,2 [mm2]

obliczanie błędu przypadkowego pomiaru przy założonej ufności 0,997:

0x01 graphic

obliczanie błędu standardowego przy pomocy różniczki zupełnej:

0x01 graphic

dla pola liczonego standardowo:

0x01 graphic

dla pola liczonego wzorem Herona:

0x01 graphic

(Uwaga!: Powyższy wzór uzyskano przy pomocy programu MathCAD©)

Jak widać pomiary obarczone błędem przypadkowym są mniej dokładne niż gdyby nie było tego błędu. Rozrzut ten spowodowany jest trudnością jednakowego pomiaru tego samego trójkąta przez różnych użytkowników. Dodatkowo ewentualny brak doświadczenia w używaniu przyrządu pomiarowego jakim tu była suwmiarka, czy też trudność dokonania niektórych pomiarów jak np.: wysokości mogły wprowadzić dodatkowe błędy. Widać też, pole trójkąta obliczone ze wzoru Herona obarczone jest najmniejszym błędem systematycznym.

2



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, Lab C g, Laboratorium Miernictwa Elektronicznego
Statystyczna analiza wyników pomiarów, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, Lab C c, Cezary Kozłowski
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, Lab C h, Pomiar
C Statystyczna analiza wyników pomiarów lab z mier
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, Lab C i, Sprawozdanie
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, CW3MIERN, Zespół Szkół Elektronicznych
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, miernictwo3-Marek, SPRAWOZDANIE
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, spraw.
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, statystyczna analiza wynikow pomiarów(miern), Politechnik
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, mier1
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, SP, Kozieł Piotr
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, KOREK, Marcin Kornak
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, statystyczna anaziza wyn. pomiarˇw
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, spr trˇj, x
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, m-2, Wykona˙ : Grzegorz Kozik
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, cw 1, Protokół z ćwiczenia: Statystyczna analiza wyników
Statystyczna analiza wyników pomiarów, Sprawolki
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, Statystyczna analiza wyników pomiarów, Statystyczna anali

więcej podobnych podstron