PRËBKOWANIE SYGNAúËW ANALOGOWYCH1, II ElektrycznyGrupa ˙wiczeniowa 5


II Elektryczny
Grupa ćwiczeniowa 5

LABORATORIUM Z METROLOGII

Data:

31.05.95

Mordalski Mariusz
Matys Rafał

Ćwiczenie nr 2

PRÓBKOWANIE SYGNAŁÓW ANALOGOWYCH

Ocena:

1) OKREŚLANIE CZĘSTOTLIWOŚCI GRANICZNEJ FILTRÓW:

1.1) SCHEMAT UKŁADU

0x01 graphic

1.2) TABELA POMIAROWA DLA FILTRU 1:

dla 50 Hz napięcie wynosi 2.45 V

2.45/ 2 =1.75V

Uwy

f

[V]

[Hz]

2.45

2.45

2.5

2.55

2.32

1.9

1.75

1.65

1.3

0.95

0.7

0.55

0.35

30

50

70

100

150

200

210

220

250

300

350

400

500

1.3) CHARAKTERYSTYKA UWY = f (f) DLA FILTRU 1

0x01 graphic

1.3) TABELA POMIAROWA DLA FILTRU 2:

dla częstotliwości 500 Hz napięcie wynosi 2.6 V

2.6/ 2 = 1.85 V

Uwy

f

V

Hz

2.4

2.45

2.5

2.6

2.65

2.7

2.9

2.9

3

3

2.8

2.2

1.85

1.6

1.45

0.9

0.6

0.35

100

250

300

500

600

700

1 k

1.2 k

1.5 k

2 k

5 k

7 k

8 k

9 k

10 k

12 k

15 k

20 k

1.4) CHARAKTERYSTYKA UWY = f (f) DLA FILTRU 2

0x01 graphic

2) WPŁYW CZĘSTOTLIWOŚCI PRÓBKOWANIA NA WIERNOŚĆ SYGNAŁÓW (zniekształcenia)

0x01 graphic

2.1) TABELA POMIAROWA:

fsyg

fs

zniekształcenia

Hz

Hz

bez filtra [%]

z filtrem [%]

100

100
100
100
100
100
100
100
100
100
100

200

300

400

500

800

1 k

2 k

3 k

5 k

8 k

10 k

70

54

44

38

21

2

2

1.9

1.9

1.9

1.9

45

20

10

4.4

1.6

1.5

1.5

1.5

1.5

1.5

1.5

2.2) CHARAKTERYSTYKA h = f (f)

0x01 graphic

3) ZWIELOKROTNIANIE INFORMACJI W KANALE (pomiar przesłuchu).

0x01 graphic

3.1) TABELA POMIAROWA:

f

U1

U2

he

Hz

mV

V

---

10

20

30

40

50

60

70

75

80

85

90

5

8

14

18

22

26

30

40

42

46

60

1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1

- 46

- 41.9

-37.1

-34.9

-33.2

-31.7

-30.5

-27.9

-27.5

-26.7

-24.4

3.2) CHARAKTERYSTYKA U1 = f (f)

0x01 graphic

4) WNIOSKI

Celem powyższego ćwiczenia było zapoznanie się z metodami próbkowania sygnałów analogowych. Sygnał analogowy przed próbkowaniem zostaje poddany filtracji (przepuszcza się go przez filtr dolnoprzepustowy), ograniczający wyższe częstotści akustyczne do około 3 kHz. Następnie sygnał jest próbkowany w kilku torach jednocześnie, przy czym sygnały próbkujące są przesunięte względam siebie i przesłane jednym torem przy pomocy multipleksera. Sygnał odbierany jest za pomocą demultipleksera i szereg filtrów odtwarzających pierwotny przebieg sygnałów.

Ćwiczenie to składało się z trzech części:

W pierwszej z nich wyznaczyliśmy częstotliwosci graniczne filtrów dolnoprzepustowych. Pierwszy filtr ma częstotliwość graniczną f = 210 Hz, a drugi f = 8 kHz.

Drugim punktem ćwiczenia był pomiar zniekształceń w zależności od częstotliwości. Na uzyskanej w ten sposób charakterystyce widać, że im wyższa jest częstotliwość próbkowania tym zniekształcenia są niższe.

Ostatnią częścią ćwiczenia było badanie wielkości przesłuchu między kanałami. Okazuje się, że wielkość ta jest również w bardzo dużym stopniu zależna od częstotliwości ale w odwrotnym stopniu niz zniekształcenia (im wyższa częstotliwość, tym większy przesłuch między kanałami.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
METROL1, II ElektrycznyGrupa ˙wiczeniowa 5
laborki z elektry, TRANZYS, II ElektrycznyGrupa ˙wiczeniowa 2
Miernictwo- PRÓBKOWANIE SYGNAŁÓW ANALOGOWYCH1, II ElektrycznyGrupa ?wiczeniowa 5_
REZMOST, II ElektrycznyGrupa ˙wiczeniowa 5
PIII - teoria, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektro
elektra P4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
przerzutniki, Studia, semestr 4, Elektronika II, Elektr(lab)
elektra M4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
jasiek pytania, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr
hydractive ii elektryka
Fizyka II s. Elektrostatyka 2, mechanika, BIEM- POMOCE, laborki z fizy, moje, laboratorium z fizyki,
M2, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronika i Elek
STRONA TYTUŁOWA do pr. nr 3, Inżynieria Ruchu II
(Fizyka II elektromagnetyzm [tryb zgodnosc
Wnioski do stanu jałowego trafo, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II

więcej podobnych podstron