1. Określenie działki elementarnej zmodernizowanego mikroskopu Schmaltza.
gdzie:
Wn = 806,9
Wo = 20,3
n = 100
Wr = 0,9 μm
2. Pomiar parametru Rz za pomocą zmodernizowanego mikroskopu Schmaltza.
W 1 polu pomiarowym.
gdzie:
W1 = 1926,9
W2 = 1853,4
Rz1 =
Rz1 = 13,23
W 2 polu pomiarowym.
gdzie:
W1 = 1893,7
W2 = 1816,9
Rz2 =
Rz2 = 13,824
W 3 polu pomiarowym.
gdzie:
W1 = 1851,3
W2 = 1774,3
Rz3 =
Rz3 = 13,86
Rz = 13,6 μm
Oszacowanie parametru Ra.
Ra ≅ 3,4 μm
3. Określenie parametru Ra z profilogramu.
Wartość rzędnej linii średniej
gdzie:
n = 51
⋅781
m = 15,314 mm
Wartość parametru Ra.
gdzie:
Vy = 2000
Ra = 3,7 μm
4. Określenie parametrów Rz i Rmax z profilogramu.
gdzie:
Vy = 2000
R1 ÷ R10 - podane w tabeli 5
Rz = 14,3
Rmax = 17 μm
5. Określenie parametru Rz za pomocą mikroskopu interferencyjnego.
gdzie:
λ = 0,540 μm
Rz = 0,27m
W 1 polu pomiarowym.
m =
Rz = 0,09
W 2 polu pomiarowym.
m =
Rz = 0,07
W 3 polu pomiarowym.
m =
W 4 polu pomiarowym.
m =
Rz = 0,09
W 5 polu pomiarowym.
m =
Rz = 0,07
Rz = 0,05
Przyjmuję największy parametr Rz Rz = 0,1 μm
Ra ≅
Ra ≅ 0,02 μm
6. Wnioski.
Wyniki pomiarów chropowatości toczonego wałka:
za pomocą zmodernizowanego mikroskopu Schmaltza
- Ra ≅ 3,4 μm
- Rz = 13,6 μm
za pomocą profilografometru
- Ra = 3,7 μm
- Rz = 14,3 μm
- Rmax = 17 μm
Wyniki pomiaru chropowatości płytki wzorcowej
za pomocą mikroskopu interferencyjnego
- Ra ≅ 0,02 μm
- Rz = 0,1 μm
Po wykonaniu ćwiczenia i podsumowaniu wyników mogę stwierdzić iż parametry Ra i Rz, które określiłem różnymi metodami tzn. za pomocą zmodernizowanego mikroskopu Schmaltza oraz za pomocą prolifografometru nie róznią się znacznie od siebie. Świadczy to o poprawnym wykonaniu ćwiczenia. Wyników pomiaru chropowatości powierzchni płytki wzorcowej klasy 0 za pomocą mikroskopu interferencyjnego nie jestem w stanie porównać z innymi wynikami gdyż pomiar chropowatości tej powierzchni wykonałem tylko jedną metodą.
4
- 4 -