Jeli segment 2.2X wspó³pra-
cuje z jednym lub dwoma sub-
wooferami (konfiguracja zaleca-
na), to u¿ytkownik mo¿e wybraæ
zarówno czêstotliwoæ podzia³u
z zakresu 60
÷
400 Hz, jak i na-
chylenie charakterystyki z za-
kresu 12
÷
60 dB/okt. Wówczas
program korekcyjny doskonale
zintegruje tonalnie subwoofery
i g³ówne zestawy g³onikowe
w obu dziedzinach, tj. czasu
i czêstotliwoci. Umieszczenie
subwooferów w rogach pomie-
szczenia za zestawami g³ówny-
mi nie tylko zwiêksza efektyw-
noæ i redukuje zniekszta³cenia
niskoczêstotliwociowe takiego
systemu g³onikowego, ale te¿ znacz¹co poprawia jego odpowied im-
pulsow¹. Jeli oddzielne wyjcia do subwooferów nie s¹ wykorzystywa-
ne, to wówczas ca³a moc obliczeniowa segmentu 2.2X jest wykorzysty-
wana na potrzeby zestawów g³ównych.
Przedwzmacniacz/korektor 2.2X mo¿e wspó³pracowaæ z wzmacniacza-
mi cyfrowymi TacT za pomoc¹ interfejsu RS-232 lub te¿ przy u¿yciu cy-
frowych po³¹czeñ sygna³owych (Coax, AES/EBU lub TosLink). W przy-
padku po³¹czenia przez RS-232, segment 2.2X steruje napiêciami za-
silaj¹cymi wyjciowe stopnie PWM mocy wzmacniaczy cyfrowych.
Wówczas regulacja poziomu g³onoci odbywa siê na koñcu toru od-
twarzaj¹cego, co daje przyrost dynamiki o 27 dB (stosunek S/N oraz po-
ziom zniekszta³ceñ jest wirtualnie sta³y a¿ do poziomu _ 27 dB). W przy-
padku korzystania z wyjæ/wejæ cyfrowych nie ma potrzeby stosowa-
nia przetworników c/a. S¹ one potrzebne, gdy segment 2.2X wspó³pra-
cuje z wzmacniaczami konwencjonalnymi (analogowymi). Segment
RCS 2.2X oprócz portu RS-232 ma 5 wejæ i 12 wyjæ cyfrowych sygna-
³owych. Wejcia: 3 x RCA (S/PDIF), 1 x AES/EBU (XLR) i 1 x TosLink
(S/PDIF). Wszystkie wejcia cyfrowe akceptuj¹ dane audio PCM w for-
matach 32 _ 96 kHz/16 _ 24 bity, ale tylko wejcia AES/EBU i RCA/Co-
ax akceptuj¹ czêstotliwoæ próbkowania 192 kHz. Wyjcia: dla ka¿de-
go z kana³ów g³ównych: 2 x RCA(S/PDIF), 2 x AES/EBU (XLR) i 2 x To-
sLink (S/PDIF) oraz trzy takie same wyjcia do subwooferów. Wszyst-
kie wyjcia s¹ 24-bitowe i dostosowane do czêstotliwoci 32; 44,1; 48;
88,2; 96 i 192 kHz (dla tej ostatniej czêstotliwoci z wy³¹czeniem wyj-
cia TosLink).
Zestawy g³onikowe TacT Audio
Firma TacT, choæ specjalizuje siê we wzmacniaczach cyfrowych i korek-
torach w³aciwoci akustycznych pomieszczeñ, to podjê³a siê równie¿
opracowania zestawów g³onikowych przystosowanych do wspó³pracy
z w/w urz¹dzeniami cyfrowymi. Ka¿dy z zestawów, zanim opuci wytwór-
niê, jest mierzony w komorze bezechowej i otrzymuje etykietê z wspó³-
czynnikami korekcyjnymi. Te wspó³czynniki s¹ wprowadzane np. do
wzmacniacza w celu linearyzacji charakterystyk zestawu g³onikowego.
W ten sposób wzmacniacz, który jest równie¿ wyposa¿ony w programo-
waln¹ zwrotnicê cyfrow¹, zostaje przygotowany do pracy z okrelonym
zestawem g³onikowym. Oferta g³oników obejmuje nastêpuj¹ce mode-
le: LS-1 (dwudro¿ny zestaw pod³ogowy z tweeterem wstêgowym),
MH-1 (dwudro¿ny zestaw pod³ogowy, rys. 2), C-1 (dwudro¿ny zestaw cen-
tralny), W210 (subwoofer z dwoma g³onikami 10-calowymi, rys. 2)
oraz W410 (subwoofer z czterema g³onikami 10-calowymi).
Wzmacniacze cyfrowe i korektory RCS/TCS firmy TacT mog¹ byæ wy-
korzystywane osobno lub razem lub te¿ mog¹ byæ po³¹czone w pe³no-
cyfrowy system razem z nowymi, cyfrowymi (bez zwrotnic analogowych)
zestawami g³onikowymi.
n
Zbigniew Kulka
Wykorzystano materia³y informacyjne i zdjêcia firmy TacT Audio.
Rys. 2.
Kolumna
g³onikowa MH-1
i subwoofer W210
firmy TacT
W
dwóch wa¿nych procesach produkcji pó³przewodni-
ków: plazmowym trawieniu uk³adów cienkowarstwo-
wych oraz czyszczeniu komór reakcyjnych do epita-
ksji metod¹ chemicznego osadzania z par (CVD _
Chemical Vapor Deposition) by³y przez d³ugi okres wykorzystywane
zwi¹zki chlorofluorowêglowe nazywane potocznie freonami (CFC _
chlorofluorocarbons) oraz zwi¹zki chlorofluorowêglowodorowe (HC-
FC _ hydrochlorofluorocarbons) niszcz¹ce stratosferyczn¹ warstwê ozo-
now¹ (wspó³czenie eliminowane zgodnie z ustaleniami Protokó³u Mon-
trealskiego do Konwencji Wiedeñskiej o ochronie warstwy ozono-
wej). Obecnie s¹ one zastêpowane przez fluorowêglowodory (HFC _
hydrofluorocarbons) _ np. HFC-23 oraz organiczne i nieorganiczne
zwi¹zki fluoru (PFC _ perfluorocompounds) _ zw³aszcza C
2
F
6
, CF
4
,
NF
3
i SF
6
. Nale¿¹ one do najtrwalszych i najgroniejszych gazów cie-
plarnianych (ich stosowanie jest regulowane przez Protokó³ z Kioto do
Ramowej Konwencji Narodów Zjednoczonych w sprawie zmian klima-
tu). Ich czas ¿ycia ocenia siê na 2 - 50 tys. lat, za wspó³czynnik zdol-
noci do powodowania efektu cieplarnianego (zdolnoæ absorbowa-
nia promieniowania podczerwonego) jest ok. 10 tys. razy wiêkszy ni¿
w przypadku dwutlenku wêgla. Szacuje siê, i¿ roczne zu¿ycie PFC wy-
nosi ok. 1000 ton. Obecnie stosowane technologie unieszkodliwiania
zu¿ytych PFC nie daj¹ zadowalaj¹cych rezultatów, za w wyniku ich
stosowania powstaj¹ niebezpieczne substancje (np. fluorowodór
w wyniku stosowania rozk³adu termicznego). W marcu 2001 r. ame-
rykañskie zrzeszenie przemys³u pó³przewodnikowego _ SIA(Semicon-
ductor Industry Association) dzia³aj¹c w imieniu 21 czo³owych ame-
rykañskich producentów podpisa³o z Agencj¹ Ochrony rodowiska (US
EPA) porozumienie o wspó³pracy w zakresie obni¿enia emisji PFC do
atmosfery. O skali trudnoci technologicznych zwi¹zanych z popraw¹
sytuacji w tym zakresie wiadczy doæ skromne za³o¿enie o obni¿e-
niu emisji w 2010 r. do poziomu ni¿szego o 10% ni¿ w 1995 r. [8].
Obci¹¿enie rodowiska przez produkcjê pó³przewodników wynika rów-
nie¿ z du¿ego zu¿ycia energii elektrycznej, której wytwarzanie jest zwi¹-
zane z emisj¹ szkodliwych gazów i py³ów. Badania ankietowe prze-
prowadzone w skali wiatowej przez International SEMATECH w la-
tach 1996-1998 wykaza³y, i¿ przeciêtna fabryka pó³przewodników zu-
¿ywa rocznie ok. 130 milionów kWh, co odpowiada zu¿yciu energii
przez ok. 10,8 tys. domów jednorodzinnych (w warunkach amerykañ-
skich). W przeliczeniu na jednostkê powierzchni p³ytki pó³prze-
wodnikowej rednie zu¿ycie energii wynios³o 1,15 kWh/cm
2
p³ytki.
Dotychczasowe technologie produkcji pó³przewodników cechuje
olbrzymie zapotrzebowanie na wodê o wysokiej czystoci (zdejoni-
zowan¹). Wprowadzanie do procesu produkcji struktur pó³przewodni-
kowych nowych materia³ów umo¿liwiaj¹cych zwiêkszenie czêstotli-
woci pracy, a zw³aszcza podatnej na korozjê miedzi (zamiast alumi-
nium) oraz porowatych i podatnych na uszkodzenia dielektryków
o ma³ej sta³ej dielektrycznej
1)
, systematyczne zmniejszanie rozmia-
rów elementarnych struktur
2)
(wymiaru charakterystycznego), zwiêk-
szanie powierzchni p³ytek pod³o¿owych i problemy z utrzymaniem po-
Wzrost liczby operacji mycia p³ytek pó³przewodnikowych wraz z rozwojem
technologii produkcji uk³adów scalonych [9]
1980 1983 1986 1989 1992 1995 1998 2001E
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
Pr
zeciêtna liczba operacji mycia
p³ytek pó³pr
zewodnikowych
Radioelektronik Audio-HiFi-Video 5/2003
27
ziomu uzysku produkcyjnego sprawiaj¹, i¿ ro-
sn¹ wymagania dotycz¹ce czystoci struktur.
Jednoczenie, rosn¹ca liczba warstw metalicz-
nych i operacji technologicznych wymuszaj¹
zwiêkszenie liczby operacji mycia p³ytek (w la-
tach 1980-2000 nast¹pi³ wzrost o rz¹d wielko-
ci rys.), a wraz z ni¹ ogólnego zu¿ycia wody.
Szacuje siê, i¿ zu¿ycie wody przez przeciêtn¹
fabrykê pó³przewodników odpowiada zapo-
trzebowaniu na wodê 60-tysiêcznego miasta.
Koncentracja produkcji pó³przewodników ju¿
obecnie wywo³uje w niektórych rejonach po-
wa¿ne trudnoci w zaopatrzeniu w wodê (np.
Hsinchu, Taiwan [9]). Przewiduje siê, i¿ prze-
chodzenie na produkcjê p³ytek o wiêkszej re-
dnicy (300 mm) spowoduje dalsze zwiêksze-
nie obci¹¿enia rodowiska.
Produkcja podzespo³ów
Przemys³ produkuj¹cy podzespo³y elektronicz-
ne jest bardzo zró¿nicowany pod wzglêdem
organizacyjnym i technologicznym, a zatem bar-
dzo trudno jest dokonaæ jego syntetycznej oce-
ny. Problemy zdrowotne i rodowiskowe stwa-
rzane przez produkcjê podzespo³ów biernych s¹
jednak systematycznie identyfikowane i coraz
skuteczniej rozwi¹zywane.
Polichlorowane bifenyle (PCB _ polychlorinated
biphenyls) nale¿¹ do najgroniejszych i naj-
trudniejszych do usuniêcia w skali globalnej
trwa³ych zanieczyszczeñ organicznych POPs
(Persistent Organic Pollutants). Ze wzglêdu
na niepalnoæ i dobre w³aciwoci izolacyjne by-
³y u¿ywane na du¿¹ skalê jako substancje
ch³odz¹ce w transformatorach i jako dielektry-
ki w kondensatorach i innych urz¹dzeniach
elektrycznych. Pomimo wycofania zwi¹zków
PCB z produkcji na prze³omie lat 1970-1980 wy-
stêpuj¹ one równie¿ w nowszych podzespo³ach
zawieraj¹cych zanieczyszczone regenerowa-
ne oleje mineralne oraz, oczywicie, w starych
urz¹dzeniach bêd¹cych jeszcze w eksploata-
cji i sk³adowanych na wysypiskach. PCB dosta-
j¹ siê do ³añcucha pokarmowego i kumuluj¹ siê
w organizmach zwierz¹t i ludzi wywo³uj¹c
uszkodzenia w¹troby, ledziony i nerek. Stwier-
dzono równie¿ powa¿ny wp³yw PCB na zapis
genetyczny w komórkach cz³owieka i dzia³anie
rakotwórcze. Produktami spalania PCB s¹ dio-
ksyny i furany, wród nich nadzwyczaj grona
trucizna _ czterochlorodwubenzodioksyna
(TCDD _ tetrachlorodibenzodioxin). W maju
2001 r. w Sztokholmie 122 kraje podpisa³y
konwencjê ograniczaj¹c¹ stosowanie zwi¹zków
POP, w tym PCB.
Dobre w³aciwoci elektryczne i znakomita
przewodnoæ cieplna ceramiki berylowej przy-
czyniaj¹ siê do jej stosowania w konstrukcji re-
zystorów, tranzystorów (zw³aszcza mocy, w.cz.)
i p³ytek monta¿owych. Beryl jest stosowany
równie¿ w stopach _ np. z miedzi¹ zapewniaj¹c
im wielk¹ wytrzyma³oæ i twardoæ, dziêki cze-
mu znajduje zastosowanie w elementach kon-
strukcyjnych, przekanikach i wy³¹cznikach. Ze
wzglêdu na dobr¹ przepuszczalnoæ promienio-
wania X jest u¿ywany do budowy lamp rentge-
nowskich. Beryl i jego zwi¹zki s¹ szkodliwe
g³ównie w przypadku dostania siê do organizmu
drog¹ oddechow¹, powoduj¹c uszkodzenie
p³uc (berylioza). Udowodniono rakotwórcze
dzia³anie berylu na zwierzêta oraz istnieje po-
wa¿ne podejrzenie o rakotwórczoæ w stosun-
ku do ludzi.
Znacz¹cy wp³yw na zdrowie i rodowisko wywie-
ra masowa produkcja kolorowych kineskopów _
podstawowych sk³adników odbiorników telewi-
zyjnych i komputerów. Oprócz licznych szkodli-
wych odpadów (tablica 2) problem stanowi u¿y-
wanie do produkcji bañki kineskopu szk³a o du-
¿ej zawartoci o³owiu, chroni¹cego otoczenie
przed promieniowaniem rentgenowskim. Prze-
ciêtny kineskop kolorowy zawiera wspó³czenie
ok. 1,1 kg o³owiu stwarzaj¹cego zagro¿enie
w przypadku sk³adowania zu¿ytego sprzêtu na
wysypiskach. Szacuje siê, i¿ w procesie pro-
dukcji szk³a o³owiowego w wyspecjalizowanych
hutach uwalnia siê ok. 2
÷
5 kg o³owiu na tonê
szk³a.
Bierne podzespo³y elektroniczne s¹ z regu³y po-
krywane i znakowane kolorowymi lakierami.
Du¿¹ trwa³oæ kolorów zapewniaj¹ pigmenty
wykorzystuj¹ce zwi¹zki kadmu, kobaltu i chro-
mu. Obecnoæ tych metali ciê¿kich w podzespo-
³ach elektronicznych stwarza zagro¿enie dla
zdrowia na etapach: produkcji, eksploatacji
urz¹dzeñ (uwalnianie toksycznych zwi¹zków
w przypadku przeci¹¿enia, przegrzania lub
spalenia podzespo³u) oraz zagospodarowa-
nia zu¿ytego sprzêtu.
Wymagania dotycz¹ce bezpieczeñstwa apara-
tury elektronicznej zmuszaj¹ producentów
podzespo³ów do stosowania w materia³ach
izolacyjnych, obudowach i lakierach dodatków
przeciwogniowych. S¹ to zwykle bardzo to-
ksyczne substancje: trójtlenek antymonu, kwas
fosforowy i estry kwasu fosforowego oraz zwi¹z-
ki fluoru, chloru i bromu. Szczególnie grone s¹
dalej przedstawione zwi¹zki z grup PBB i PB-
DE.
Produkcja wielu podzespo³ów biernych, podob-
nie jak produkcja pó³przewodników, obci¹¿a
rodowisko na skutek du¿ego zu¿ycia wody. Na
przyk³ad oddzia³ produkcji kondensatorów fir-
my Matsushita Components pomimo 5,5-krot-
nej recyrkulacji wody zu¿ywa ok. 1/3 ca³kowi-
tych dostaw wody 200-tysiêcznego miasta Uji
City (k. Kioto, Japonia) [12].
n
Tomasz Buczkowski
L I T E R A T U R A
[8] SIA (Semiconductor Industry Association):
www.semichips.org/
[9] A. Hand: Wafer Cleaning Confronts Increasing
Demands, Semiconductor International, 1.08.2001.
[10] K. Waczyñski, E. Wróbel: Technologie mikroelek-
troniczne, cz. 1, Metody wytwarzania materia³ów i struk-
tur pó³przewodnikowych, Wyd. Politechniki l¹skiej,
Gliwice, 2001.
[11] C. Salazar: Semiconductors from the Philippines,
Draft prepared for United Nations Environment
Programme: http://iisd.ca/susprod/semiconduct.pdf
[12] Matsushita Electronic Components Co., Ltd.:
www.matsushita.co.jp/environment/
a
a
R
RO
OD
DO
OW
WIIS
SK
KO
O
ZAGRO¯ENIA ZE STRONY
PRZEMYS£U ELEKTRONICZNEGO
(2)
1)
W technologii pó³przewodnikowej jako kryterium podzia³u mate-
ria³ów dielektrycznych przyjêto wartoæ wzglêdnej sta³ej dielek-
trycznej
(
ε
w
literaturze anglosaskiej oznaczanej k) dla dwutlenku
krzemu SiO
2
, wynosz¹c¹ 3,9. Materia³y o
ε
w
<3,9 (low-k) stosowa-
ne jako warstwy izolacyjne zapewniaj¹ zmniejszenie pojemnoci
i przes³uchów miêdzy s¹siednimi cie¿kami metalowymi.
2)
Wymiar charakterystyczny (zwany te¿ regu³¹ projektowania
[10]) jest definiowany jako rednia wartoæ szerokoci realizowa-
nych w strukturze pó³przewodnikowej linii i odstêpu miêdzy nimi.
Radioelektronik Audio-HiFi-Video 5/2003
OOppeerraaccjjaa tteecchhnnoollooggiicczznnaa
OOddppaaddyy lloottnnee
OOddppaaddyy pp³³yynnnnee
OOddppaaddyy ssttaa³³ee
Przygotowanie ekranu i maski
Opary rozpuszczalników
Zu¿yte rozpuszczalniki
Szk³o o³owiowe (st³uczone)
Nak³adanie luminoforów
Opary
Zu¿yte: fotorezyst, kwasy,
Nak³adane substancje
utleniacze, zawiesina grafitowa,
rodki powierzchniowo czynne,
roztwory luminoforów, rodki
chelatuj¹ce, aluminium, pow³oki,
substancje ¿r¹ce, rozpuszczalniki,
alkohol, amoniak, woda dejoni-
zowana, woda ch³odz¹ca
Mocowanie ekranu
_
rodek odt³uszczaj¹cy
Metale
dla elektronów rozproszonych
Przygotowanie sto¿ka
_
rodki myj¹ce, szklana
Sprzêt zanieczyszczony
i klejenie sto¿ka z ekranem
_
pasta lutownicza, woda dejonizowana
past¹ lutownicz¹, resztki
pasty, szk³o o³owiowe (st³uczone)
Mocowanie dzia³ elektronowych
_
Rozpuszczalniki, ¿r¹ce rodki czyszcz¹ce
Szk³o (st³uczone)
Wykoñczenie
VOC
Rozpuszczalniki
_
VOC: lotne substancje organiczne (volatile organic compounds)
rodki chelatuj¹ce: polepszaj¹ w³aciwoci k¹pieli trawi¹cych i galwanicznych