Laboratorium Teorii

Obwodów

Rok akad.

2014/2015

Rodzaj

studiów

SI

Temat

ćwiczenia:

Dwójniki klasyczne, elementy osobliwe i ich połączenia

Skład sekcji:

1. Marcin Mucha
2. Marcin Spannbauer
3. Filip Skoczylas
4.

Patryk Kuźma

Kierunek: Elektrotechnika
Semestr: III
Grupa: 2
Sekcja: 4

Prowadzący:
Dr inż. Piotr Holajn

Data wykonania:
11.12.2014r.

Data oddania:
18.11.2014r

Ocena:

Podpis:

1. Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z właściwościami najprostszych dwójników elementarnych

będących podstawowymi składnikami obwodów elektrycznych i elektronicznych o parametrach skupionych.

2. Wykaz przyrządów:



dwójniki klasyczne,



stanowisko do badania dwójników we współrzędnych U - I,



przewody służące do połączenia układu.

3. Schematy pomiarowe:

Rys.1. Schemat pomiarowy do badania dwójników we współrzędnych U - I

Rys.2. Schemat pomiarowy do badania układu wskazanego przez prowadzącego

Rys.3. Schemat pomiarowy do badania układu szeregowo połączonej cewki, diody i SEM oraz dołączonego do

nich równolegle SPM

4. Przebieg ćwiczenia:

Rys.4. Charakterystyka biegu jałowego na ekranie oscyloskopu

Rys.5. Charakterystyka zwarcia na ekranie oscyloskopu

Rys.6. Charakterystyka cewki rzeczywistej na ekranie oscyloskopu

Rys.7. Charakterystyka kondensatora na ekranie oscyloskopu

Rys.8. Charakterystyka diody Zenera w stanie zaporowym na ekranie oscyloskopu

Rys.9. Charakterystyka diody Zenera w stanie przewodzenia na ekranie oscyloskopu

Rys.10. Charakterystyka diody półprzewodnikowej w stanie zaporowym na ekranie oscyloskopu

Rys.11. Charakterystyka diody półprzewodnikowej w stanie przewodzenia na ekranie oscyloskopu

Rys.12. Charakterystyka rezystora na ekranie oscyloskopu

Rys.13. Charakterystyka potencjometru przekręconego w stronę zwarcia na ekranie oscyloskopu

Rys.14. Charakterystyka potencjometru który dąży w stronę nieskończoności na ekranie oscyloskopu

Rys.15. Charakterystyka zasłoniętego fotorezystora na ekranie oscyloskopu

Rys.16. Charakterystyka odsłoniętego fotorezystora na ekranie oscyloskopu

Rys.17. Charakterystyka regulowanego źródła napięciowego na ekranie oscyloskopu

Rys.18. Charakterystyka nieregulowanego źródła napięciowego na ekranie oscyloskopu

Rys.19. Charakterystyka regulowanego źródła prądowe na ekranie oscyloskopu

Rys.20. Charakterystyka regulowanego źródła prądowe na ekranie oscyloskopu

Rys.21. Charakterystyka nieregulowanego źródła prądowe na ekranie oscyloskopu

Rys.22. Charakterystyka rezystancji ujemnej na ekranie oscyloskopu

Rys.23. Charakterystyka układu zadanego przez prowadzącego na ekranie oscyloskopu

Rys.24. Charakterystyka połączonej szeregowo cewki, diody i SEM na ekranie oscyloskopu

Rys.25. Charakterystyka połączonej szeregowo cewki, diody i SEM oraz dołączonego do nich równolegle SPM

na ekranie oscyloskopu

5. Wnioski:

Na podstawie zaobserwowanych przebiegów na oscyloskopie odwzorowujących charakterystyki

prądowo-napięciowe badanych dwójników można zauważyć, iż w znacznym stopniu odpowiadają one
charakterystykom teoretycznym.