SPRAWOZDANIE
Nr ćwiczenia
302 |
Data
22.12.1999 |
Imię i nazwisko
ŁUKASZ WALOTKA |
Wydział
BM Mechatronika |
Semestr
I |
Grupa MC-2 nr lab. |
||
Prowadzący
dr hab. M. KOZIELSKA |
Przygotowanie |
Wykonanie |
Ocena |
WYZNACZANIE STAŁEJ SIATKI DYFRAKCYJNEJ
Podstawy teoretyczne:
Siatka dyfrakcyjna - zbiór dużej liczby równoległych wąskich szczelin oddzielonych równymi nieprzezroczystymi przerwami nazywamy siatką dyfrakcyjną. Uzyskuje się ją przez np. zarysowanie równoległymi rowkami płytki szklanej lub na metalowej płycie za pomocą ostrza diamentowego.
Stała siatki dyfrakcyjnej - jest to odległość między środkami sąsiednich szczelin siatki dyfrakcyjnej.
Światło jest falą elektromagnetyczną - polega na rozchodzeniu się w przestrzeni zmian natężenia pola elektrycznego i magnetycznego. W zjawiskach optycznych decydującą rolę odgrywa wektor natężenia pola elektrycznego E. Opisanie tego wektora w funkcji czasu i współrzędnych przestrzennych wystarczy do określenia fali świetlnej. Jej równanie, gdy biegnie w osi x ma postać:
(1)
gdzie: λ i T odpowiednio okres i długość fali, a ϕ0 jest fazą początkową.
Światło jako fala może ulegać dyfrakcji i interferencji. Zjawiska te wyjaśnia zasada Huyghensa mówiąca, że każdy punkt do którego dochodzi fala staje się źródłem nowej fali kulistej.
interferencja - nakładanie się dwóch lub większej liczby fal. W zależności od różnicy faz tych fal nastąpi wzmocnienie lub osłabienie ich amplitudy. Jeżeli fazy początkowe fal są jednakowe to różnica faz w punkcie nałożenia wynika z różnicy przebytych dróg.
Warunki interferencji można wyrazić zarówno przez różnicę faz Δϕ jak i różnicę dróg ΔS:
maksimum:
(2)
minimum:
(3)
k = 0,1,2,3...
Stały w czasie obraz interferencyjny obserwujemy tylko dla fal koherentnych (spójnych), których różnica faz nie zmienia się w czasie.
Dyfrakcja - zjawisko uginania się fal światła na krawędzi przeszkody wywołujące odstępstwo od prostoliniowego biegu promieni.
Dyfrakcja jest wyraźnie widoczna gdy szerokość szczeliny jest zbliżona do długości fali a * λ
Obraz dyfrakcyjny (na ogół układ szerokich ciemnych i jasnych prążków) jest wynikiem superpozycji fal elementarnych wychodzących z różnych fragmentów szczeliny. Centralne maksimum dla jednej szczeliny występuje dla kąta φ = 00 natomiast położenie kolejnych minimów określa związek:
(4)
Maksima występują w przybliżeniu w połowie odległości między sąsiednimi minimami.
Przy dwóch szczelinach powstały na ekranie obraz jest wynikiem jednoczesnego wystąpienia dwóch zjawisk: dyfrakcji na każdej ze szczelin i interferencji fal wychodzących z sąsiednich szczelin. Położenie maksimów interferencyjnych określa związek:
(5)
gdzie: d - odległość między środkami sąsiednich szczelin
m = 1,2,3,4...
Podobne zjawiska zachodzą w siatce dyfrakcyjnej gdzie ilość szczelin jest większa. Zwiększenie liczby szczelin od dwóch do N nie zmienia położenia maksimów interferencyjnych, czyli równanie (5) jest prawdziwe. Zmianie ulega ich kształt - maleje szerokość maksimów głównych i pojawia się (N - 2) maksimów wtórnych o bardzo małym natężeniu.
W celu znalezienia stałej siatki dyfrakcyjnej wykorzystuje się wzór (5), który po przekształceniu przyjmuje postać:
(6)
aby wykonać doświadczenie musimy posłużyć się zestawem ćwiczeniowym jak na rysunku:
Światło sodowe (λ = 589,6 nm) z lampy Z wpada do kolimatora K składającego się ze szczeliny Sz i soczewki S1. Wiązka wychodząca z kolimatora jest równoległa. Po przejściu przez siatkę dyfrakcyjną SD wiązka zostaje skupiona przez soczewkę S2 lunetki L, dzięki czemu obserwujemy ostry obraz szczeliny. Kolimator jest na stałe połączony z podstawą spektrometru, lunetka natomiast jest połączona z kątomierzem i może być obracana wokół osi spektrometru. Położenie lunetki odczytujemy dzięki kątomierzowi zaopatrzonemu w noniusz.
Przebieg doświadczenia:
po włączeniu lampy sodowej znajdujemy za pomocą lunetki obraz szczeliny bez siatki
naprowadzamy obraz szczeliny na skrzyżowanie nitek pajęczych i notujemy położenie lunetki (położenie prążka zerowego rzędu)
po ustawieniu siatki dyfrakcyjnej na stoliku spektrometru znajdujemy położenie prążków wyższych rzędów po prawej i lewej stronie φ l ,φ p. znajdujemy kąty ugięcia dla każdego rzędu
obliczamy stałą siatki dla każdego pomiaru oraz wartość średnią
Wyniki pomiarów:
TABELA 1: Wyniki pomiarów położenia prążków po przejściu światła przez siatkę dyfrakcyjną
Lp. |
Prążek zerowego rzędu |
Prążki I rzędu |
Prążki II rzędu |
||
|
|
Po lewej stronie φ l |
Po prawej stronie φ p |
Po lewej stronie φ l |
Po prawej stronie φ p |
1. |
370 33' |
300 54' |
440 13' |
240 11' |
510 59' |
2. |
|
300 53' |
440 10' |
240 10' |
510 59' |
3. |
|
300 52' |
440 12' |
240 9' |
510 58' |
4. |
|
300 51' |
440 11' |
240 8' |
510 59' |
5. |
|
300 53' |
440 10' |
240 9' |
510 58' |
Obliczenia:
TABELA 2: Kąty ugięcia dla prążków wyższych rzędów
Lp. |
Prążki I rzędu |
Prążki II rzędu |
||
|
Po lewej stronie φ |
Po prawej stronie φ |
Po lewej stronie φ |
Po prawej stronie φ |
1. |
60 42' |
60 40' |
130 22' |
140 26' |
2. |
60 40' |
60 37' |
130 23' |
140 26' |
3. |
60 41' |
60 39' |
130 24' |
140 25' |
4. |
60 42' |
60 38' |
130 25' |
140 26' |
5. |
60 40' |
60 37' |
130 24' |
140 25' |
Śr. |
60 41' |
60 38' |
130 24' |
140 26' |
Podstawiając do wzoru (6) wartości średnie kątów ugięcia oraz stałe (λ = 589,6 nm ; m = 1,2) możemy obliczyć stałą siatki dyfrakcyjnej.
(6)
TABELA 3: Obliczanie stałej siatki dyfrakcyjnej
Prążki |
φ |
sin φ |
Długość fali λ
[mm] |
Prążek m rzędu |
Stała siatki dyfrakcyjnej d [mm] |
|
I rzędu |
Po lewej stronie |
60 41' |
0,1164 |
589,6 ⋅10-6 |
1 |
50,65 ⋅10-4 |
|
Po prawej stronie |
60 38' |
0,1155 |
|
|
51,04⋅10-4 |
II rzędu |
Po lewej stronie |
130 24' |
0,2317 |
|
2 |
50,89⋅10-4 |
|
Po prawej stronie |
140 26' |
0,2493 |
|
|
47,3⋅10-4 |
Wartość średnia stałej siatki dyfrakcyjnej |
49,97⋅10-4 |
4. dyskusja błędów:
Podczas wykonywania doświadczenia nie można uniknąć błędów. Pojawiają się tzw. błędy pomiaru wynikające najczęściej z niedokładności przyrządów pomiarowych. Błąd maksymalny wielkości złożonej jaką w tym przypadku jest stała siatki dyfrakcyjnej możemy obliczyć za pomocą metody różniczki zupełnej określonej wzorem:
gdzie: Δz - błąd maksymalny
Δx1;Δx2 - błędy pomiaru
błąd maksymalny dla pomiarów stałej siatki dyfrakcyjnej wynosi:
Δφ = ± 1' = ± 0,0170
TABELA 4: Obliczanie błędu maksymalnego pomiaru metodą różniczki zupełnej
Prążki |
φ |
sin φ |
sin2 φ |
cos φ |
Długość fali λ
[mm] |
Prążek m rzędu |
Błąd maksymalny pomiaru [mm] |
|
I rzędu |
Po lewej stronie |
60 41' |
0,1164 |
0,0135 |
0,9932 |
589,6 ⋅10-6 |
1 |
7,3⋅10-4 |
|
Po prawej stronie |
60 38' |
0,1155 |
0,0133 |
0,9933 |
|
|
7,5⋅10-4 |
II rzędu |
Po lewej stronie |
130 24' |
0,2317 |
0,0537 |
0,9727 |
|
2 |
3,6⋅10-4 |
|
Po prawej stronie |
140 26' |
0,2493 |
0,0622 |
0,9684 |
|
|
3,1⋅10-4 |
Błąd przeciętny serii pomiarów jeżeli odchylenia indywidualne są różne obliczamy ze wzoru:
Błąd przeciętny przy wyznaczaniu stałej siatki dyfrakcyjnej |
5,4⋅10-4 |
TABELA 5: Zestawienie wyników
Prążki |
Stała siatki dyfrakcyjnej
[mm]
|
Wartość średnia stałej siatki dyfrakcyjnej [mm] |
|
I rzędu |
Po lewej stronie |
50,7 ⋅10-4 ± 7,3⋅10-4 |
50⋅10-4 ± 5,4⋅10-4 |
|
Po prawej stronie |
51⋅10-4 ± 7,5⋅10-4 |
|
II rzędu |
Po lewej stronie |
50,9⋅10-4 ± 3,6⋅10-4 |
|
|
Po prawej stronie |
47,3⋅10-4 ± 3,1⋅10-4 |
|
Wnioski:
Wyznaczanie stałej siatki dyfrakcyjnej przy użyciu stolika spektrometrycznego pozwala na dość dokładne wyznaczenie szukanej wartości. Metoda ta nie wymaga dużej liczby pomiarów, a co za tym idzie skraca się znacznie czas potrzebny na wykonanie doświadczenia. Kątomierz zamontowany w stoliku spektrometrycznym jest wyposażony w noniusz co znacznie zwiększa dokładność pomiarów.
7
φ
Sz
L
S2
SD
S1
K
Z