Pomiar stałej dialektrycznej dla powietrza:
S = 0,0531 m2 Uc = 1,5 kV C = 220 nF
U [V] |
0,80 |
1,00 |
1,20 |
1,40 |
1,80 |
2,40 |
d [cm] |
0,35 |
0,30 |
0,25 |
0,20 |
0,15 |
0,10 |
1/d [cm-1] |
2,86 |
3,33 |
4,00 |
5,00 |
6,67 |
10,00 |
Q=U*C [nAs] |
176 |
220 |
264 |
308 |
396 |
528 |
U - napięcie na kondensatorze pomocniczym
d - odległość między płytkami kondensatora
1/d - odwrotność odległości między płytkami
Q - ładunek kondensatora
C - pojemność kondensatora
S - powierzchnia okładek kondensatora
Uc - ustalone napięcie na kondensatorze pomiarowym
Wykres ładunku Q kondensatora w funkcji 1/d odwrotności odległości pomiędzy płytkami kondensatora:
Q[nAs]
1/d [cm -1]
Ze współczynnika nachylenia prostej liczymy stałą dialektryczną dla powietrza:
(zakładamy, że prosta przechodzi przez środek współrzędnych)
błąd względny
błąd bezwzględny
S = 0,0531 m2 d = 2mm C = 220 nF
Uc [kV] |
0,5 |
1,0 |
1,5 |
2,0 |
2,5 |
3,0 |
3,5 |
4,0 |
U [V] |
0 |
0,4 |
0,8 |
1,4 |
2,0 |
2,6 |
3,1 |
4,0 |
Q [nAs] |
0 |
88 |
176 |
308 |
440 |
572 |
682 |
880 |
Wykres ładunku Q kondensatora w funkcji przyłożonego napięcia Uc:
Q[nAs]
Uc[kV]
błąd względny
błąd bezwzględny
Pomiar stałej dialektrycznej dla PCV:
S = 0,0531 m2 d = 10,6 mm C = 220 nF
Uc [kV] |
0,5 |
1,0 |
1,5 |
2,0 |
2,5 |
3,0 |
3,5 |
4,0 |
U [V] |
0,2 |
0,4 |
0,8 |
1,2 |
1,8 |
2,2 |
2,8 |
3,4 |
Q=U*C [nAs] |
44 |
88 |
176 |
264 |
396 |
484 |
616 |
746 |
Q[nAs]
U[V]
Ze współczynnika nachylenia prostej liczymy stałą dialektryczną PCV:
(zakładamy, że prosta przechodzi przez środek współrzędnych)
błąd względny
błąd bezwzględny
zapis błędu bezwzględnego:
(8,79±0,18)10-12
Pomiar stałej dialektrycznej dla pleksi:
S = 0,0531 m2 d = 8,2 mm C = 220 nF
Uc [kV] |
0,5 |
1,0 |
1,5 |
2,0 |
2,5 |
3,0 |
3,5 |
4,0 |
U [V] |
0,2 |
0,6 |
1,0 |
1,6 |
2,3 |
3,0 |
3,8 |
4,6 |
Q=U*C [nAs] |
44 |
132 |
220 |
352 |
506 |
660 |
836 |
1012 |
Q[nAs]
U[V]
Ze współczynnika nachylenia prostej liczymy stałą dialektryczną pleksi:
(zakładamy, że prosta przechodzi przez środek współrzędnych)
błąd względny
błąd bezwzględny
10-12
Pomiar stałej dialektrycznej dla teflonu:
S = 0,0531 m2 d = 9,6 mm C = 220 nF
Uc [kV] |
0,5 |
1,0 |
1,5 |
2,0 |
2,5 |
3,0 |
3,5 |
4,0 |
U [V] |
0,2 |
0,4 |
0,6 |
0,8 |
1,2 |
1,5 |
1,9 |
2,2 |
Q=U*C [nAs] |
44 |
88 |
132 |
176 |
264 |
330 |
418 |
484 |
Q[nAs]
U[V]
błąd względny
błąd bezwzględny
WNIOSKI:
Wraz ze wzrostem odległości pomiędzy okładkami kondensatora, pojemność maleje, co z kolei systematycznie prowadzi do obliczania zbyt dużej stałej dialektrycznej. To jest właśnie przyczyną, dlaczego stała dialektryczna powinna być obliczana dla małej i jednocześnie ustalonej odległości pomiędzy okładkami kondensatora.
Powierzchniowe ładunki osłabiają pole elektryczne wewnątrz dialektryka pochodzące od rzeczywistych ładunków zgromadzonych na metalowych okładkach kondensatora. Osłabienie te jest wyrażone za pomocą właściwej dla danego materiału, bezwymiarowej, tzw. względnej stałej dialektrycznej.
Jeżeli ładunek rzeczywisty pozostaje na kondensatorze, w chwili gdy dialektryk jest wstawiany pomiędzy okładkami, to napięcie pomiędzy płytkami zmniejszy się w porównaniu do wartości napięcia w próżni.
Kod ćwiczenia |
Tytuł ćwiczenia |
E3 |
Stała dialektryczna różnych materiałów |
Radosław Górski
nr indeksu 133045
Mariusz Marszałek
nr indeksu 133090
Kamil Sokołowski
nr indeksu 137017