cw 5 sprawko


Nr ćwiczenia:

1. + 5.

Temat ćwiczenia + data wykonania:

Charakterystyki stałoprądowe diody p+-n.

Diody specjalne.

17.10.2006

Grupa laboratoryjna:

Wydział:

EAIiE

Kierunek, rok, grupa:

Elektronika i Telekomunikacja, rok 2A, gr. 1

Opracowanie wykonał:

Przebieg ćwiczenia:

1) Obserwacja charakterystyk diod: germanowej, pewnej diody prostowniczej oraz diody LED.

2) Obserwacja charakterystyk diod stabilizacyjnych 4.3V, 5.6V, 6.2V.

3) Przeprowadzenie dokładnego pomiaru napięcia na diodzie krzemowej metodą „punkt po punkcie” w kierunku przewodzenia.

0x08 graphic
Badania diody germanowej metodą „punkt po punkcie” oraz badania diod specjalnych metodą punktową niestety zespołowi nie udało się wykonać ze względu na złe funkcjonowanie sprzętu oraz brak czasu.

Opracowanie zebranych wyników:

1) Obserwację charakterystyk w kierunku przewodzenia diod: germanowej, pewnej diody prostowniczej oraz diody LED przeprowadzono wykorzystując układ pomiarowy zamieszczony obok. Obwód jest zasilany napięciem przemiennym. Charakterystykę obserwujemy na oscyloskopie. Otrzymane przybliżone szkice charakterystyk napięciowo-prądowych w kierunku przewodzenia umieszczono na kartce z wynikami, a także w sprawozdaniu. Na podstawie tych wykresów można wyznaczyć przybliżone wartości jednego z parametrów diod prostowniczych - napięcia zagięcia charakterystyki Uk.

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
a) ch-ka diody germanowej b) ch-ka pewnej diody prostowniczej c) ch-ka diody LED

X: 1 V/dz X: 2 V/dz X: 0,5 V/dz

Przybliżone wartości parametru Uk odczytane jako punkt przecięcia osi odciętych z linią prostą, aproksymującą duże prądy w kierunku przewodzenia, wynoszą:

a) dla diody germanowej: UK ≈ 0,8 V

b) dla pewnej diody prostowniczej: UK ≈ 3,2 V

c) dla diody LED: UK ≈ 1,25 V

2) Obserwację charakterystyk diod stabilizacyjnych przeprowadzono używając układu pomiarowego z poprzedniego punktu. Otrzymane szkice charakterystyk napięciowo-prądowych również umieszczono na dołączonej do sprawozdania kartce z wynikami oraz w sprawozdaniu. Niestety zespół nie zanotował ustawionej czułości toru Y oscyloskopu, przez co nie można określić rezystancji dynamicznej rz, rezystancji stałoprądowej Rz, a co za tym idzie współczynnika nieliniowości diody stabilizacyjnej β. Wymienione parametry można wyznaczyć za pomocą następujących zależności:

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

Można za to wyznaczyć przybliżoną wartość napięcia przebicia UZK.

0x08 graphic

0x08 graphic

a) dioda stabilizacyjna 4,3V b) dioda stabilizacyjna 5,6V

X: 1 V/dz X: 1 V/dz

0x08 graphic

Napięcie przebicia wynosi:

a) dla diody 4,3V: UZK ≈ 3,2 V

b) dla diody 5,6V: UZK ≈ 4,2 V

c) dla diody 6,2V: UZK ≈ 5,6 V

0x08 graphic

c) dioda stabilizacyjna 6,2V

X: 1 V/dz

3) Pomiar „punkt po punkcie” w metodzie dokładnego pomiaru napięcia na diodzie krzemowej w kierunku przewodzenia przeprowadzono używając układu pomiarowego zamieszczonego obok.

Dla diody krzemowej uzyskano następujące wyniki:

0x08 graphic

Na podstawie tych wyników można narysować dwa wykresy:

a) wykres pierwszy będący charakterystyką id=f(ud) diody w kierunku przewodzenia, posiadający osie w skali liniowej

b) wykres drugi będący wykresem półlogarytmicznym ln(id)=f(ud/UT) - wartość potencjału termicznego elektronów przyjęto jako UT = 25,8 mV w temperaturze T=300K

Na podstawie tych wykresów można wyznaczyć następujące parametry:

- napięcie zagięcia charakterystyki UK (wykres w skali liniowej)

- I0 - prąd rewersyjny nasycenia nośników mniejszościowych przy uR≡ud≤0 (wykres półlogarytmiczny)

- IGR0 - zerowy prąd generacyjno-rekombinacyjny w obszarze złącza p-n przy ud=UF →0 (wykres półlogarytmiczny)

0x08 graphic

0x08 graphic

Napięcie zagięcia charakterystyki dla badanej diody wynosi: Uk ≈ 0,723 V.

Zaobserwowane zakresy na ch-ce półlogarytmicznej: małoprądowy, rekombinacyjny, dyfuzyjny i dryftowy.

Prąd rewersyjny nasycenia nośników mniejszościowych wynosi: I0 ≈ 6·10-6 mA = 6 nA.

Zerowy prąd generacyjno-rekombinacyjny wynosi: IGR0 ≈ 11,2·10-6 mA = 11,2 nA.

Dla badanej diody można wyznaczyć współczynnik nieidealności (emisji) złącza p-n, korzystając z równania dla prądu diody w zakresie dyfuzyjnym:

0x08 graphic

gdzie: n - współczynnik emisji rS - rezystancja szeregowa diody

0x08 graphic
IS - efektywny prąd nasycenia diody, spełniający warunek I0≤IS≤IGR0

Należałoby obliczyć rezystancję szeregową diody. W tym celu korzystamy z zależności

gdzie ΔuD jest różnicą między zmierzonym napięciem dla danego prądu ID a napięciem dla tego samego prądu wynikającym z funkcji aproksymującej charakterystykę diody w kierunku przewodzenia (funkcja wykładnicza).

Dla prądu ID=70 mA: ΔuD ≈ 0,788-0,766 = 0,022 V.

A więc rS ≈ 0,31 Ω.

Wyznaczamy współczynnik emisji z podanego wyżej równania na prąd diody:

0x08 graphic

Przyjmujemy: iD = 0,025 mA, uD = 0,39 V, IS = 8,6 mA (najbardziej prawdopodobna wartość - średnia arytmetyczna I0 i IGR0), UT = 25,8 mV.

Po podstawieniu do wzoru otrzymujemy n ≈ 1,895.

4) Wnioski:

Ćwiczenie, pomimo że nie zostało w pełni wykonane (zepsuty sprzęt pomiarowy i ograniczenie czasowe), pokazało istotne różnice pomiędzy różnymi typami diod półprzewodnikowych na bazie złącza p-n. Przede wszystkim napięcia zagięcia charakterystyk w przypadku charakterystyk napięciowo-prądowych są wyraźnie różne dla badanych diod. Pozwala to zidentyfikować przyrząd półprzewodnikowy ze względu na materiał, z którego jest wykonany. Ważnym parametrem jest również napięcie przebicia w przypadku diod stabilizacyjnych. Jako że jest niewiele mniejsze od napięcia stabilizacji, można go wykorzystać w celu przybliżonego wyznaczenia warunków pracy diody stabilizacyjnej. Z charakterystyk diod stabilizacyjnych można również wyznaczyć współczynnik nieliniowości diody wyrażający względne zmiany prądu płynącego przez diodę do wywołanych nim względnych zmian napięcia. W ćwiczeniu jednak nie był on wyznaczony ze względu na niedostateczną ilość danych. Ćwiczenie pokazało również sposób wyznaczenia współczynnika nieidealności diody oraz rezystancji szeregowej. Parametry UK i n zgadzają się z danymi katalogowymi. Parametr rS jest zgodny z oczekiwaniami.

ud = UF [V]

id = IF [mA]

0,276

0,001

0,299

0,003

0,333

0,006

0,359

0,012

0,390

0,025

0,424

0,055

0,445

0,100

0,484

0,210

0,524

0,490

0,568

1,000

0,619

2,500

0,652

4,900

0,685

10,000

0,722

20,000

0,745

31,000

0,761

42,000

0,770

50,000

0,781

61,000

0,788

70,000

0,792

76,000















Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
PE II ćw" sprawko(ŁAP GRU)
Oddziaływanie ćw 6 sprawko
cw 3 sprawko ćw 3
PE II cw 6 sprawko
zagęszczanie, 2 rok, OGÓLNA TECHNOLOGIA ŻYWNOŚCI, cw, sprawka
wirowanie, 2 rok, OGÓLNA TECHNOLOGIA ŻYWNOŚCI, cw, sprawka
sprawko przeplyw nasze ogarnijtemat.com, SiMR inżynierskie, Semestr 4, Laboratorium Mechaniki Płynów
cw 6 sprawko do wydruku
29 ćw sprawko, Mechanika i Budowa Maszyn PWR MiBM, Semestr I, Fizyka, laborki, sprawozdania z fizyki
cw sprawko cw
tr cw 4 sprawko regulatory
otz1, 2 rok, OGÓLNA TECHNOLOGIA ŻYWNOŚCI, cw, sprawka
elektrotechnika cw 2 sprawko
SPRAWOZDANIE Z LABOLATORIUM Z FIZYKI I BIOFIZYKI cw.6, sprawka
zamrazanie, 2 rok, OGÓLNA TECHNOLOGIA ŻYWNOŚCI, cw, sprawka
sprawko 66 stała Plancka, ATH - ZiIP, Inne semestry, Fizyka - ćw, sprawka - lab
sprawko 61 sonda płomykowa, ATH - ZiIP, Inne semestry, Fizyka - ćw, sprawka - lab
barwniki- sprawozdanie-1, 2 rok, OGÓLNA TECHNOLOGIA ŻYWNOŚCI, cw, sprawka

więcej podobnych podstron