Metrologia wykład XIII


Regulator temperatury- pilnuje odpowiedniej temperatury w przestrzeni pieca. Gdy jest za zimno zwiększa ilość dostarczanego gazu.

Regulator stosunku- pilnuje stosunku gaz- temperatura dostarczając powietrze.

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
Starty energii względem ciśnienia:

0x08 graphic

Rekuperator- oszczędza energię odbierając ciepło ze spalin nagrzewając powietrze i dostarczając je do spalin.

Komputery w automatyce:
stosowanie techniki cyfrowej w układach automatyki stwarza szereg nowych możliwości, z których najważniejsze to:
-operatywna kontrola wartości wielu parametrów
-realizacja skomplikowanych reguł sterowania
-przyśpieszenie procesów przebiegających etapowo
-zwiększenie dokładności sterowania
-automatyzacja obiegu materiałów w układzie

Zastosowanie komputerów do regulacji procesów technologicznych:
regulacja procesów technologicznych wymaga trzech podstawowych czynności:
1.zebranie informacji o aktualnym stanie procesu
2.przetworzenie tych informacji i wygenerowanie sygnałów sterujących zgodnie z danym algorytmem regulacji
3.wprowadzenie sygnałów sterujących do obiektu regulacji, w którym realizowany jest proces technologiczny

Regulacja procesu realizowana może być przez system sterowania w następujących wariantach:
-
bezpośrednie sterowanie cyfrowe DDC
-sterowanie nadrzędne
-sterowanie nadrzędne z niektórymi układami DDC

Systemy pomiarowe:
system pomiarowy zazwyczaj definiowany jest jako zespół układów i urządzeń spełniających łącznie zadanie oceny wieloparametrowej badanego obiektu w sposób logicznie uporządkowany za pomocą zadanego programu. Zestaw taki może tworzyć pewien zbiór pojedynczych przyrządów obsługiwanych przez człowieka. Może to być również zautomatyzowane działanie o ograniczonym udziale operatora, lub układ w którym został on całkowicie wyeliminowany. Eliminacja udziału człowieka wynika z jego niedoskonałości oraz z lawinowo rosnących informacji. Odbiór i wykorzystanie tych informacji wymagają udziału maszyny.

E

P, Pa



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Zadanie z pasowania otwarte, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
Metrologia wykład 9
Metrologia Wykład) 09 14
Struktura źródeł błędów w procesie pomiarowym, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wyk
Wykłady z Metrologii, Wykład 3 - Omomierz Metoda Techniczna Pomiaru Rezystancji
Wykład XIII Zadania brzegowe 2D, Wykład XIII
Wyklad XIII � 05.01.2010 (Fizjologia) , Wykład - 05
Podstawy metrologii Wykład 4bBRAKNOTATEK
SWPS Wykłady, Wykład XIII Schwartzera
metrologia wyklady id 297365 Nieznany
Wykład XIII 16.01.2013, Prawo Administracyjne, Wykłady
Metrologia-sciagi, SiMR, metrologia, wykład
Wyklad XIII prezentacja
Metrologia wyklady4
Metrologia - wykład 1, Studia, ZiIP, SEMESTR VI, Metrologia
Błędy przypadkowe Metoda pośrednia, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
Metrologia wykład XII

więcej podobnych podstron