Metrologia - wykład 1, Studia, ZiIP, SEMESTR VI, Metrologia


Metrologia - pojęcie pochodzi z języka greckiego i jego tłumaczenie oznacza- miara, słowo, nauka.

Metrologia - jest dziedziną wiedzy zajmującą się pomiarami.

We współczesnym ujęciu metrologię określamy jako naukę o zabezpieczeniu środkami technicznymi i organizacyjnymi poprawności pomiarów we wszystkich dziedzinach nauki, techniki i gospodarki.

Przedmiotami metrologii są:

Działania na wymiarach tolerowanych.

Analiza wymiarowa zajmuje się badaniem zależności między niedokładności wymiarów składowych a wymiarem wynikowym. Obejmuje ona także zagadnienia związane z optymalizacją doboru wymiarów składowych.

Celem prowadzenia analizy wymiarowej jest wyznaczenie wartości wymiaru wynikowego (zależnego) lub jednego z wymiarów składowych (niezależnych).

W celu poprawnego przeprowadzenia analiz wymiarowych należy poznać zasady atematyczne obowiązujące przy wykonywaniu działań na wymiarach tolerowanych.

Działania matematyczne na wymiarach tolerowanych polegają na wyznaczeniu wartości nominalnej wymiaru wynikowego X i jego odchyłek: górnej x2 i dolnej x1 w oparciu o znane wymiary wyjściowe: 0x01 graphic

i określenie reakcje funkcyjne zachodzące między nimi.

Do podstawowych działań matematycznych na wymiarach tolerowanych zaliczamy:

Działania na wymiarach tolerowanych można prowadzić dwoma podstawowymi metodami:

  1. Metodą wymiarów granicznych - polegającą na obliczeniu wymiaru nominalnego oraz wymiarów granicznych, a następnie odchyłek

  2. Metodą rachunku różniczkowego - polegającą na obliczeniu wymiaru nominalnego z zależności: X=f(A1,A2,…,Ak,Bk+1,…,Bn) .A następnie wyznaczamy wartości odchyłek górnej i dolnej

Wartość odchyłki górnej wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

Wartość odchyłki dolnej wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

Gdzie:

Ai - wymiary zwiększające,

Bi - wymiary zmniejszające

a2i , b2i - odchyłki górne

a1i, b1i - odchyłki dolne

gdzie: 0x01 graphic
- pochdne cząstkowe

Wymiary zwiększające i zmniejszające wyznaczamy w oparciu o następujące kryteria:

0x01 graphic
0x01 graphic

Dodawanie wymiarów tolerowanych

0x01 graphic

Wymiar nominalny wyznaczamy z zależności:

X=A+B

Wymiary graniczne wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

0x01 graphic

Odchyłki graniczne wyznaczamy z zależności:

x2=(A+a2+B+b2)-(A+B)=a2+b2

x1=(A+a1+B+b1)-(A+B)=a1+b1

Sumę wymiarów możemy także zapisać jako:

0x01 graphic

Odejmowanie wymiarów tolerowanych

0x01 graphic

Wymiar nominalny wyznaczamy z zależności:

X= A-B

Wymiary graniczne wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

0x01 graphic

Odchyłki graniczne wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

0x01 graphic

Sumę wymiarów możemy także zapisać jako:

0x01 graphic

Mnożenie wymiarów tolerowanych

0x01 graphic

Wymiar nominalny wyznaczamy z zależności:

X= k*A

Wymiary graniczne wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

0x01 graphic

Odchyłki graniczne wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

0x01 graphic

Sumę wymiarów możemy także zapisać jako:

0x01 graphic

Dzielenie wymiarów tolerowanych

0x01 graphic

Wymiar nominalny wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

Wymiary graniczne wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

0x01 graphic

Odchyłki graniczne wyznaczamy z zależności:

0x01 graphic

0x01 graphic

Sumę wymiarów możemy także zapisać jako:

0x01 graphic

Łańcuch wymiarowy jest to zamknięty zespół wymiarowy następujących po sobie wymiarów, które określają rozstawienie lub położenie powierzchni lub podzespołów danego urządzenia.

W skład łańcuchów wymiarowych wchodzą tzw. ogniwa z których każde jest określone wymiarem nominalnym i odchyłkami granicznymi. Możemy wyróżnić następujące typy ogniw:

a) składowe - niezależne

b) zamykające - zależne

Ogniwo zamykające jest ogniwem którego wymiar nominalny i odchyłki graniczne wynikają z wymiarów nominalnych i odchyłek granicznych pozostałych ogniw łańcucha wymiarowego.

UWAGA! Poprawna identyfikacja ogniwa zamykającego jest warunkiem koniecznym do napisania równania łańcucha.

Metrologia wykład 1

- 3 -



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Mechanika płynów - Wykład 1, Studia, ZiIP, SEMESTR VI, Mechanika płynów (MP)
Filozofia wykład 2, Studia, ZiIP, SEMESTR V, Fizozofia
Filozofia wykład 1, Studia, ZiIP, SEMESTR V, Fizozofia
zarządzanie, Studia, ZiIP, SEMESTR VI, ZPPiU
Makroekonomia - Wykład 5, Studia, ZiIP, SEMESTR II, Makroekonomia
Makroekonomia - Wykład 6, Studia, ZiIP, SEMESTR II, Makroekonomia
PNOM WYKŁAD 1, Studia, ZiIP, Semestr I, PNOM
Matematyka - Wykład 1, Studia, ZiIP, SEMESTR II, Matematyka
KARTA NORMOWANIA CZASU OBROBKI SKRAWANIEM 2 wersja 1 , Studia, ZiIP, SEMESTR VI, Technologia maszyn
!Pomoce OU tylko od prowadzącego, Studia, ZiIP, SEMESTR VI, Obróbka ubytkowa
KARTA TECHNOLOGICZNA, Studia, ZiIP, SEMESTR VI, Technologia maszyn
TOCZENIE, Studia, ZiIP, SEMESTR VI, Obróbka ubytkowa
Makroekonomia - Wykład 7, Studia, ZiIP, SEMESTR II, Makroekonomia
Makroekonomia - Wykład 2, Studia, ZiIP, SEMESTR II, Makroekonomia
Makroekonomia - Wykład 3, Studia, ZiIP, SEMESTR II, Makroekonomia
Materiały ceramiczne wykład 1, Studia, ZiIP, SEMESTR III, Materiały Ceramiczne (MC)
Odpowiedzialność Materialna Pracownika, Studia, ZiIP, SEMESTR VI, EPP

więcej podobnych podstron