Nr ćw. 206 |
Data 8.03.2010 |
Marek Szczecińśki | Wydział Fizyki Technicznej |
Semestr II | Grupa FT-3 |
---|---|---|---|---|---|
prof. nadzw. PP.M.Kozielska | Przygotowanie | Wykonanie | Ocena |
TEMAT: POMIAR STOSUNKU e/m METOD ODCHYLE W POLU MAGNETYCZNYM.
1. Wiadomoci wstpne.
Na posiadajc adunek elektryczny czstk, poruszajc si w polu elektrycznym i magnetycznym, dziaa sia, zwana si Lorentza, okrelona wzorem:
, (1)
gdzie: q - adunek czstki, v - jej prdko, E - natenie pola elektrycznego, B - indukcja magnetyczna.
Dziaanie obu pl prowadzi w oglnym przypadku do zmiany wektora prdkoci - w polu elektrycznym moe si zmienia kierunek i warto prdkoci, natomiast w polu magnetycznym warto prdkoci pozostaje staa, zmienia si jedynie jej kierunek.
Nabj waciwy jest to iloraz adunku czstki do jej masy (q/m). W celu okrelenia naboju waciwego elektronu (e/m) mona posuy si lamp oscyloskopow z odchylaniem magnetycznym w kierunku Y. Pole magnetyczne wytwarzane jest w wyniku przepywu prdu przez uzwojenie umieszczone na zewntrz lampy. Indukcja magnetyczna B jest wprost proporcjonalna do natenia prdu I:
. (2)
Wspczynnik p-roporcjonalnoci c okrelony jest empirycznie. Po wyjciu z obszaru pola magnetycznego elektrony biegn w linii prostej i w kocu uderzaj w ekran fluorescencyjny wywoujc jego wiecenie. Warunek rwnowagi siy odchylajcej w obszarze pola magnetycznego i siy bezwadnoci wyraa rwnanie:
, (3)
gdzie R jest promieniem krzywizny toru. Szukan wielko e/m mona na podstawie tego rwnania przedstawi w postaci:
. (4)
Prdko mona wyrazi poprzez napicie Ua, przyrwnujc energi kinetyczn do pracy wykonanej przez pole elektryczne na drodze midzy katod i anod:
. (5)
Obliczon z powyszego rwnania prdko wstawiamy do rwnania (4), podnosimy do kwadratu po czym otrzymujemy:
. (6)
Promie krzywizny R mona natomiast wyrazi w postaci:
, (7)
gdzie: l - odlego ekranu lampy oscyloskopowej od rodka cewki, d - rednica cewki odchylajcej, y - odchylenie plamki na ekranie wzgldem pooenia przy B = 0.
Wstawiajc (2) i (7) do (6) otrzymujemy ostateczne wyraenie, z ktrego mona wyliczy stosunek e/m na podstawie prostych pomiarw odchylenia i prdu:
. (8)
2. Wyniki pomiarw.
Lp | I | Odchylenie y[m] |
---|---|---|
- | [mA] | Polaryzacja dodatnia |
1 | 5 | 0.002 |
2 | 10 | 0.012 |
3 | 15 | 0.018 |
4 | 20 | 0.022 |
5 | 25 | 0.028 |
6 | 30 | 0.033 |
7 | 35 | 0.039 |
8 | 40 | 0.046 |
9 | 45 | 0.051 |
10 | 50 | 0.058 |
11 | 55 | 0.063 |
12 | 60 | 0.070 |
13 | 65 | 0.075 |
14 | 70 | 0.082 |
3. Obliczenia.
Korzystajc ze wzoru (8) na obliczenie stosunku e/m otrzymujemy:
,
gdzie k = const. i jest charakterystyczna dla kadej lampy oscyloskopowej. W naszym przypadku .
Błędy obliczono metodą różniczki zupełnej dla każdego pomiaru, a następnie wyznaczono ich wartość średnią:
L.p | Polaryzacja ujemna | Polaryzacja dodatnia |
---|---|---|
e/m[C/kg] | de/m[C/kg] | |
1 | 1.1952E+12 | 4,46208E+11 |
2 | 5,312E+11 | 1,43424E+11 |
3 | 3,68889E+11 | 78696296296 |
4 | 2,988E+11 | 52788000000 |
5 | 2,60288E+11 | 39266304000 |
6 | 2,36089E+11 | 31085037037 |
7 | 2,19527E+11 | 25646274052 |
8 | 2,075E+11 | 21787500000 |
9 | 1,9838E+11 | 18916257888 |
10 | 2,075E+11 | 17430000000 |
11 | 2,00023E+11 | 15543885800 |
12 | 2,075E+11 | 14525000000 |
13 | 1,88788E+11 | 12760768320 |
14 | 1,95812E+11 | 12077830904 |
Gdzie: E+11=
Uśredniając powyższe pomiary i obliczenia otrzymałem wartość stosunku e/m i
odchylenie standardowe:
Dla polaryzacji ujemnej: e/m = 2,6447E+11 [C/kg],
a odchylenie standardowe s = 2,03592E+11 [C/kg].
Dla polaryzacji dodatniej: e/m = 1,40961E+11 [C/kg],
a odchylenie standardowe s = 31959270696 [C/kg].
Korzystając ze średniej arytmetycznej dla polaryzacji ujemnej i dodatniej e/m oraz
całkowitego odchylenia standardowego otrzymałem
Ostatecznie :
4. Wnioski.
Porwnujc z tablicami warto dokadn naboju waciwego elektronu (1.7588047⋅1011 C/kg) widzimy, e otrzymana warto jest poprawna. Pewien bd moe wynika z niedokadnoci amperomierza oraz z bdw wnoszonych przez lamp oscyloskopow, m.in. duej wielkoci plamki na ekranie i niedokadnoci podziaki umieszczonej na ekranie ( błąd paralaksy ), jak i też niedokładności pomiarów.