→Potencjał punktu w przestrzeni - praca przeniesienia jednostkowego ładunku do tego punktu z nieskończoności; jednostka [V ( =J/C)]
→Potencjał elektrody - siła elektromotoryczna ogniwa złożonego z danej elektrody i odpowiedniej elektrody porównawczej. Umowna standardowa elektroda odniesienia jest oparta na reakcji: 2H++2e-=H2.
→Elektrody odniesienia pierwszego rodzaju – metal w równowadze z rozpuszczalna solą: Cu2++2e-<=>Cu (Potencjał kontrolowany przez stężenie jonów Cu2+)
→Elektroda odniesienia drugiego rodzaju, metal w równowadze z trudno rozpuszczalna solą i roztworem zawierającym anion wchodzący w skład soli: Ag Ag++e- (Stężenie jonów Ag+ utrzymuje potencjał równowagowy)/ AgCl Ag++Cl- (Stężenie jonów chlorkowych reguluje stężenie jonów Ag+. [Ag+][Cl-] = const) P.P. WYMAGANIA →Odpowiedź częstotliwościow (zdolność do wykrywania niewielkich zmian, często mało istotna przy pomiarach korozyjnych) →Rozdzielczość jest to zdolność do wykrywania małych zmian potencjału przy pomiarach dużych wartości (dla większości pomiarów korozyjnych rozdzielczość 1 mV jest wystarczająca; w pomiarach szumu elektrochemicznego i badaniach pokrewnych może być konieczne zastosowanie przyrządów o rozdzielczości 1mV) →Czułość jest to zdolność do pomiarów małych wartości →Precyzja lub dokładność jest zdolnością do uzyskiwania ‘prawdziwych’ wartości →Miernik analogowy/ magnetoelektryczny [niska impedancja, słaba odpowiedź częstotliwościowa, niska czułość, niska rozdzielczość, słaba precyzja] →Miernik analogowy /elektroniczny [wysoka impedancja, słaba odpowiedź częstotliwościowa, możliwa wysoka czułość, niska rozdzielczość, słaba precyzja] →Electrometr (cyfrowy) [bardzo wysoka impedancja, słaba odpowiedź częstotliwościowa, wysoka czułość rozdzielczość i precyzja] →Oscyloskop [wysoka impedancja i odpowiedź częstotliwościowa, słaba rozdzielczość i pecyzja, średnia czułość] →Szereg napięciowy metali: Nie daje informacji o szybkości korozji ○ Metale aktywno-pasywne mogą charakteryzować się skrajnie różnymi potencjałami ○
Niewielkie zmiany w składzie elektrolitu mogą powodować duże zmiany potencjału ○ Potencjały mogą być zmienne w czasie. →Wykresy Pourbaix: podają informacje o możliwości istnienia w stanie równowagi metalu, jego jonów lub związków, Rozpatrywany jest układ metal-woda w warunkach standardowych, dotyczą tylko czystych metali w roztworach nie zawierających substancji kompleksujących lub tworzących z metalami sole trudno rozpuszczalnych →Metale odporne termodynamicznie, np.: Ag, Au, Pt →Metale nieodporne termodynamicznie i znajdujące się w stanie pasywnym, np.: Cr, Al., Ti →Metale nieodporne termodynamicznie i znajdujące się w stanie aktywnym, np.: Fe, Zn, Cd.
Do najczęściej badanych parametrów powłok należą:
Grubość warstwy mokrej; Grubość warstwy suchej; Twardość; Szczelność; Przyczepność.
Metody badania powłok mokrych: pomiar przybliżony, stosowany w celu sprawdzenia grubości w procesie aplikacji;
TS - grubość warstwy suchej, [µm]
Tm - grubość warstwy mokrej, [µm],
p - zawartość części lotnych w wyrobie, [%]
dw - gęstość wyrobu, [g/cm3],
dr - gęstość rozpuszczalnika
Metody badania powłok suchych: za pomocą mierników mechanicznych [Stosowany do podłoży stalowych; Grubość powłoki wywiera wpływ na zmianę przyciągania magnetycznego; Wartość odczytuje się jako miejsce zatrzymania wskazówki, po oderwaniu stałego magnesu od powłoki. Szeroki zakres pomiarowy; Duży błąd pomiaru oraz brak możliwości kalibracji]; za pomocą mierników elektronicznych [podłoża ferromagnetyczne: Działają na zasadzie indukcji magnetycznej; Ocena grubości powłok niemagnetycznych na podłożach magnetycznych (lakiery, farby, tworzywa sztuczne, emalie, gumy, ceramika, powłoki galwaniczne); Kształt próbek dowolny; Szeroki zakres pomiarowy/ podłoża nieferromagnetyczne: Działają na zasadzie prądów wirowych, Ocena grubości powłok niemagnetycznych na podłożach niemagnetycznych (lakiery, farby, tworzywa sztuczne, emalie, gumy, ceramika, powłoki galwaniczne), Kształt próbek dowolny, Szeroki zakres pomiarowy]; za pomocą mierników ultradźwiękowych: [Nieniszczący pomiar grubości powłok z farb, lakierów, plastików i innych pokryć izolacyjnych. Możliwość oceny grubości całkowitej powłoki wielowarstwowej, jak i grubości poszczególnych warstw; Współpraca z komputerami i drukarkami wyników]; za pomocą mierników ingerencyjnych: [Praktyczne zastosowanie ma metoda nacięć klinowych; Grubości powłok na metalu, drewnie, plastikach; Można wyznaczyć grubość całkowita powłoki jak i poszczególnych warstw] Pomiar twardości powłoki: Metody wahadłowe – tylko w laboratorium [Twardość powłoki wg metody A - twardość określana czasem wyrażonym w sekundach,
w którym następuje zanikanie wahań wahadła opartego na powłoce. Wahadło Köeniga - Twardość względna > 0,5; Kulki ze stali stopowej twardość HRC 63 ± 3 & d = 5 ± 0.05 mm; Okres wahań 1,4 ± 0,02s; Stała szklana 250 ± 10 s; Masa 200 ± 0,2g. Wahadło Persoza - Twardość względna < 0,5; Kulki ze stali stopowej twardość HRC 59 ± 1 & d = 8 ± 0.05 mm; Okres wahań 1,0 ± 0,01s; Stała szklana 420 s; Masa 500 ± 0,1g. Płytki do badań powinny być gładkie i równe. Grubość powłoki powinna wynosić 30 ±5 µm.
Twardość powłoki wg metody B - twardość określona odwrotnością długości wciśnięcia pozostawionego na powłoce przez element wciskający. Aparat Buchholz’a - zasada pomiaru polega na badaniu zagłębienia narzędzia w materiał. Długość śladu pozosta-wionego przez ciężarek o określonych normą kształcie i wadze. Częścią zasadniczą przyrządu jest element wciskający w kształcie podwójnego stożka ściętego;
Twardość elementu wciskającego – co najmniej 61 HRC;
Materiał – stal nierdzewna; Siła działająca na powłokę – 4,90 ± 0,05 N]; Metody ołówkowe [jest własnością charakteryzującą odporność powłoki lakierowej na wtłaczanie ostrza określonego ołówka powierzchnię powłoki; do badania powłok i pokryć lakierowych z wyjątkiem powłok matowych oraz powłok z wyrobów zawierających pigment w postaci łusek; ZASADA: Polega na rysowaniu badanej powłoki ołówkiem o stopniowanej twardości i wybraniu ze zbioru ołówków dwóch kolejno po sobie następujących, z których bardziej miękki daje ślad grafitu a twardszy pozostawia na powłoce widoczne wgłębienie; POTRZEBNE: Zestaw ołówków składający się z 17 ołówków, Waga uchylna o maksymalnym obciążeniu 2kg, Papier ścierny o ziarnistości 400]; Metoda badania śladu odcisku; Metoda zadrapań