spr6

Sprawozdanie z laboratorium miernictwa elektronicznego z dnia 20.11.2013

POMIARY PARAMETRÓW SYGNAŁOW METODĄ CYFROWEGO

PRZETWARZANIA SYGNAŁU

Wykaz przyrządów:

Cel ćwiczenia:

Opracowanie ćwiczeń:

1. Ocena wpływu parametrów przetwarzania AC na błąd wyznaczania parametrów sygnału

Schemat połączeniowy

1.1. Badanie wpływu liczby próbek

W trybie symulacji (dla nieskończonej liczby bitów przetwornika) dla podstawowych kształtów sygnału (sinus, trójkąt, prostokąt) zmieniano liczbę analizowanych próbek N=32, 64,128, 512,2048. dla fp=128Hz

a) sinusoidalny

liczba próbek Usk[V] k Uśr[V] Umax[V] Umin[V]
32 3,4798 1,1209 3,1043 5,0000 -5,0000
64 3,5355 1,1109 3,1824 5,0000 -5,0000
128 3,5355 1,1109 0,0000 5,0000 -5,0000
512 3,5355 1,1109 0,0000 5,0000 -5,0000
2048 3,5355 1,1109 0,0000 5,0000 -5,0000

b) Trójkątny

liczba próbek Usk[V] k Uśr[V] Umax[V] Umin[V]
32 2,8190 1,1639 2,4218 5,0000 -5,0000
64 2,8874 1,1549 2,5000 5,0000 -5,0000
128 2,8874 1,1549 0,0000 5,0000 -5,0000
512 2,8874 1,1547 0,0000 5,0000 -5,0000
2048 2,8874 1,1547 0,0000 5,0000 -5,0000

c) Prostokąt

liczba próbek Usk[V] k Uśr[V] Umax[V] Umin[V]
32 5,0000 1,0000 0,0000 5,0000 -5,0000
64 5,0000 1,0000 0,0000 5,0000 -5,0000
128 5,0000 1,0000 0,0000 5,0000 -5,0000
512 5,0000 1,0000 0,0000 5,0000 -5,0000
2048 5,0000 1,0000 0,0000 5,0000 -5,0000

Ostatnia tabela pokazuje nam, ze sygnał prostokątny nie jest najlepszym przykładem do pokazania tej właśnie zależności. Podobnie jest dla sygnału sinusoidalnego, gdzie Usk wynosiło zawsze Usk=3,5355 V. Dla kształtu sinus i prostokąt współczynnik kształtu k nie zmieniał się. W przebiegu trójkątnym współczynnik kształtu zmieniał się wraz ze wzrastająca liczbą próbek przez co zbliżał się do swojej wartości wzorcowej = . Wpływ zwiększania liczby próbek na otrzymane parametry sygnału najlepiej obrazuje tabel przebiegu trójkątnego.

liczba próbek sinusoida trojkąt prostokąt
Usk[V] ∆Usk[V] Usk[V]
32 3,4798 -0,056 2,8190
64 3,5355 -0,00003 2,8874
128 3,5355 -0,00003 2,8874
512 3,5355 -0,00003 2,8874
2048 3,5355 -0,00003 2,8874

Wartość błędu ∆Usk[V] wyznaczono z zależności: ∆Usk=Usk- Uskwzorc.

Wartości wzorcowe Usk sygnałów wyznaczono ze wzosu

Po wyliczeniu całki dla poszczególnych sygnałów otrzymano następujące wzory:

dla kształtu sinusoidalnego :

Uskwzorc= $\frac{\text{Um}}{\sqrt{}2}$

dla kształtu krójkątnego:

Uskwzorc= $\frac{\text{Um}}{\sqrt{}3}$

dla kształtu prostokątnego:

Uskwzorc=Um

Gdzie Um=5V

Przykładowe obliczenia:

∆Usk= 3,4798-3,5355= -0.0557V

W trybie pomiaru (dla liczby bitów przetwornika: 12) dla podstawowych kształtów sygnału (sinus, trójkąt, prostokąt) zmieniano liczbę analizowanych próbek N=32, 64,128, 512. dla fp=128Hz

liczba próbek sinusoida trojkąt prostokąt
Usk[V] ∆Usk[V] Usk[V]
32 2,8659 -0,66963390 2,9524
64 2,8670 -0,66853390 2,9553
128 2,8666 -0,66893390 2,9527
512 2,8668 -0,66873390 2,9531

Wyraźnie widać, ze wraz ze zwiększaniem liczby próbek wartości Usk i k zbliżają się do swoich wartości wzorcowych.

1.2 Badanie wpływu okna czasowego

W trybie pomiaru (dla liczby próbek 256) dla podstawowych kształtów sygnału (sinus, trójkąt, prostokąt) zmieniano liczbę bitów dla fp=128Hz

liczba bitów sinusoida trojkąt prostokąt
Usk[V] ∆Usk[V] Usk[V]
3,5355 -0,00003390 2,8874
14 3,5354 -0,00013390 2,8874
12 3,5354 -0,00013390 2,8872
10 3,5359 0,00036610 2,8873
8 3,5334 -0,00213390 2,8862
6 3,5347 -0,00083390 2,8811

Wyraźnie widać, ze wraz ze zwiększaniem liczby bitów Usk rośnie dokładność wyniku.

a fp Usk[V] Uśr[V] ∆Usk[V]
2 481 3,4669 0,1054 -0,06864
4 492 3,5045 0,0956 -0,03103
8 504 3,5516 0,0321 0,01607
32 510 3,6132 0,0127 0,07767

T w =a·T s +T s /8 (gdzie a=2,4,8,32)

f p = N·f s /(a+0,125)

fp= $\frac{512}{32*\frac{1}{32} + \frac{1}{8}*\frac{1}{32}}$=$\frac{512}{\frac{1}{256} + 1} = 512*\frac{256}{257} \approx 510$Hz

Jak widać okno czasowe pomiaru nie będące wielokrotnością okresu dla typowych kształtów sygnałów wpływa na pomiary i wprowadza dodatkowe błędy.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Metale i półprzewodniki spr6 spr6
Spr6
spr6, studia, bio, 3rok, 6sem, biotechnologia, lab
spr6, Doświadczenie dotyczyło pomiaru modułu Younge'a E oraz wsp
Arch spr6
spr6 1 E poprawione (1)
SPR6, studia - mechatronika UWM, rok I sm I i II, nauka o materialach
spr6
spr6
lab spr6
spr6
spr6
spr6(wykres)
mac2 spr6 mój
spr6
spr6
spr6

więcej podobnych podstron