Metrologia Zener Sprawko

POLITECHNIKA POZNAŃSKA

Wydział Elektryczny

Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej

Zakład Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej

Przedmiot: Laboratorium Metrologii

Ćwiczenie nr: 2

Temat: Badanie stabilizowanego źródła napięcia.

Rok akademicki: 2012/2013

Kierunek: Elektrotechnika

Rok studiów: 2

Semestr: 3

Nr grupy: E7-2-1

Uwagi:
  1. Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia jest wyznaczenie współczynnika stabilizacji i rezystancji wewnętrznej badanego źródła na podstawie charakterystyk ΔUwy=f(Uwe), ΔUwy=f(I0).

  1. Schemat układu pomiarowego:

  1. Przebieg ćwiczenia:

  1. Pomiary wykonywane były w celu wyznaczenia charakterystyki:

Wyznaczyliśmy napięcie źródła pomocniczego Up dla prądu I0=0 A na woltomierzu V3

V3=(5,30±0,04)V

Tab.1

V1=15V kl.0,5

V3=7,5 V kl.0,5

mV=150mV kl.0,5

mA=7,5mA kl.0,5

Przykładowe obliczenia dla Tab. 1 dla pomiaru nr 2

δUwe = 0.5· $\frac{15}{11}$ = 0.68%

δΔUwy = 0.5 · $\frac{150}{35}$ = 2,14%

S=$\ \frac{(60 - 35) \bullet 10^{- 3}}{12 - 11}$ = 0,025

δS = 2,14%+$\ \frac{0.625\% \bullet 12 + 0.68\% \bullet 11}{12 - 11}$ = 17%

Charakterystyki: Zał 1.

Następnie pomiary były wykonywane by wyznaczyć charakterystykę

Wyzerowaliśmy prąd I0 , ustawiliśmy stałą wartość napięcia wej. Uwe=(10,00±0,08)V

V3=(5,30±0,04)V

L.p Io δIo ΔUwy δΔUwy Rw δRw Uwagi
- mA % mV % - % -
1 1 3,750 27,5 2,727 18,000 10,227 Uwe=10V=const.
2 2 1,875 45,5 1,648 19,500 9,148 Up=5,3V
3 3 1,250 65 1,154 25,000 8,654  
4 4 0,938 90 0,833 25,000 8,333  
5 5 0,750 115 0,652 30,000 8,152  
6 6 0,625 145 0,517 35,000 8,017  
7 7 0,536 180 0,833 - -  

Wzory wykorzystane do obliczeń:

Przykładowe obliczenia dla Tab.2 dla pomiaru nr 2

δIo = 0.5 ∙$\ \frac{7,5}{2}\ $=1,88%

δΔUwy = 0.5 ∙ $\frac{150}{45,5}$ = 1,65%

Rw = $\frac{(65 - 45,5) \bullet 10^{- 3}}{(3 - 2) \bullet 10^{- 3}}$ = 19,5

δRw = 1,65%+$\frac{1,25\% \bullet 3 + 1,88 \bullet 2}{3 - 2}$ = 9,15

Obliczanie błędów bezwzględnych:


$$Uwe = \frac{\delta_{\text{Uwe}}\ \bullet Uwe}{100}$$


$$\left( Uwy \right) = \frac{\delta_{Uwe\ \ } \bullet Uwe}{100}$$


$$Io = \frac{\delta_{\text{Io}} \bullet Io}{100}$$

Uwe = $\frac{0.75\ \bullet 10}{100}$ = 0.075

(Uwy= $\frac{2,143 \bullet 35}{100}\ $= 0,75

Io= $\frac{1,875 \bullet 2}{100}\ $= 0.0375

  1. Wykresy

Zał.1 wykresy ΔUwy=f(Uwe), oraz S=f(Uwe) i Zał2 wykresy ΔUwy=f(I0), oraz Rw=f(Io)

  1. Wnioski

Poznaliśmy zasadę działania diody Zenera. Wyznaczyliśmy charakterystyki S oraz Rw.

Z pomiarów można zaobserwować paraboliczną zmianę współczynnika stabilizacji S w zależności od napięcia zasilania, który stabilizuje się w okolicach (12[V]), dioda ma wtedy najlepsze właściwości stabilizacyjne. Można to wytłumaczyć tym, że im wyższe napięcie zasilania od napięcia Zenera (ale tylko o kilka woltów) ustala punkt pracy naszej diody w bardziej korzystnym miejscu, tzn. tam gdzie charakterystyka jest bardziej stroma. Im niższe napięcie tym punkt pracy diody znajduje się bliżej zagięcia charakterystyki, w którym dioda traci właściwości stabilizacyjne a współczynnik stabilizacji osiąga największą wartość.

Dioda chcąc utrzymać stałe napięcie przy zwiększonym prądzie obciążeniu musi zmniejszyć przepływający przez siebie prąd. Punkt pracy przesuwa się teraz do góry, tam gdzie dioda ma gorsze właściwości stabilizacyjne.

Z dalszych pomiarów wynika, że rezystancja wewnętrzna zasilacza wzrasta wraz ze wzrostem obciążenia. Ma to ścisły związek z tym co napisałem wyżej, że dioda chcąc utrzymać stałe napięcie na odbiorniku musi zmniejszyć przepływający przez nią prąd. Od strony zacisków zasilacza widziane jest to jako zwiększenie jej rezystancji.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
metrologia gwinty sprawko
Półprzewodniki ZENER SPRAWKO, PWr, Automatyka i Robotyka, II semestr, Fizyka 3.3, Laboratoria
metrologia sprawko, Szkoła, Semestr 5, Metrologia II, Metrologia II, Sprawko meteo
Metrologia elektroniczna sprawko cw1 doc
sprawko metrologia ćw 2
Sprawko metrologia cw 4
Sprawko metrologia lv2a
Pomiary chropowatości powierzchni - sprawko 3, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Pomiary średnic i odległości otworów z zastosowaniem metod numerycznych - sprawko 4, Uczelnia, Metro
sprawko metrologia nr 5
sprawko metrologia
Sprawko z metrologii
metrologia sprawko
sprawko napedy pneumatyka, AGH, semestr 5, Metrologia (Jastrzębski), z chomika, pneumatyka sprawko,
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
metrologia sprawka, AGH
Statystyczna kontrola jakości geometrycznej wyrobów - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Pro
cw1, Semestr II, Podstawy metrologii, Sprawka
Podstawy doboru przyrządów pomiarowych - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty

więcej podobnych podstron