miernictwo wyklad 10, INNE MATERIAŁY


POMIAR PARAMETRÓW SYGNAŁÓW NAPIĘCIOWYCH METODĄ PRÓBKOWANIA I CYFROWEGO PRZETWARZANIA SYGNAŁU.

( Zastosowanie przetworników A/C mierzących wartości chwilowe do pomiaru parametrów sygnałów)

PRÓBKOWANIE I KWANTOWANIE - CYFROWE PRZETWARZANIE SYGNAŁU

Analogowy sygnał napięciowy jest sygnałem ciągłym pod względem czasu i amplitudy.

Sygnał dyskretny względem czasu powstaje w wyniku próbkowania sygnału analogowego w dyskretnych chwilach czasowych bez kwantowania w amplitudzie.

Sygnały cyfrowe uzyskuje się z sygnału spróbkowanego po przetworzeniu analogowej wartości próbki w przetworniku A/C na wartość cyfrową, czyli po skwantowaniu wartości próbki.

PRÓBKOWANIE - pobieranie wartości chwilowych sygnału analogowego w określonych chwilach - ograniczymy się do próbkowania równomiernego tzn do próbkowania ze stałym odstępem czasu TS ( ze stałą częstotliwością fS ).

Matematycznie możemy przedstawić próbkowanie jako przemnożenie badanego sygnału przez sygnał jednostkowy δ(t) (tzw deltę Diracka ) spełniający następującą zależność

δ(t) = 1 dla t = k TS

δ(t) = 0 dla t ≠ k TS

u(t)= Um sinωt → Um sinωk TS = u(k TS )

u(k TS ) = u(t)* δ(t) .

Z jaką częstotliwością należy próbkować sygnał aby nie utracić informacji o sygnale próbkowanym?

Twierdzenie Kotielnikowa-Shanona określa wymaganą częstotliwość próbkowania sygnału.

Sygnał ciągły o szerokości widma fmax ( nie zawierający harmonicznej większej od fmax) może być jednoznacznie określony na podstawie próbek czasowych u(k TS )jeśli próbki pobierane są z częstotliwością :

fS>2fmax

Twierdzenie dotyczy próbkowania sygnałów określonych w nieskończonym przedziale czasu. Rzeczywiste sygnały próbkowane są w określonym czasie TW - tzw oknie czasowym (dysponujemy skończonym zbiorem N próbek)

Okno czasowe TW określa liczba zebranych próbek i okres próbkowania Ts .

TW=N* TS

Spróbkowany i skwantowany sygnał stanowi teraz zbiór próbek
{u(i)}= U0, U1, U2,...... UN-1,

Jak ze zbioru skwantowanych próbek zebranych w oknie czasowym Tw, określić parametry sygnału?

ESTYMATORY WARTOŚCI ŚREDNIEJ I SKUTECZNEJ.

Wartość okna czasowego Tw określa liczba zebranych próbek z częstotliwością próbkowania fs,

0x01 graphic

Parametry sygnału - wartość średnia:

0x01 graphic

estymator według którego liczona wartość średnia ze zbioru próbek

0x01 graphic
0x01 graphic

Wartość skuteczna

0x01 graphic

estymator według którego liczona wartość skuteczna ze zbioru próbek

0x01 graphic

ŹRÓDŁA BŁĘDÓW W POMIARACH METODĄ CYFROWEGO PRZETWARZANIA

Parametry sygnału definiowane za okres sygnału, w cyfrowej obróbce próbki zbierane przez okno czasowe 0x01 graphic
,

jaka zatem powinna być wartość okna czasowego?

(okno czasowe powinno być wielokrotnością okresu sygnału badanego)

TW=N* TS= n TX TW/ TX=n

n- liczba całkowita.

Z jaką najmniejszą częstotliwością można próbkować sygnał sinusoidalny i jaka może być najmniejsza liczba próbek, która umożliwi poprawne wyznaczenie jego wartości średniej i skutecznej ?

Częstotliwość próbkowania powinna być co najmniej dwa razy większa od częstotliwości sygnału sinusoidalnego ( w sygnale sinusoidalnym tylko jedna częstotliwość - maksymalna częstotliwość odpowiada częstotliwości sinusoidy)

fs> 2fx, TS< 0,5TX Tx>2Ts

Najkrótsze okno czasowe musi się być równe okresowi - minimalna liczbę próbek powinna być równomiernie rozłożona w oknie czasowym.

TW=N* TS= TX

stąd N minimum 3

Jeśli sygnał sinusoidalny próbkujemy w oknie czasowym równym okresowi badanego sygnału to minimalna liczba próbek równo rozłożonych w okresie wynosi 3.

u(i)= Um sin(2*π*i/N) N=3 0x01 graphic
φ=0x01 graphic

pierwsza próbka

0 stopni i=0 0x01 graphic

druga próbka

120 stopni i=1 0x01 graphic

trzecia próbka

240 stopni i=2 0x01 graphic
-0x01 graphic

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

Jaki błąd popełnimy jeśli okno czasowe nie będzie dokładnie pokrywało się z okresem sygnału mierzonego?

TW ≠ TX

Np. TW / TX = 1,01 N=3

dla i=0 sin(2*π*i/N)=0 0 stopni dla i=1 sin(2*π*i/N)=0,8763 118,8 stopni dla i=2 sin(2*π*i/N)=--0,8443 237,6 stopni

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

Uśr=0,032

Źródłem błędu ograniczony czas zbierania próbek oraz błędy wynikające z przypisania próbkom wartości cyfrowych ( błąd kwantowania)

Zadanie

Należy zmierzyć wartość skuteczną sygnału

U(t0 = U0+ Um1sinωt+ Um3sin(3ωt+φ) f=1kHz±5%

Które warunki pomiaru zapewnią optymalny wynik pomiaru?

N=1000 fS = 4kHz

N=1000 fS = 10kHz

N=1000 fS = 100kHz.

Porównanie analogowej wartości sygnału spróbkowanego ze skwantowanym napięciem odniesienia (przetworzenie na cyfrę w przetworniku A/C) odbywa się w skończonym czasie.

Szybkość przetwornika A/C decyduje o najkrótszym czasie TS w systemach cyfrowego przetwarzania sygnałów CPS.

W czasie przetwarzania zmieniać się może wartość napięcia u(t)- pojawia się tzw BŁĄD APERTURY

u(t)= Um sinωt

ΔU= Tp Umωcosωt

Największa zmiana napięcia u(t) = ΔU przy przejściu u(t) przez zero

(cos =1) ΔU= Tp Umω δ U= ΔU/ Um= Tp*2*π*f

stąd

Tp= δ U /(2*π*f)

Np. δ U=0,1% fx=1kHz Tp= 0,001//(2*π*1000)= 0,16μs

fp= 6,28 MHz

Aby uniknąć błędów wynikających ze zmiany sygnału w czasie przetwarzania jego wartości stosuje się układy próbkująco - pamiętające S-H (Sample- Hold)

Układ próbkująco - pamietający próbkuje sygnał analogowy i przechowuje go w postaci napięcia na kondensatorze przez czas potrzebny na przetworzenie sygnału w przetworniku A/C. ( długi czas apertury przetwornika A/C zredukowany da czasu apertury układu S-H.

Parametry układu S-H

Czas przyjęcia próbki,

Spadek napięcia na kondensatorze w jednostce czasu przy rozwartym kluczu,

Przenikanie wartości sygnału wejściowego na wyjście przy rozwartym kluczu.

TYPOWE STRUKTURY UKŁADÓW CYFROWEGO PRZETWARZANIA SYGNAŁÓW

Typowe struktury układów CPS ( Cyfrowego Przetwarzania Sygnałów) umożliwiające przetwarzanie wielu sygnałów.

Próbkowanie sekwencyjne

Przełącznik kanałów na wyjściu którego układ S-H i przetwornik A/C

Próbkowanie jednoczesne

Wymagana taka liczba układów S-H taka jak liczba sygnałów przetwarzanych - wszystkie sygnały zapamiętywane równocześnie a następnie z wyjścia układów S-H sekwencyjnie przełączane na wejście przetwornika A/C.

Jeśli szybkość uzyskiwania informacji cyfrowej za mała można przyśpieszyć procedurę przetwarzania sygnałów przez włączenie na wyjście każdego układu S-H przetwornika A/C.

Jakie błędy powoduje przetwornik A/C- wynikają z rozdzielczości przetwornika

u(i) = liczbie całkowitej = u(kTS)/LSB

Δu(i) ≤ LSB lub Δu(i) ≤ 0,5LSB - w zależności od charakterystyki przetwornika

Jeśli kolejne próbki mają inną wartość można założyć statystyczny model błędu kwantowania

Δu kwantowania - szum biały o wartości średniej = 0 i odchyleniu średniokwadratowym σ = Δu(i)/√12

0x01 graphic

Wykład 10/IF



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
miernictwo wyklad 09, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 05, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 01, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 11, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 04, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 03, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 06, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 08, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 07, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 02, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 09, INNE MATERIAŁY
Informatyka - wykład II, Inne materiały
ETYKA I OCHRONA WLASNOSCI INTELEKTUALNEJ (wykłady-część), INNE, Materiały Edukacyjne, Etyka i Ochron
Informatyka - wykład II, Inne materiały
Encyklopedia Prawa - wyklad 10 [20.11.2001], INNE KIERUNKI, prawo, ENCYKLOPEDIA PRAWA
Zestawy Miernictwo2, aaa, studia 22.10.2014, Materiały od Piotra cukrownika, materialy Kamil, płytka
3) BHP i Ergonomia wykład 10 2010 Zmęczenie, Materialne warunki pracy
wyklad12tt20, aaa, studia 22.10.2014, Materiały od Piotra cukrownika, materialy Kamil, Szkoła, Elekt
wyklad07tt08, aaa, studia 22.10.2014, Materiały od Piotra cukrownika, materialy Kamil, Szkoła, Elekt

więcej podobnych podstron