miernictwo wyklad 02, INNE MATERIAŁY


ŹRÓDŁA BŁĘDÓW, CHARAKTER BŁĘDÓW - BŁĘDY SYSTEMATYCZNE I PRZYPADKOWE.

Źródła błędów:

  1. ograniczona dokładność* narzędzi pomiarowych,

  2. zły model obiektu,

  3. niewłaściwy przyrząd (nie mierzy poprawnie badanej cechy),

  4. wpływ przyrządu na obiekt mierzony,

  5. niestarannie zestawiony układ pomiarowy,

  6. niekontrolowany wpływ czynników zewnętrznych na przyrząd,

  7. zakłócenia wielkości mierzonej ( wpływ czynników zewnętrznych na badany obiekt),

  8. ..............

*Dokładność narzędzi pomiarowych - właściwość określająca zdolność do dawania wyników bliskich wartości rzeczywistej.

JAK wykryć obecność błędów - jak oszacować niepewność wyniku?

CHARAKTER BŁĘDÓW

BŁĘDY SYSTEMATYCZNE, BŁĘDY PRZYPADKOWE

BŁĘDY SYSTEMATYCZNE to błędy, które przy wielu pomiarach tej samej wartości wielkości mierzonej, wykonywanych w tych samych warunkach, pozostają stałe lub zmieniają się według określonego prawa wraz ze zmianą warunków .

Przykładowe źródła błędów systematycznych :

- Oddziaływanie przyrządu na obiekt mierzony

naruszenie równowagi energetycznej obiektu - błąd metody

przykłady:

- Niedokładność miary wzorca, błąd wzorcowania przyrządu

przykłady :

- Zmiany warunków pomiaru w stosunku do wymaganych

warunków odniesienia - błąd dodatkowy

przykład : zmiana parametrów narzędzia- wydłużenie długości taśmy mierniczej

wraz ze zmianą temperatury

BŁĘDY SYSTEMATYCZNE

Trudne do ujawnienia, wymagają od pomiarowca wnikliwości, znajomości

obiektu, zasad działania aparatury,

NIEBEZPIECZNE - niezauważone mogą bardzo zniekształcać

wyniki.

Jeśli potrafimy zauważyć i oszacować ΔXsys można go usunąć z wyniku

pomiaru, poprawić „surowy” wynik Xzmierz i przyjąć za wartość zmierzoną

Xzmierz. poprawione

Przyjęliśmy definicję błędu ΔX= Xzmierz - X

w tej konwencji zapisu ΔXsys= Xzmierz - Xzmierz. poprawione

stąd Xzmierz. poprawione = Xzmierz - ΔXsys

Często używa się pojęcia poprawka

POPRAWKA - to błąd systematyczny z przeciwnym znakiem

P = - ΔXsys

Poprawiony wynik pomiaru X= Xzmierz- ΔXsys= Xzmierz+ p

Czy tak określony wynik nie jest już obarczony żadnym błędem, jest

wartością pewną?

Zadania

1. W obwód pomiarowy o rezystancji około 1000Ω włączono amperomierz o rezystancji 10Ω, który wskazał IA = 14.53 mA. Błąd graniczny wskazań amperomierza (niepewność wskazań amperomierza) wynosi ±0,02mA. 0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
Jaki błąd względny i bezwzględny popełnimy jeśli nie zauważymy, że włączenie amperomierza zmieniło prąd w obwodzie? Jak należy podać wynik pomiaru?

2. Rezystancja połączenia mierzonych oporników z układem pomiarowym była nie większa niż 15mΩ;

W pomiarze jakich wartości rezystancji błąd pochodzący od nieuwzględnienia „doprowadzeń” miałby wartość nie większa niż 0,1%?

Czy zawsze można dokładnie określić wartość błędu systematycznego i usunąć go z wyniku ?

BŁĘDY PRZYPADKOWE

Mogą być ujawnione poprzez powtarzanie pomiaru .

Jeśli w pozornie takich samych warunkach pomiaru zmieniają się wyniki to odpowiedzialne są za to błędy przypadkowe.

Przykładowe przyczyny:

W jaki sposób uwzględnić w zapisie wyniku niepewność mającą swe źródło w błędach przypadkowych?

Co jest najlepszą miarą wielkości mierzonej i jaka jest jej niepewność?

W wyniku pięciokrotnego pomiaru rezystancji RX uzyskano następujące wyniki:0x01 graphic

100,12Ω

100,14Ω

100,06Ω

100,11Ω

100,08Ω

Jakie jest najlepsze przybliżenie wartości RX ?

Wartość średnia

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

Ogólnie wartość średnia

0x01 graphic

stosowany zapis 0x01 graphic

Co przyjąć za miarę błędu?

Różnicę między wartością zmierzoną a wartością średnią ?

Xi - Xśr

Różnica ta często nazywana jest odchyleniem od wartości średniej.

Czy wartość średnia odchyleń może być miarą niepewności przypadkowej?

Obliczanie odchyleń

Nr pomiaru

wartość zmierzona

odchylenie d=Ri - Rśr

1

100,12

0,018

2

100,14

0,038

3

100,06

-0,042

4

100,11

0,008

5

100,08

-0,022

średnia

100,102

0,00

Wartość średnia odchyleń = 0

Co przyjąć za miarę niepewności ?

Podnieść do kwadratu odchylenia i obliczyć odchylenie średniokwadratowe - odchylenie standardowe.

Obliczanie kwadratów odchyleń

Nr pomiaru

wartość zmierzona

odchylenie d=Ri - Rśr

d*d

1

100,12

0,018

0,000324

2

100,14

0,038

0,001444

3

100,06

-0,042

0,001764

4

100,11

0,008

6,4E-05

5

100,08

-0,022

0,000484

średnia

100,102

0,00

0,00408

Odchylenie średniokwadratowe - odchylenie standardowe

0x01 graphic

Rozpatrzmy liczniejszą serię wyników pomiaru

i

R

0x08 graphic

R -Rśr

(R-Rśr)*(R-Rśr)

1

100,18

-0,1685

0,02839

2

100,32

-0,0285

0,00081

3

100,24

-0,1085

0,01177

4

100,35

0,0015

0,00000

5

100,43

0,0815

0,00664

6

100,3

-0,0485

0,00235

7

100,49

0,1415

0,02002

8

100,38

0,0315

0,00099

9

100,44

0,0915

0,00837

10

100,26

-0,0885

0,00783

11

100,39

0,0415

0,00172

12

100,57

0,2215

0,04906

13

100,22

-0,1285

0,01651

14

100,39

0,0415

0,00172

15

100,34

-0,0085

0,00007

16

100,15

-0,1985

0,03940

17

100,32

-0,0285

0,00081

18

100,44

0,0915

0,00837

19

100,28

-0,0685

0,00469

20

100,48

0,1315

0,01729

Rśr

100,3485

0

0,01134

średnia kwadratów R-Rśr

Rmax

100,57

0,10650

pierwiastek z średniej

Rmin

100,15

kwadratów "odchyleń" (R-Rśr)

σ

0,1065

σśredn.

0,0238

Uporządkowane wyniki

R

przedział wartości

liczba obserwacji

częstość

100,15

100,15 - 100,19

2

0,1

100,18

100,20 -100,24

2

0,1

100,22

100,25 - 100,29

3

0,15

100,24

100,30- 100,34

4

0,2

100,26

100,35 -100,39

4

0,2

100,28

100,40 -100,44

3

0,15

100,3

100,45 -100,49

2

0,1

100,32

100,50 -100,54

0

0

100,32

100,55 -100,59

1

0,05

100,34

przedział wartości

liczba obserwacji

częstość

100,35

100,15 - 100,24

4

0,20

100,38

100,25 -100,34

6

0,30

100,39

100,35 - 100,44

7

0,35

100,39

100,45 - 100,54

2

0,10

100,43

100,55 -100,64

1

0,05

100,44

przedział wartości

liczba obserwacji

częstość

100,44

 

2

0,10

100,48

100,20 - 100,29

4

0,20

100,49

100,30 - 100,39

7

0,35

100,57

100,40 - 100,49

5

0,25

100,3485

100,50 - 100,59

1

0,05

Graficzne przedstawienie rozkładu wyników pomiaru nazywamy HISTOGRAMEM.

Oś x - cały przedział wartości, w którym mieszczą się wyniki pomiaru podzielony na „podprzedziały”

Oś y - częstość występowania wyniku w kolejnym „podprzedziale”

0x01 graphic

0x01 graphic
0x01 graphic

Jak zmieni się kształt histogramu jeśli pomiary obarczone będą mniejszym błędem przypadkowym , a nie zmienimy skali osi x?

Jak zmieniać się będzie kształt histogramu w miarę wzrostu liczby wyników obarczonych błędami przypadkowymi?

Kształt histogramu zbliżać się będzie (prawie zawsze) do symetrycznej krzywej dzwonowej. Funkcja matematyczna opisująca tą krzywą nosi nazwę funkcji rozkładu normalnego lub funkcji Gaussa.

Wyniki pomiarów obarczonych błędami przypadkowymi można potraktować jako zmienne losowe niezależne opisane funkcja Gaussa.

Znormalizowana funkcja opisująca rozkład normalny ma postać

0x01 graphic

xi - zmienna losowa - wynik pomiaru

Δ xi = xi - xr

Δ xi - błąd przypadkowy pomiaru - zmienna losowa o takim samym rozkładzie jak xi -

ϕ(xi) f(xi - xr) = f(Δ xi)

0x01 graphic

Właściwości :

MIARĄ PRAWDOPODOBIEŃSTWA uzyskania wyniku obarczonego błędem z przedziału (Δx1, Δx2) jest pole pod krzywą.

0x01 graphic

Prawdopodobieństwo, że

0x01 graphic

Parametr charakteryzujący rozkład -
ODCHYLENIE STANDARDOWE (dyspersja, błąd średniokwadratowy)

0x01 graphic

jeśli σ rośnie , krzywa staje się szersza - rośnie prawdopodobieństwo pojawienia się większych błędów.

+σ

p{Δxr σ}= f(Δ)dΔ =0,68

-σ

` p{Δxr σ}= 0,68

oznacza, że z prawdopodobieństwem 0,68 wartość rzeczywista pojedynczego wyniku pomiaru nie różni się od wartości rzeczywistej więcej niż o Δx = ±σ

(68% wyników obarczonych jest błędem nie większym niż σ, ale 32% błędem większym)

Takie prawdopodobieństwo na ogół nie satysfakcjonuje pomiarowca, Jeśli chcemy mieć „większą pewność”, że poprawnie określono przedział wartości, w którym znajduje się wartość rzeczywista wielkości mierzonej to musimy dopuścić większy błąd.

Z rozkładu normalnego wynika, że 95,4% krzywej znajduje się w obszarze ±2σ

p{Δxr2σ}= 0,95

p{Δxr 3σ}=0,997

Ponieważ nie znamy wartości rzeczywistej , możemy tylko estymować wartość rzeczywistego odchylenia standardowego zastępując wartość rzeczywistą jej najlepszym oszacowaniem czyli wartością średnią.

s= estymator σ

0x01 graphic
0x01 graphic

p{Δxr2s}= 0,95 p{Δxr 3s}=0,997

Czy nie lepiej jako wynik pomiaru podać wartość średnią?

--------------------------

Ale jak określić jej niepewność - graniczny błąd przypadkowy?

i

R

i

R

 

1

100,18

1

100,18

100,39

2

100,32

2

100,32

100,57

3

100,24

3

100,24

100,22

4

100,35

4

100,35

100,39

5

100,43

5

100,43

100,34

6

100,3

6

100,3

100,15

7

100,49

7

100,49

100,32

8

100,38

8

100,38

100,44

9

100,44

9

100,44

100,28

10

100,26

10

100,26

100,48

11

100,39

Rśr

1003,390

1003,580

12

100,57

Rmax

100,49

100,57

13

100,22

Rmin

100,18

100,15

14

100,39

s

0,0929

0,1178

15

100,34

sśr

0,0294

0,0373

16

100,15

17

100,32

18

100,44

19

100,28

20

100,48

Rśr

2006,970

Rmax

100,57

Rmin

100,15

s

0,1065

sśr

0,0238

Średnia wyników także zmienną losową, o odchyleniu standardowym

0x01 graphic

Zadania

1.Podać z prawdopodobieństwem 0.95 przedział wartości, w którym znajduje się rzeczywista wartość rezystancji jeśli odchylenie standardowe pomiaru wynosiło 0.11Ω a w wyniku pomiaru uzyskano wartość 100.18Ω.

R= (100,18± 0,22)Ω

2.Podać z prawdopodobieństwem 0.95 przedział wartości, w którym znajduje się rzeczywista wartość rezystancji jeśli obliczony estymator odchylenia standardowego pomiaru s wynosił 0.11Ω a średnia z 20 wyników pomiaru wynosiła 100.3485Ω.

ΔR=2*0.11/√20=0.0491 R=(100.35 ±0.05) Ω

3.Jak zmieni się wartość niepewności jeśli wymagać będziemy, że z prawdopodobieństwem 0,997 błąd przypadkowy wyniku jest nie większy od obliczonej niepewności. Podaj wynik pomiaru.

W praktyce liczba powtórzeń pomiarów w tych samych warunkach wynosi kilka, kilkanaście do kilkudziesięciu - źle oszacowany estymator odchylenia średniokwadratowego s. Dlatego przy małej liczbie pomiarów do określenia wartości błędu przypadkowego stosujemy tzw rozkład t- Studenta

Czy estymator s obliczony z małej liczby wyników pomiarów jest raczej „zaniżony” czy „zawyżony”?

PARAMETR ROZKŁADU t -STUDENTA tnp

ΔX = tnp. * S

Wartość współczynnika tnp. zależy od liczby obserwacji n i wymaganego

prawdopodobieństwa p.

Wybrane wartości współczynnika tnp dla p=0,95

n

2

4

6

8

10

12

20

30

tnp

4.307

2.776

2.477

2.306

2.228

2,129

2.089

2.042

Zadanie

Podać z prawdopodobieństwem 0.95 przedział wartości, w którym znajduje się rzeczywista wartość rezystancji jeśli obliczony estymator odchylenia standardowego pomiaru s wynosił 0.1065Ω a średnia z 20 wyników pomiaru wynosiła 100.3485Ω.

ΔR=2,089*0.1065/√20=0.04974 R=(100.35 ±0.05) Ω

Podać z prawdopodobieństwem 0.95 przedział wartości, w którym znajduje się rzeczywista wartość rezystancji jeśli obliczony estymator odchylenia standardowego pomiaru s wynosił 0.092 Ω a średnia z 10 wyników pomiaru wynosiła 100.339 Ω.

ΔR=2,228 *0.092/√10=0.06481 R=(100.34 ±0.07) Ω

Pytania

1.Wielokrotne powtarzanie pomiaru w tych samych warunkach pozwala na zauważenie błędu :

  1. przypadkowego,

  2. systematycznego,

  3. nadmiernego,

2.Błędy przypadkowe :

  1. dodatnie są tak prawdopodobne jak ujemne,

  2. błędy duże są bardziej prawdopodobne niż małe,

  3. odchylenie standardowe średniej jest n -krotnie mniejsze niż odchylenie standardowe pojedynczego wyniku.

3. Współczynnik, przez który należy przemnożyć odchylenie standardowe :

  1. zależy od żądanego prawdopodobieństwa, że wartość rzeczywista leży w wyznaczonym przedziale wartości,

  2. dla krótkiej serii określany powinien być z rozkładu t- Studenta,

  3. współczynnik ten dla rozkładu t- Studenta jest większy niż dla rozkładu Gaussa.

Wykład2 / miernictwo elektroniczne- IF 12



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
miernictwo wyklad 09, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 05, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 01, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 11, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 04, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 10, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 03, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 06, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 08, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 07, INNE MATERIAŁY
miernictwo wyklad 09, INNE MATERIAŁY
pdf wykład 02 budowa materii, podstawowe prawa chemiczne 2014
Informatyka - wykład II, Inne materiały
ETYKA I OCHRONA WLASNOSCI INTELEKTUALNEJ (wykłady-część), INNE, Materiały Edukacyjne, Etyka i Ochron
pdf wykład 02 budowa materii, podstawowe prawa chemiczne 2014
Informatyka - wykład II, Inne materiały
materiały do wykładów w 02 Filozoficzno psychologiczne podłoże systemu edukacji w Polsce
rachunkowość wykład 25-02-2001, Materiały z zajęć, Rachunkowość
02 Wyklad Komunikacja werbalna materialy (2)

więcej podobnych podstron