Metrologia 18(1), Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder


Politechnika Lubelska

w Lublinie

Laboratorium Metrologii

Ćwiczenie 18

Wykonał:

Semestr:

Grupa:

Temat:

Pomiary pojemności

Data wykonania:

I. Pomiar pojemności metodą techniczną:

  1. Schemat układu pomiarowego

0x01 graphic

  1. Spis przyrządów

Cx - Kondensator: 10μF, 380V~, nr. ser.: KS-10-380

A - Amperomierz: ┌┐0x01 graphic
0,5, zakres 1, działek 1

V - Woltomierz: ┌┐0x01 graphic
0,5, zakres 300, działek 75

  1. Tabela pomiarowa

Nr pomiaru

Lp.

UN

f

UV

I

V

Hz

V

A

p1

1

100

50

116

0,390

2

120

138

0,465

3

130

150

0,510

p2

4

100

116

0,390

5

120

139

0,462

6

130

152

0,500

  1. Obliczanie błędów

  1. błąd systematyczny graniczny pomiaru pojemności

δs= 0x01 graphic

δ11= 0x01 graphic
=0x01 graphic
= 0

δ12= 0x01 graphic
=0x01 graphic
= 0,16+ 0,08=0,24

δ13= 0x01 graphic
=0x01 graphic
= 0,08+ 0,18=0,26

δ24= 0x01 graphic
=0x01 graphic
= 0

δ25= 0x01 graphic
=0x01 graphic
= 0,17+0,12=0,29

δ26= 0x01 graphic
=0x01 graphic
= 0,09+0,08=0,17

  1. błąd metody

0x01 graphic

XC = 0x01 graphic

δm=0x01 graphic

δm=0x01 graphic
dla Ra<<Rc

0x01 graphic

RV=13333Ω RA=9Ω

Kondensator C=10μF/400V

Dla napięcia UN=100V

0x01 graphic
μF

XC=0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic
μF ― błąd przy poprawnie

mierzonym prądzie

0x01 graphic

0x01 graphic
μF ― błąd przy poprawnie

mierzonym napięciu

Dla napięcia UN=120V

0x01 graphic
μF

XC=0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic
μF ― błąd przy poprawnie

mierzonym prądzie

0x01 graphic

0x01 graphic
μF ― błąd przy poprawnie

mierzonym napięciu

Dla napięcia UN=130V

0x01 graphic
μF

XC=0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic
μF ― błąd przy poprawnie

mierzonym prądzie

0x01 graphic

0x01 graphic
μF ― błąd przy poprawnie

mierzonym napięciu

II. Mostki (teoria)

Pomiar pojemności za pomocą układów mostkowych odznacza się najlepszą dokładnością. Układy mostkowe stosuje się do pomiaru pojemności i stratności kondensatorów w zakresie małych i średnich częstotliwości ok. 50 Hz - 1MHz. Jako wzorce stosowane są regulowane oporniki i kondensatory. Przy wyższych częstotliwościach wzorami regulowanymi są kondensatory powietrzne, natomiast oporniki są użyte jako wzorce stałe.

  1. Mostek Wiena

Mostek będzie niezależny od częstotliwości napięcia zasilającego, jeśli kondensator mierzony można odwzorować układem zastępczym szeregowym. Przy takim założeniu otrzymuje się z warunków równowagi mostka:

0x01 graphic

0x01 graphic

Stratność kondensatora:

tgδx = ωRxCx = ωR3C3

0x01 graphic
0x01 graphic

Mostek doprowadza się do równowagi parą elementów, z których przynajmniej jeden musi się znajdować w gałęzi trzeciej. Regulując pojemność C3 i rezystancję R3 uzyskuje się niezależny odczyt składowych mierzonej impedancji - Rx i Cx. Jeśli badany kondensator jest bez strat (praktycznie o takiej samej stratności jak kondensator wzorcowy C3) , to mostek zostanie zrównoważony przy R3 = 0 i od takiej wartości R3 należy rozpoczynać równoważenie mostka.

Na wykresie wskazowym mostka Wiena dla stanu równowagi mostka punkty C i D pokrywają się. Mostek zasila się zwykle napięciem o częstotliwości akustycznej (np. 300-2000Hz), a jako wskaźnik zera można stosować słuchawkę radiową, lampę oscyloskopową, układ elektroniczny (wzmacniacz z prostownikiem i miernikiem magnetoelektrycznym).

2. Mostek Scheringa

Mostek Scheringa jest stosowany do pomiaru pojemności i kąta stratności kondensatorów przy użyciu wysokiego napięcia. Zastosowanie ma do badania kabli, dielektryków, układów izolacyjnych wysokiego napięcia. Częstotliwość napięcia zasilającego jest zwykle równa sieciowej - 50Hz. Istnieją tez specjalne wykonania mostków Scheringa przystosowanych do pomiarów w zakresie wielkich częstotliwości (do kilku MHz), a nawet przy zastosowaniu odpowiedniego ekranowania ramion, do 150MHz. Na rysunku jest przedstawiony układ mostka Scheringa do pomiarów przy wysokim napięciu o częstotliwości 50Hz. Jako wskaźnik zera zastosowany jest galwanometr wibracyjny.

0x01 graphic

Przyjmując szeregowy układ zastępczy kondensatora badanego Cx otrzymuje się z warunku równowagi mostka następujące zależności:

0x01 graphic

0x01 graphic

oraz wzór na stratność:

tgδx = ωRxCx = ωR4C4

mostek równoważy się przez regulację oporu R2 i pojemności C4. Opór R4 ma wartość stałą, przy czym zwykle dobiera się jego wartość równą R4=103:π=318,4Ω. Wówczas przy częstotliwości prądu 50Hz otrzymuje się:

tgδx = ωR4C4= 2π500x01 graphic
= 105C4

i wartość stratności można odczytać z wartości pojemności, zwykle podanej w mikrofaradach: tgδx = 0,1C4.

W mostku Scheringa oporności elementów są tak dobrane, że napięcie występujące na elemencie badanym Cx i wzorcowym Cw jest równe praktycznie napięciu zasilającemu U, które wynosi od kilku do kilkuset kilowoltów. Spadek napięcia na gałęziach R2 i C4 jest więc niewielki, a punkt B mostka uziemiony. Zapewnia to bezpieczeństwo obsługi przy regulacji elementów R2 i C4. W mostku nie SA też groźne sprzężenia pojemnościowe, gdyż jego elementy są ekranowane. Zastosowany kondensator wzorcowy Cw jest wysokonapięciowym kondensatorem powietrznym lub ceramicznym o pomijalnie małej stratności.

Na rysunku przedstawiony jest wykres wskazowy mostka w stanie równowagi.

0x01 graphic

  1. Mostki transformatorowe

Układ mostka transformatorowego powstał z mostka czteroramiennego przez zastąpienie impedancji ramion stosunkowych siłami elektromotorycznymi E1, E2 wtórnych uzwojeń wyjściowych transformatora napięciowego (Tru), którego uzwojenie pierwotne zasilane jest z generatora. Stosunek sił elektromotorycznych E1/E2 jest równy stosunkowi liczby zwojów uzwojeń wtórnych transformatora Zx/Zn. Jeżeli opory uzwojeń są małe w stosunku do oporów mierzonego Zn , to również stosunek napięć U1/U2 jest równy stosunkowi liczby zwojów Zx/Zn. W mostku zrównoważonym zachodzi więc równość:

0x01 graphic

oraz:

0x01 graphic

Mostek mierzy bezpośrednio parametry kondensatora o układzie zastępczym równoległym. Impedancja wzorcowa jest w tym przypadku równoległym połączeniem pojemności Cn i rezystancji Rn. Z warunku równowagi 0x01 graphic
otrzymuje się zależność na Rrx i Cx mierzonej Zx:

0x01 graphic

0x01 graphic

Oraz na współczynnik strat:

tgδx = 0x01 graphic

0x01 graphic

III. Wnioski:

Dokładność pomiaru pojemności metodą techniczną zależała od błędów systematycznych, które były dosyć duże (osiągały wartość nawet 29%) i błędów metody, które są nieznaczne przy małej pojemności mierzonej (ok. 10 μF) i przy stosunkowo wysokim napięciu (100-130V).

Odkształcenie napięcia metody technicznej miało wpływ na wartość pojemności oraz w nieznacznym stopniu na dokładność pomiarów.

Badanie pojemności w układach z mostkami nie zostało przez nas ukończone z powodu braku doświadczenia, za co najmocniej przepraszamy i będziemy się starali nie dopuścić do podobnej sytuacji.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Metrologia 18, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 18, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 16, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 10(1), Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 25, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 4. protokół, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 2 protokół, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 17, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Twn 18, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 23, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 34(1), Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Twn 18(1), Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 26(1), Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 24, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 4 protokół, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 23(1), Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 12, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 10, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Metrologia 11, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder

więcej podobnych podstron