Wykres Ishikawy, studia, semestr V, zarzadzanie jakoscia i bezpieczenstwem, projekt, Projekt


Wykres Ishikawy

Wstęp

Kaoru Ishikawa, profesor Uniwersytetu Tokijskiego, opublikował założenia swojego wykresu w 1962 roku. Celem tej metody jest rozpoznanie przyczyn poniesionych lub potencjalnych niepowodzeń przedsięwzięć. Z tego powodu nazywa się ją także wykresem przyczynowo-skutkowym, a ze względu na charakterystyczny wygląd - wykresem rybiej ości. Zakres stosowania tej metody początkowo był ograniczony jedynie do przemysłu, lecz w krótkim czasie okazała się ona przydatna w wielu innych dziedzinach. Z powodzeniem można go używać w usługach, administracji, zarządzaniu projektami.

Sporządzanie wykresu musi być wysiłkiem wielu pracowników organizacji, ponieważ przyczyny niepowodzeń mają swoje źródła zwykle w różnych dziedzinach działania. Dlatego zespół powinien składać się z ludzi o dużej wiedzy specjalistycznej, którzy dodatkowo posiadają wolę ujawnienia przyczyn wadliwości, w tym także spowodowanych przez siebie. Bardzo przydatne jest stosowanie w trakcie budowy schematu metod heurystycznych.

Budowa

Wykres składa się ze strzałek wraz z opisami, łączących się w ten sposób, że główna strzałka wskazuje skutek, czyli opis niepowodzenia, które jest badane. Przedstawiono to na rys.1.

Rys.1. Zasada budowy wykresu Ishikawy

Pokazane na rysunku kategorie przyczyn zwykle wybierane są z zestawu:

zgodnie z zasadą 5M+E. Można także używać innych kategorii (np. procedury, wyposażenie, materiały, informacje, ludzie) zależnie od dziedziny, w jakiej wykres jest stosowany. Każda kategoria przyczyn jest rozbudowywana o kolejne przyczyny szczegółowe. Jeżeli zachodzi taka potrzeba, dołącza się także podprzyczyny. Rozbudowa wykresu kończy się w momencie pełnego zidentyfikowania zjawiska.

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

Zastosowanie

E. Kindlarski zaproponował stosowanie układu przedmiotowego lub technologicznego przyczyn. W pierwszym kategorie stanowią podzespoły analizowanego obiektu, a przyczyny - elementy tych podzespołów. W drugim układzie wykorzystuje się odpowiednio procesy technologiczne i operacje w tych procesach. Przykłady takich zastosowań pokazują rys. 2 i 3.

Rys.2. Układ przedmiotowy przyczyn

Źródło: E. Kindlarski 1995, s.5.

Rys.3. Układ technologiczny przyczyn

Źródło: E. Kindlarski 1995, s.5.

W praktyce czyste układy występują rzadko, zwykle złożoność przyczyn wymaga zastosowania układu mieszanego.

Wykorzystanie

Prawidłowo sporządzony wykres Ishikawy może posłużyć do stworzenia liczbowego systemu klasyfikacji wad. Liczbę znaków kodu można określić w zależności od żądanego stopnia szczegółowości. Rozpatrując fragment wykresu z rys.2 można otrzymać zestaw kodów zaprezentowany na rys. 3. W tym przypadku kod ma trzy znaki:

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

100

110

111

112

120

121

122

123

124

elementy elektroniczne

wady elektryczne

tolerancje

parametry

wady mechaniczne

oznakowanie

końcówki

gabaryty

średnice

200

210

211

212

220

221

222

230

231

232

233

234

240

241

242

243

244

płytki drukowane

nadruk przy zmianach

za dużo

brak

otwory

za duże

średnice

ścieżki

odklejone

pęknięte

niedotrawienie

przetrawienie

oznaczenia

nieczytelne

pomylone

brak

sitodruk

Rys.4 Przykład sporządzenia kodu

Jeżeli zespół sporządzający wykres posiada dane, które pozwolą na przedstawienie przyczyn w formie liczbowej, można wykorzystać zaproponowany przez Sankey'a zbilansowany wykresy rybich ości (rys.5).

Rys.5 Wykres zbilansowany Sankey'a określający udziały procentowe przyczyn powstawania błędów

Źródło: E. Kindlarski 1995 s.9.

Zobacz także

FMEA - QFD - Wykres Gantta - Zarządzanie przez jakość - Diagram Pareto - Zarządzanie projektami - Identyfikacja systemu zarządzania jakością

Bibliografia



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
ANKIETA DOTYCZĄCA SUSZARKI DO WŁOSÓW 2, studia, semestr V, zarzadzanie jakoscia i bezpieczenstwem,
ANKIETA DOTYCZĄCA SUSZARKI DO WŁOSÓW, studia, semestr V, zarzadzanie jakoscia i bezpieczenstwem, pro
Suszarka PHILIPS HP4819, studia, semestr V, zarzadzanie jakoscia i bezpieczenstwem, projekt, Projekt
Cwiczenie 4 z, wszop ZZIP, II semestr, Zarządzanie jakoścą i bezpieczeństwem
Cwiczenie 2 z, wszop ZZIP, II semestr, Zarządzanie jakoścą i bezpieczeństwem
Cwiczenie 1 z, wszop ZZIP, II semestr, Zarządzanie jakoścą i bezpieczeństwem
ZZIP13 Podział studentów Zarządzanie Jakością i bezpieczeństwem proj, Zarządzanie Jakością i bezpiec
Cwiczenie 3 z, wszop ZZIP, II semestr, Zarządzanie jakoścą i bezpieczeństwem
zagadnienia-WE-ZJ, Studia, EiT semestr-1, Zarządzanie Jakością
konspekt projektu, studia, 1 semestr, zarządzanie
test zarządzanie jakością 21.02, Studia Licencjackie, semestr V, Zarządzanie jakością, dodatek
Ishikawa na ZJ, Wojskowa Akademia Techniczna - Zarządzanie i Marketing, Magisterka, II Rok, Semestr
sdz matpom rachk, ZiIP Politechnika Poznańska, Zarządzanie jakością i bezpieczeństwem - HAMROL
wyk3, studia, semestr V, zarzadzanie produkcja i uslugami, Wykład
Zadania ZJ lub SPC, Zarządzanie UEK, Semestr V, Zarządzanie jakością
MikroanalizaEDS, studia, semestr V, ocana jakosci technicznej materialow i wyrobow, ocena jakośći te
Wyniki II CC-DI kolokwium grudz 2009, Technologia chemiczna, semestr 2, Zarządzanie jakością i pro
Podstawy zarz ściąga, studia, semestr 1, zarządzanie hopej

więcej podobnych podstron