KluczSprawozdanie, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroniki, Podstawy elektroniki - Semestr 4, sprawozdania inne


LABORATORIUM ELEKTRONIKI

0x01 graphic

AGH

Wydział:

Elektrotechniki Automatyki

Informatyki i Elektroniki.

Rok: II

2006/07

Grupa: 3

Tytuł ćwiczenia:

KLUCZE TRANZYSTOROWE

SPRAWOZDANIE

Zespół I:

Hałat Zbigniew

Klimasz Cezary

SPIS TREŚCI

1. Cel ćwiczenia

str. 2

2. Opracowanie wyników.

str. 2

Klucz bipolarny (symulacja i pomiary)

str. 2

SYMULACJA

- charakterystyka wyjściowa

str. 2

- wpływ wartości elementów na jakość klucza

str.3

- tabela pomiarów symulacji

str. 3

- wnioski symulacyjne

str. 3, 4

POMIARY

- schemat pomiarowy

str. 5

- wyniki pomiarów

str. 5

- wykresy symulacyjne do założeń pomiarowych

str. 6

- zastosowanie klucza npn do sterowania przekaźnikiem

str. 6

- przebiegi napięć

str. 7

Klucz unipolarny MOS (symulacja i pomiary)

SYMULACJA

- charakterystyka wyjściowa

str. 8

- charakterystyka przejściowa

str. 9

- wpływ wartości elementów na prace klucza (OS)

str. 9

- tabela pomiarów symulacji

str. 11

- wnioski symulacyjne

str. 11

POMIARY

- schemat pomiarowy

str. 12

- pomiar parametrów klucza na tranzystorze IRF540

str. 12

- symulacja układu pomiarowego

str. 12

3. Podsumowanie wniosków

str. 12, 13

4. Wyniki pomiarów

  1. Cel ćwiczenia

Tranzystor może zostać wykorzystany jako półprzewodnikowy element przełączający. Celem niniejszego ćwiczenia było zapoznanie się z podstawowymi układami przełączającymi oraz z ich parametrami. Badaniom poddano tranzystor NPN (BC237) oraz NMOS (IRF540). Zwrócono uwagę na charakterystyki wyjściowe oraz przejściowe tychże tranzystorów. Pomiary obejmowały parametry katalogowe kluczy tranzystorowych takich jak: czas opóźnienia, narastania, magazynowania i opadania. Dokonano analizy wpływu elementów na szybkość działania kluczy. Symulacje przeprowadzano w programie Multisim2001.

  1. Opracowanie wyników

KLUCZ BIPOLARNY NPN (symulacja)

- charakterystyka wyjściowa IC = f(UCE)IB=const (tranzystor bipolarny)

Badaniom poddano tranzystor 2N2222A. Prąd bazy IB regulowano w zakresie 0÷17,5mA (z krokiem co 2,5mA).

0x01 graphic

Napięcie UCE zmienia się od 0 do 20V. Prąd kolektora generowany narastającym prądem bazy, zmieniał się od 0 do prawie 300mA. Na charakterystyce zaznaczono 3 zakresy pracy tranzystora: zakres nasycenia, zakres pracy aktywnej oraz zakres odcięcia. Kluczowanie tranzystora polega na możliwie szybkim przejściu tranzystora ze stanu odcięcia do stanu nasycenia i odwrotnie.

Spadek napięcia w stanie nasycenia wynosi ok. 0,2V, zaś dla zakresu odcięcia prąd kolektora jest równy 0.

- wpływ wartości elementów na jakość klucza (symulacja)

Analizie poddano poniższy schemat symulacyjny w celu zobrazowania wpływu elementów na szybkość włączania i wyłączania klucza tranzystorowego.

schemat symulacyjny (klucz NPN)

0x01 graphic

Za pomocą 3 przełączników (J1, J2, J3) zmieniano wartości rezystancji i pojemności. Poniżej umieszczono tabelę wyników symulacji.

Tabela wyników (klucz NPN - symulacja)

Lp.

Kombinacja

Czas włączania tON

Czas wyłączania tOFF

J1

J2

J3

1

1kΩ

150pF

20kΩ

432,6 ps

382,7 ns

2

15kΩ

20pF

1kΩ

1 ns

9,7 ns

3

1kΩ

20pF

20kΩ

979 ps

464,6 ns

4

15kΩ

150pF

1kΩ

439,2 ps

9,7 ns

5

1kΩ

20pF

1kΩ

1 ns

381,1 ns

6

15kΩ

150pF

20kΩ

438 ps

201,6 ns

7

1kΩ

150pF

1kΩ

437,2 ps

95, 6 ns

8

15kΩ

20pF

20kΩ

994 ps

216,5 ns

Jak widać w wyniku pomiarów otrzymano 8 różnych kombinacji. Widać, że elementy mają istotny wpływ na parametry klucza.

Czas włączania tON

Na czas włączania klucza wpływ ma kondensator C1 pracujący jako pojemność przyśpieszająca. Im wyższa pojemność tym szybciej załącza się klucz.

Czas wyłączania tOFF

Na czas wyłączania klucza ma wpływ rezystancja w obwodzie kolektora RC, reprezentowana przez załącznik J3. Im wyższa rezystancja tym klucz wolniej się wyłącza. Pojemność przyspieszająca C również ma wpływ na czas wyłączania. Im wyższa pojemność tym czas krótszy wyłączania. RB też wpływa na szybkość wyłączania. Im większa wartość RB tym mniejszy czas wyłączania.

Z przeprowadzonej analizy wynika jednoznacznie, że pojemność C - pojemność przyspieszająca znacząco wpływa na szybkość działania klucza tranzystorowego. Praktycznie stosuje się pojemności od kilku do kilkunastu pF, które bocznikują rezystancję obwodu bazy. Kondensator sprawił, że zbocza przebiegu napięcia się wyostrzyły - klucz szybciej się przełącza.

Widoczna jest sytuacja, że tON<<tOFF . Dla przełączania tranzystora bipolarnego oznacza to przełączanie małym lub zerowym napięciem włączającym -ER.

0x08 graphic
Z symulacji otrzymano poniższe przebiegi napięć, z których odczytano czasy przełączania.

0x08 graphic

Przebiegi te ilustrują odczyt czasów dla kombinacji nr 1 (tj. J1=1kΩ, J2=150pF, J3=20kΩ).

Wartości określające np. koniec czasu td i tr są wartościami praktycznymi. Przy wykresie załączania klucza widać, że czas załączania był na tyle mały, że nastąpiło rozciągnięcie generowanego sygnału prostokątnego.

POMIARY KLUCZA BIPOLARNEGO

Przy pomiarach czasów katalogowych klucza tranzystorowego opartego na tranzystorze BC237 użyto konfiguracji: bez i z pojemnością sprzęgającą C1.

Dla konfiguracji bez C1 amplituda sygnału wejściowego wynosiła A = -3÷5V, zaś w konfiguracji z C1 amplituda wynosiła A = 0÷5V.

schemat pomiarowy (klucz NPN-pomiary)

0x01 graphic

Tabela pomiarowa (wraz z wynikami symulacyjnymi)

Czasy pomiarowe

td

tr

ts

tf

tON

tOFF

POMIARY

z C1

28ns

54ns

130ns

12ns

82ns

142ns

bez C1

130ns

80ns

340ns

250ns

210ns

590ns

Głównym celem pomiarów tego układu było zbadanie wpływu pojemności C1 na szybkość reakcji klucza. Jak widać jednoznacznie pojemność C1 wpływa zarówno na czas włączania jak i wyłączania układu, zwiększając szybkość przełączania.

Przeprowadzono symulację obrazującą przebiegi napięć w obu konfiguracjach: z i bez pojemności przyspieszającej bocznikującej RB. Jak widać na przebiegu bez pojemności widoczne są małe fluktuacje sygnału po wyłączeniu klucza. Jeśli zaś chodzi o przebieg z pojemnością przyspieszającą to widać wzrosty napięcia w momencie przełączania spowodowane zmianą stanu kondensatora.

0x08 graphic
0x08 graphic
wykresy symulacyjne do założeń pomiarowych (klucz NPN - symulacja)

- zastosowanie klucza npn do sterowania przekaźnikiem (klucz NPN - symulacja)

Poniższy układ przekaźnika jest symulowany indukcyjnością połączoną w szereg z rezystorem. Włącznik J1 załączał diodę D1. Celem symulacji tego układu była obserwacja przebiegów napięcia w obu konfiguracjach układu.

schemat pomiarowy

0x08 graphic

Poniżej znajdują się przebiegi napięć w obu konfiguracjach: z i bez diody D1.

Dioda D1 rozłączona - przebieg napięć

0x01 graphic

Dioda D1 załączona - przebieg napięć

0x01 graphic

Symulowany układ był układem przekaźnika reprezentowanym przez cewkę L1 o dość dużej indukcyjności równej 1mH. Dioda D1 to dioda impulsowa BA157. W momencie kiedy tranzystor przerywał obwód (stan niski), cewka w wyniku SEM samoindukcji wytwarzała impuls wysokiego napięcia. Na symulacji nie dało się określić jak wysokie jest to napięcie. Zadaniem diody było zablokowanie dostępu do kolektora tranzystora. Jak widać dioda miała za zadanie chronić tranzystor przed nagłym rozładowaniem energii zgromadzonej w cewce w postaci pola magnetycznego.

KLUCZ UNIPOLARNY MOS (symulacja i pomiary)

SYMULACJA

- charakterystyka wyjściowa ID=f(UDS)UGS=const (tranzystor unipolarny)

Napięcie UGS sterowane było od zakresu 0 do 6V. Jak widać z charakterystyki, napięcie UDS zmienia się od 0 do 15V. Analizie poddano tranzystor IRF540.

0x01 graphic

Przełączanie tranzystora unipolarnego polega na możliwie szybkim przesunięciu punktu pracy od stanu odcięcia poprzez zakres pentodowy (nasycenia) charakterystyk do zakresu liniowego (triodowego).

- charakterystyka przejściowa ID = f(UGS)UDS=const (tranzystor unipolarny)

Analizie poddano tranzystor IRF540. Wykreślono charakterystykę przejściową.

Generowano UDS o różnych wartościach - od 0 do 7,5V. Napięcie UGS zmieniało się zatem od 0 do 6,5V. Napięcie odcięcie wynosiło 3,5V.

Poniżej przedstawiono widok charakterystyki.

0x01 graphic

- wpływ wartości elementów na prace klucza (konfiguracja OS - symulacja)

Analizie poddano poniższy układ pomiarowy. Celem pomiaru była obserwacja wpływu rezystancji w obwodzie drenu. Załącznikiem J1 wybierano wartość rezystancji. Sygnał wejściowy miał amplitudę 5V, częstotliwość 5kHz. Poniżej przedstawiono schemat pomiarowy.

schemat pomiarowy

0x01 graphic

Poniżej znajduje się tabela pomiarowa czasów katalogowych klucza tranzystorowego unipolarnego, opartego na tranzystorze IRF540.

Tabela pomiarowa (klucz MOS)

Konfiguracja - J1

Czas włączania tON

Czas wyłączania tOFF

1k

163,6 ns

3,9 μs

10k

160 ns

37,9 μs

Czas włączania tON

Można przyjąć, że czas załączania nie jest zależny od rezystancji w obwodzie drenu RD - faktycznie jest to bardzo mały wpływ.

Czas wyłączania tOFF

Czas ten jest zależny od rezystancji w obwodzie drenu RD, im większa rezystancja tym dłuższy czas reakcji klucza. Spowodowane to jest związkiem tOFF=2,2(τ12), gdzie τ2=RDCL.

Oba czasy - włączania i wyłączania są oczywiście zależne od rezystancji w obwodzie bramki RG, związane ze stałą czasową τ1=RG(Cgs+Cgd).

Poniżej znajdują się zależności napięcia od czasu podczas przełączania tranzystora unipolarnego.

Wartości 10%uwymax oraz 90%uwymax są wartościami pomiarowymi praktycznymi.

0x08 graphic

0x08 graphic

Na wykresach widoczne są napięcie na wejściu (na generatorze) oraz na wyjściu (napięcie UDS). Zaznaczono również czasy włączania tON oraz wyłączania tOFF tranzystora unipolarnego.

POMIARY (klucz MOS)

Celem pomiarów była analiza czasów przełączania klucza tranzystorowego w poniższej konfiguracji. Źródłem sygnału wejściowego był generator wytwarzający przebieg prostokątny o częstotliwości 2kHz oraz amplitudzie 5V. Badaniom poddano klucz oparty na tranzystorze IRF540. Przebiegi napięć obserwowano na oscyloskopie. Korzystając z przebiegów wyznaczono czasy przełączające.

schemat pomiarowy

0x08 graphic

SYMULACJA UKŁADU POMIAROWEGO (klucz MOS)

Przeprowadzono symulację układu pomiarowego klucza unipolarnego MOS. Otrzymane wartości czasów katalogowych umieszczono wraz z wynikami pomiaru w celu ich skonfrontowania. Symulacja została przeprowadzono w celu weryfikacji poprawności pomiarów.

Tabela wyników pomiarowych (klucz MOS)

Uwe

fwe

td

tr

ts

tf

tON

tOFF

POMIARY

5 V

2 kHz

45ns

160ns

41ns

102ns

205ns

143ns

SYMULACJA

65ns

163ns

32ns

83ns

228ns

115ns

Jak widać z tabeli czasy otrzymane w wyniku symulacji zbliżone są do czasów otrzymanych z przeprowadzonych pomiarów laboratoryjnych. Rozbieżności wynikają z dokładności oscyloskopu (z częstotliwości próbkowania) oraz z nieidealności elementów układu pomiarowego.

  1. Podsumowanie wniosków

OGÓLNIE

Klucz tranzystorowy nasycony, w którym tranzystor pracuje w konfiguracji OE jest jednym z najważniejszych układów przełącznikowych. W takim układzie tranzystor sterowany jest od zakresu odcięcia do zakresu nasycenia i na odwrót.

Układy przełącznikowe z tranzystorami MOS, głównie z kanałem wzbogacanym są podstawowymi układami wykorzystywanymi do realizacji scalonych układów cyfrowych, analogowych układów z przełączanymi pojemnościami SC, czy też układami z przełączaniem prądów SI.

Celem ćwiczenia było zapoznanie się z czasami katalogowymi kluczy tranzystorowymi, ich pomiarem i interpretacją. W wyniku pomiarów zidentyfikowano czasy: włączania tON i wyłączania tOFF. Na te czasy składały się odpowiednio: czas opóźnienia td (delay time) i czas narastania tr (rise time) oraz czas magazynowania ts (storage time) i czas opadania tf (fall time).

Na szybkość reakcji klucza na wymuszenie składało się wiele elementów. Podstawowymi były własności tranzystora - jego pojemności złączowe i stałe czasowe ich ładowania. Sygnał wymuszający też miał wpływ na szybkość reakcji. Rezystory polaryzujące tranzystor w tryb pracy klucza miały wpływ na czasy katalogowe.

Z ogólnych obserwacji wynika iż, aby zwiększyć szybkość klucza należy: zbocznikować rezystor RB pojemnością zwaną przyspieszającą, dobrać odpowiednie wartości rezystorów w układzie klucza. Można również zastosować diodę Schottky'ego równolegle do złącza kolektor-baza.

KLUCZ NPN

Z przeprowadzonych pomiarów i symulacji jednoznacznie wynika, że pojemność bocznikująca rezystor w obwodzie bazy, przyspieszająco wpływa na działanie klucza. Mniejszą wartość ma zarówno czas włączania, jak i wyłączania klucza. Zaobserwowano, że im wyższa pojemność kondensatora (większa zdolność gromadzenia energii) tym szybsze działanie klucza.

Na czas wyłączania klucza wpływ ma również rezystancja RC oraz RB. Im wyższa rezystancja RC tym klucz wolniej się wyłącza (większe tOFF). Z kolei im większa wartość RB tym mniejszy czas wyłączania (mniejsze tOFF).

Oczywiście bardzo dużo zależy od rodzaju tranzystora i jego parametrów katalogowych takich jak np. pojemność złącza emiterowego Cje lub kolektorowego Cjc.

STEROWANIE PRZEKAŹNIKIEM ZA POMOCĄ KLUCZA

W zasymulowanym układzie przekaźnika sterowanego klucza zaobserwowano wpływ diody D1 na działanie układu. Działanie to polegało to ochronie tranzystora w momencie przerwania obwodu i rozładowania się cewki. Zaobserwowano wysokie napięcie pojawiające się w obwodzie bez diody. W układzie zwrócono uwagę również iż diodą ochronną była szybka dioda impulsowa BA157.

KLUCZ MOS

Z przeprowadzonej analizy klucza tranzystorowego opartego na tranzystorze MOS (IRF540) ustalono zależność szybkości działania klucza na wartość elementów w obwodzie sterującym. Badaniom poddano przede wszystkim wpływ rezystora w obwodzie drenu RD na czasy katalogowe. W wyniku pomiarów ustalono, że czas włączania tON praktycznie nie zależy od RD (bardzo mały wpływ). Z kolei na czas wyłączania RD miało wpływ. Im większa rezystancja RD tym dłuższy czas reakcji klucza (większe tOFF). Czasy tON i tOFF związane są oczywiście również z rezystancją w obwodzie bramki RG oraz zależą również od parametrów tranzystora (Cgs, Cgd).

Klucze tranzystorowe - sprawozdanie 12

12



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
StablizatorySprawozdanie, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroniki, Pod
StabilizatoryKospektKLIM, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroniki, Pod
Liczniki - sprawko, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroniki, Laborator
Elektronika - wzmacniacz RC, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroniki,
PrzerzutnikiKonspektKlim, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroniki, Pod
stabilizatory-symulacje, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroniki, Pods
stabilizatory-pomiary, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroniki, Podsta
tablice na 2 kolosa 2012, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Podstawy Elektroenergetyk
Zadania do testu, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Elektromechaniczne Przetwarzanie
sprawozdanieAGH vel Czaro, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Elektromechaniczne Przet
ściąga TWN 1-3, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, TWN, Technika wysokich napięć - SEM
PiD spoko, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Teoria Sterowania i Technika Regulacji,
dyskretne , Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Teoria Sterowania i Technika Regulacji,
regulator cyfrowy sprawozdanie, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Teoria Sterowania i
PID, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Teoria Sterowania i Technika Regulacji, Teoria
ściąga 4-5 TWN, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, TWN, Technika wysokich napięć - SEM
Analiza podstawowych uk adów dyskretnych vel Hamas, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014,
swiatek, Elektrotechnika AGH, Semestr IV letni 2013-2014, Teoria Sterowania i Technika Regulacji, Te

więcej podobnych podstron