spr 10 elektronika II, Dokumenty Inżynierskie, Elektronika 2 laboratorium, aelektonika 2 lab, Elektronika


1. Zestawiliśmy układ pomiarowy na module laboratoryjnym zgodnie z rysunkiem 5a i 5a1.

2.Wyznaczyliśmy rodzinę charakterystyk U0 = f(R) przy stałym Uwe.

Wyniki pomiarów przedstawiają poniższe tabele.

R [kΩ]

0,1

1

10

U0 [V]

9,44

9,56

9,61

dla Uwe = 14 [V]

R [kΩ]

0,1

1

10

U0 [V]

9,45

9,48

9,57

dla Uwe = 16 [V]

R [kΩ]

0,1

1

10

U0 [V]

9,57

9,61

9,66

dla Uwe = 18 [V]

3. Wspólny wykres rodziny charakterystyk.

0x01 graphic

4. Wyznaczyliśmy rodzinę charakterystyk U0 = f(I0) przy stałym R.

Wyniki pomiarów przedstawiają poniższe tabele.

I0 [mA]

20

30

40

50

60

70

80

90

U0 [V]

1,94

3,00

3,95

5,08

5,91

6,87

7,90

8,95

R= 0,1 [kΩ]

I0 [mA]

2,5

3,5

4,5

5,5

6,5

7,5

8,5

9,5

U0 [V]

2,46

3,46

4,46

5,49

6,42

7,39

8,44

9,33

R= 1 [kΩ]

I0 [mA]

0,25

0,35

0,45

0,55

0,65

0,75

0,85

0,95

U0 [V]

2,54

3,60

4,48

5,46

6,55

7,47

8,51

9,39

R= 10 [kΩ]

5. Wspólny wykres rodziny charakterystyk.

0x01 graphic

6. Wyznaczaliśmy rodzinę charakterystyk U0 = f(U we ) przy stałym R.

Wyniki pomiarów przedstawiają poniższe tabele.

Uwe [V]

3

5

6

7

8

9

10

11

12

14

16

18

U0 [V]

2,2

3,9

4,9

5,8

6,65

7,55

8,34

9,23

9,27

9,35

9,48

9,57

R = 0,1 [kΩ]

Uwe [V]

3

5

6

7

8

9

10

11

12

14

16

18

U0 [V]

2,48

4,44

5,46

6,53

7,37

8,44

9,36

9,36

9,37

9,38

9,39

9,43

R = 1 [kΩ]

Uwe [V]

3

5

6

7

8

9

10

11

12

14

16

18

U0 [V]

2,45

4,43

5,44

6,57

7,43

8,45

9,40

9,40

9,41

9,42

9,44

9,46

R = 10 [kΩ]

7. Wspólny wykres rodziny charakterystyk.

0x01 graphic

8. W sprawozdaniu określiliśmy minimalne wartości napięcia wejściowego, przy których napięcie U0 było stabilizowane, dla różnych wartości rezystancji.

9. Kolejnym zadaniem było zestawienie układu pomiarowego na module laboratoryjnym zgodnie z rysunkiem 5b i 5b1 z instrukcji.

10. Wyznaczyliśmy rodzinę charakterystyk U0 = f(R) przy stałym Uwe.

Wyniki przedstawiają poniższe tabele.

R [kΩ]

0,1

1

10

U0 [V]

8,74

8,90

9,02

dla Uwe = 14 [V]

R [kΩ]

0,1

1

10

U0 [V]

8,77

8,89

9,02

dla Uwe = 16 [V]

R [kΩ]

0,1

1

10

U0 [V]

8,85

8,98

9,08

dla Uwe = 18 [V]

11. Wspólny wykres rodziny charakterystyk.

0x01 graphic

12. Wyznaczyliśmy rodzinę charakterystyk U0 = f(I0) przy stałym R.

Wyniki pomiarów przedstawiają poniższe tabele.

I0 [mA]

20

30

40

50

60

70

80

U0 [V]

1,98

2,93

3,84

4,88

5,86

6,89

7,81

R= 0,1 [kΩ]

I0 [mA]

2

3

4

5

6

7

8

U0 [V]

1,95

3,06

3,98

4,96

5,87

6,89

7,88

R= 1 [kΩ]

I0 [mA]

0,2

0,3

0,4

0,5

0,6

0,7

0,8

0,85

U0 [V]

2,08

3,05

4,14

4,98

6,01

7,17

8,04

8,52

R= 10 [kΩ]

13. Wspólny wykres rodziny charakterystyk.

0x01 graphic

14. Wyznaczyliśmy rodzinę charakterystyk U0 = f(U we ) przy stałym R.

Wyniki pomiarów przedstawiają poniższe tabele.

Uwe [V]

3

5

6

7

8

9

10

11

12

14

16

18

U0 [V]

1,77

3,65

4,65

5,64

6,62

7,59

8,56

8,61

8,65

8,71

8,77

8,82

R = 0,1 [kΩ]

Uwe [V]

3

5

6

7

8

9

10

11

12

14

16

18

U0 [V]

1,96

3,84

4,84

5,83

6,82

7,86

8,82

8,81

8,82

8,84

8,85

8,88

R = 1 [kΩ]

Uwe [V]

3

5

6

7

8

9

10

11

12

14

16

18

U0 [V]

1,90

3,90

4,90

5,93

6,95

7,89

8,89

9,92

8,93

8,94

8,96

8,98

R = 10 [kΩ]

15. Wspólny wykres rodziny charakterystyk.

0x01 graphic

16. W sprawozdaniu określiliśmy minimalne wartości napięcia wejściowego, przy których napięcie U0 było stabilizowane, dla różnych wartości rezystancji.

PODSUMOWANIE I WNIOSKI

  1. Wyznaczenie współczynnika stabilizacji napięcia (k) :

Dla pierwszego układu pomiarowego:

0,85

1

0,9

0,85

0,9

0,79

0,89

0,04

0,04

0,065

0,045

0,98

1,02

1,07

0,84

1,07

0,92

0

0,01

0,005

0,005

0,02

0,99

1,01

1,13

0,86

1,02

0,95

0

0,01

0,005

0,01

0,01

Dla drugiego układu pomiarowego:

0,94

1

0,99

0,98

0,97

0,97

0,05

0,04

0,03

0,03

0,025

0,94

1

0,99

0,99

1,04

0,96

-0,01

0,01

0,01

0,005

0,015

1

1

1,03

1,02

0,94

1

1,03

-0,99

0,005

0,01

0,01

Po obliczeniu współczynnika stabilizacji K oraz analizie wykresów można stwierdzić, że minimalne napięcie wejściowe Uwe min potrzebne do uzyskania nominalnego napięcia stabilizacji U0 wynosi :

-dla pierwszego układu

dla opornika R = 0,1[kΩ] 11 [V] , dla opornika R = 1 [kΩ] i R = 10 [kΩ] 10 [V].

-dla drugiego układu

dla opornika R = 1[kΩ] 11 [V] , dla opornika R = 0,1 [kΩ] i R = 10 [kΩ] 10 [V].

Krzywa dąży do osiągnięcia postaci funkcji stałej (bardzo małe nachylenie do osi X). Wynika z tego, że nominalny prąd stabilizacji doszedł do pewnej granicy i ustabilizował swoją wartość.

  1. Charakterystyki na wspólnych wykresach:

0x01 graphic

Analizując wykres można stwierdzić że najlepsze właściwości stabilizacyjne posiada pierwszy układ przy napięciu wejściowym 18 V i rezystancji 10 kΩ o czym świadczy najmniejszy kąt nachylenia do osi x.

0x01 graphic

Analizując wykres nominalnego napięcia stabilizacji U0 w funkcji prądu stabilizacji zauważyć można, że przebiegi obydwu układów są niemal identyczne. Nie można stwierdzić, który układ ma lepsze właściwości.

0x01 graphic

Analizując wykres zależności nominalnego napięcia stabilizacji w funkcji napięcia wejściowego można stwierdzić, że drugi z badanych układów przy tych samych zadanych wartościach napięcia wejściowego uzyskuje mniejsze nominalne napięcie stabilizacji. Natomiast stabilne wartości napięcia U0 obydwa układy uzyskują mniej więcej w tym samym czasie.

Przeprowadzone ćwiczenie pozwoliło nam stwierdzić, że obydwa układy mają zbliżone charakterystyki. Układ A (jeden tranzystor bipolarny) i układ B (dwa tranzystory bipolarne) działały i spełniały swoją funkcję- stabilizowały napięcie.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
elektronika 7, Dokumenty Inżynierskie, Elektronika 2 laboratorium, aelektonika 2 lab, Elektronika, E
sprawko moje 27, Dokumenty Inżynierskie, Elektronika 2 laboratorium, aelektonika 2 lab, Elektronika,
Sprawko 31, Dokumenty Inżynierskie, Elektronika 2 laboratorium, aelektonika 2 lab, Elektronika, 31 i
sprawko moje 29, Dokumenty Inżynierskie, Elektronika 2 laboratorium, aelektonika 2 lab, Elektronika,
Sprawko 32, Dokumenty Inżynierskie, Elektronika 2 laboratorium, aelektonika 2 lab, Elektronika, 31 i
Ćw. 9, Dokumenty Inżynierskie, Elektronika 2 laboratorium, aelektonika 2 lab, CW 9
spr.10, Studia, pomoc studialna, sprawozdania z fizyki, laboratoria
pytania z SRD II, Dokumenty Inżynierskie, SRD 2
cw 5 spr moje, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, laborki, l
spr 5(2), Dokumenty Inżynierskie, elektrotechnika, elektrotechnika, Elektrotechnika
opracowanie cw 10, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, labork
Sprawozdanie lab 10, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, labo
WICZENIE6 10 F, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, laborki,
Wnioski do spr z elektry 3, PW SiMR, Inżynierskie, Semestr V, syf, laborki, Lab. Ukł. Napędowych
Ćw 4 - Badanie twardości i udarności wybranych materiałów elektroizolacyjnych, Politechnika Poznańsk
Ćw 5 - Badanie pętli histerezy magnetycznej ferromagnetyków 2009, Politechnika Poznańska, Elektrotec
Ćw 5 - Badanie Pętli Histerezy Magnetyczej Ferromagnetyków, Politechnika Poznańska, Elektrotechnika,
4 sprawozdanie mojee, Dokumenty Inżynierskie, elektrotechnika, elektrotechnika, Elektrotechnika

więcej podobnych podstron