^jOUAD2.ĄCy •. *>VLO- HfcfetPH
3 ts-fcv*>Ą
Pyfcyus z macttialów dcWroncznych EGZAMIN 2012/2013
I) węglik krzemu
a) w/iwarząne wera uv
b) pOrSed» ;echno-c*jr GaN
c) tranzystcr mocy
Zjwytwaraan* óenlicli warstw dwutlenku krzemu ajudenlanie termiczne
b)CVO
c>5»bz3nic CatklrcAlyano 3)metode PVD wykorzystuje sę
3) proces pyrohzy
t>)«a proces* parowar>a cjwyięwjMo łatwo COpłwycfi metali
4) oaohv3 fotowtftanlane materiały a}a-Si
b) SC
c) OS
SJpcłuyoa antyreOtksyjne bo ogniw rotcwoitanc/nych aJCKnfcie warstwy flota
b) Ti02
c) sSI:N:H
GJlcchnika W-ML stosuj ne
a)ittystoryPMKA byczystory termoplastyczne c)warstwy foreczule 7JfMG stosie «
«)potaywan>c Implantów
bJepMcsja i** rie dopasowanych materiałów
c) Światłowody z gradientem zmony
3)poA?w»i
a) izolatory
b) materiał optoesettrycznc
c) optyczne
9> M6€ osadzane prowadzone jest
a) przy cbftUooym eiśn«Mi
b) atmosferycznym
c) Ul IV
lOJszercfca przerwa wzbudzona «)S
b) SC
c) GaN
II) datfcktryk o najmniejsze przcnka'nck)
a) S3fM bJSk>2 C3W203
52} bo wytwarzano botcktryfców stosuje się metody aJiAtenJanie termoczne
b) CVO #
C) SEM
13) warstwy b>ameotowe wytwarza s* a) palni* plazmowe bj-eakcje ittkrofalowf e) teetoJj porgcci/) włókna H) nanodia.ment
a) socz/.i rzewodzaca w ukiadoe scaanym
b) warstwa aktywna przyzabu elektrycznego
c) pokrycie narzędziowe
15) domieszka akceptacja do d«mcntu stosuje s* a)fosfcr