Zdjęcie000 (2)

METODY BADANIA POWIERZCHNI W KOROZJI Spektrometria jonów rozproszonych

W procesie bombardowania powierzchni wiązką jonów następuje je i rozpraszanie na atomach bombardowanego materiału. W miarę zwiększania energii wiązki jonów pierwotnych w rozpraszaniu uczesinu atomy położone coraz głębiej pod powierzchnią. Ponieważ energie jonów rozproszonych /alczą od mas atomów rozpraszających, analiza widma energii jonów rozproszonych moZe ąKłżyć do określenia składu powierzchni. Do bombardowania pow'erzchni stosuje się zwykle jony gazów szlachetnych (He\ Ne*. Ar¹},

Metoda ISS (łon Scattering Spectromctry)

W metodzie tej wiązka jonów pierwotnych o niskiej energii (0,1 - 5,0 fccV ) pada na badaną powierzchnię zwaną tarczą (ang. target) pod stałym k#*n._r NiskoCnergetyczne jony wiązki pierwotnej rozpraszane są głównie przez atomy mono warstwy analizowanego materiału, znajdujące się na głębokości do 0,25 nra, gdyż po głębszym wniknięciu ulegają neutralizacji. Mała zdolność rozdzielcza tej metody ( 100 pm) stanowi jej wadę. Czułość pomiaru maleje w miarę zwiększania się różnicy mas atomowych składników badanego materiału i bombardującego gazu AM - M» - M„. Dla dużej wartości AM uzyskanie sygnału jest bardzo mało prawdopodobne. Stosując specjalne techniki można uzyskać czułość spektrometru ISS w granicach 0,001 - 0,01 % at.

Technika ISS może być Stosowaną do analizy jakościowej i*ilościowej, jednakże ilościowe ujęcie wyników badań metodą ISS jest utrudnione ze względu na znaczny wpływ przekroju czynnego na rozpraszanie elastyczne oraz czynnika neutralizacji jonów.

Metoda RBS ( Rutherford Back—Scattering Spectromctry)

Technika RBS polegająca na analizie energT jonów H* lim He* elastycznie różprasŁunych przez atomy badanego materiału pozwala na wyznaczenie rużłaadów głębokościowych pierwiastków w przypowierzchniowej    *

Grubość analizowanej warstwy zależna jest od energii jonów wią-M“ pierwotnej (0,1 — 5,0 MeV) oraz składu analizowanego materiału i wynosi ona .od kilku do kilkuset nanometrów. Dokładność określenia głębokości położenia danego pierwiastka sięga 20A, a przy zastosowaniu specjalnych detektorów, nawet kilku A. Czułość metody zalety głównie od przekroju czynnego na rozpraszanie, który jest mały dla atomów pierwiastków o niskich liczbach atomowych Z i wzrasta znacząco dla Z z IB. >