40
Równanie oscylatora dla tego przypadku ma postać
m*x + m*yx = — eS0e~icot, (4.5)
gdzie m* jest masą efektywną nośników, tłumienie ruchu y opisuje wszystkie procesy rozpraszania y = 1/t, t jest czasem relaksacji (średni czas między kolejnymi zderzeniami elektronu). Człon m*o>ox w równaniu (4.5) nie występuje, ponieważ dla elektronów swobodnych
co0 = 0. Rozwiązanie równania (4.5) ma postać | |
x = e<?oe-j“ł[m*(c02-H(uy)]-1. |
(4.6) |
Polaryzacja wyraża się jako | |
D xr -4nNe2 E0e~ical p = -Nex =-.--f——, m eir + icoy |
(4.7) |
gdzie N — koncentracja swobodnych elektronów. Ponieważ P — (e—1)£, dlatego | |
. . 4nNe2 1 «(co) = 1--;--j——. ni co* + icoy |
(4.8) |
Fala elektromagnetyczna oddziałuje w krysztale nie tylko ze swobodnymi elektronami, ale także z siecią oraz z elektronami walencyjnymi, co prowadzi do wystąpienia przejść międzypasmowych. Oddziaływania te uwzględnia się przyjmując, że prowadzą one do przenikalności elektrycznej stanowiącej tło dla procesów związanych ze swobodnymi elektronami. Zakłada się, że jest ona stała i wprowadza do wzoru (4.8) jako £ro zamiast 1.
Teraz wzór ten można zapisać w postaci
gdzie: coj =
47t Ne2
s(co)
CD
2 + icoyj'
(o2p
— częstość plazmowa.
(4.9)
(4.10)
Części rzeczywista i urojona mają następujące postaci:
fi^Ct)) = £
CDt
co2 + y2
£2(0>) =
£«^py co(tu2 + y2)'
(4.11)
(4.12)
Wkład swobodnych nośników do części rzeczywistej funkcji dielektrycznej jest ujemny, co jest związane z tym, że nośniki swobodne poruszają się w fazie przeciwnej do pola elektrycznego.
Można zauważyć, że £2(co) jest proporcjonalne do parametru tłumienia y, tak samo jest ze współczynnikiem absorpcji ot
(4.13)
(4.14)
(4.15)
nc(co2 + y2)
Dla małych częstości co « y otrzymamy
_ 4nNe2 K ncrrfy'
co możemy dalej zapisać jako
4na
a =-,
nc
gdzie
Ne2 1 <r = ——-m y
otrzymując znane wyrażenie na przewodnictwo elektryczne.
Zwykle parametr tłumienia y jest mały w porównaniu z częstością plazmową cop. Wtedy dla co » y otrzymujemy:
p _£=0 |
(4.16) | |
oraz |
, . C0£, £_ coiy 1 ,, a(co) = —- « ——* ~ A2. cn cn co2 |
(4.17) |
Okazuje się, |
że zależność | |
ot = AX2 4- p, |
(4.18) | |
gdzie |
e3N 1 ~ 47t2c3n <^) <m*>’ |
(4.19) |
można uzyskać uśredniając kwantowo-mechanicznie różne procesy absorpcji na swobodnych nośnikach «/i> i <m*> — średnia ruchliwość i masa efektywna).