58114 skanuj0627

4.6.4. Natężenie wiązek ugiętych

W przypadku dyfrakcji elektronów wprowadza się czynnik strukturalny analogiczny do stosowanych dla dyfrakcji promieni rentgenowskich i neutronów:

F_C(H) = v J F(r)expz'27tH • r

Jest to transformata Fouriera potencjału elektrycznego F(r) w komórce sieci krystalicznej. Można także napisać

^e(H) = 2 (/.)*expi27rH ■ T_k

k

W równaniu tym (/_e)_fc oznacza czynnik atomowy atomu k położonego na końcu wektora r_k. Wartości/_e są transformatami potencjałów wytworzonych przez każdy atom oddzielnie; /_e rozkłada się na sumę dwóch wyrazów:

Pierwszy wyraz jest potencjałem wytworzonym przez elektrony atomu i zmienia się wraz ze zmianą sin0/A w taki sposób, jak czynniki atomowe w przypadku dyfrakcji promieni rentgenowskich: drugi wyraz oznacza potencjał wytworzony przez jądro atomowe i jest stały, podobnie jak czynniki jądrowe w przypadku dyfrakcji neutronów.

Równanie na czynnik strukturalny można przekształcić i otrzymać wyrażenie

F(r) = — V F_e (H) exp —    ■ r

v V

Zależność między natężeniem wiązki ugiętej a czynnikiem strukturalnym jest znacznie bardziej skomplikowana niż w przypadku dyfrakcji promieni rentgenowskich. Duże natężenie wiązki ugiętej nie pozwala przyjąć przybliżenia teorii kinematycznej, przydatnego w przypadku promieni rentgenowskich. Konieczne jest odwołanie się do teorii dynamicznej (patrz s. 459) i wprowadzenie do obliczeń parametrów, ogólnie niedostępnych, opisujących stopień doskonałości kryształu. Utrudnia to poważnie wyznaczanie struktury kryształów metodą dyfrakcji elektronów.