255 (43)

255 (43)



- 255


Rozkład koncentracji nośników nadmiarowych

Rys. 5.15

Najbardziej dokładny obraz zjawisk zachodzących w tranzystorze; uwzględniono prąd zerowy kolektora Icbo


a w obwodzie bazy

Ib = IrB +IrF.B+I pE—IcBO

(5.11)

przy czym: IrB —prąd rekombinacji w bazie; IrBB — prąd rekombinacji w warstwie zaporowej złącza emiter-baza; IpE — prąd dyfuzji dziur z bazy do emitera. Uwzględniając zależności (5.10), (5.11) należy skorygować wzory na wzmocnienie dla prądu stałego:

Ic Icbo

«N = r 1E

(5.12)

A Ic~IcBO

Pff - / . /

IB>1CBO

(5.13)


Współczynniki wzmocnienia prądowego «, /? dla małych sygnałów pozostają bez zmian.

Rozkład koncentracji nośników nadmiarowych w bazie    5.4

Jest to bardzo ważny temat, który będzie służył za podstawę do wielu dalszych rozważań.

Interesuje nas rozkład koncentracji nośników w obszarze ograniczonym z jednej strony prawą krawędzią warstwy zaporowej złącza E-B, z drugiej zaś — lewą kratvędzią


Rys. 5.16

Ilustracja wyjaśniająca pojęcie szerokości efektywnej bazy Wb


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
257 (41) - 257Rozkład koncentracji nośników nadmiarowych Przypadek drugi (tylko dyfuzja) (5.22) (5.2
259 (37) - 259 Rozkład koncentracji nośników nadmiarowychy = % ma rozwiązanie ogólne (można je znale
2012 12 18 43 21 terem zieleni specjalnego przeznaczenia 145 Rys. 4-15. Droga szybkiego nichu
Img00176 180 Rys. 3.37-1. Zależność własności termoelektrycznych materiału od koncentracji nośników
24 (43) Rys. 15. Wymiana linki sprzęgła (dla jasności rysunku pokazani) tulejkę w przekroju) W celu
N — koncentracja nośników elektrony L * 10-6 ( głębokość warstwy Rys. 5.32 • - O w J wyrówna
zależy od rodzaju półprzewodnika i temperatury. Nośniki nadmiarowe zakłócają koncentrację
42288 skrypt144 147 Zmiany koncentracji nośników domieszkowanych powodują zmiany w konduktywności pó
skanuj0015 // ~77 1,91 1,<P6 Rys. 8.15. Wykres strukturalny skrzynki z
Rys. 15. Kleszcze Bertena [4, s.l 14] Pomocnicze: -    łyżeczki zębodołowe, -

więcej podobnych podstron